[發(fā)明專利]一種新型半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310699473.0 | 申請(qǐng)日： | 2013-12-19 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103698681A | 公開（公告）日： | 2014-04-02 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 趙丹;顏友鈞;鄭鈺 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人： | 江蘇瑞新科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào)： | G01R31/26 | 分類號(hào)： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 蘇州華博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32232 | 代理人： | 何蔚 |
| 地址： | 215123 江蘇*** | 國(guó)省代碼： | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說(shuō)明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 新型 半導(dǎo)體 類型 接觸 測(cè)試 裝置 | ||
1.?一種新型半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置，其特征在于，包括：傳感器，其輸入端與下述控制器連接，其輸出端與下述電荷放大器連接，用于激發(fā)半導(dǎo)體表面生成光生電荷并收集生成電荷信號(hào)傳送給電荷放大器；
電荷放大器，其輸出端與下述整形放大器連接，用于將接收的電荷信號(hào)進(jìn)行放大生成放大電荷信號(hào)傳送給整形放大器；
整形放大器，其輸出端與下述控制器連接，用于將接收的放大電荷信號(hào)進(jìn)行整形生成電平信號(hào)傳送給控制器；
控制器，其輸出端與所述傳感器輸入端、所述整形放大器輸出端連接，用于驅(qū)動(dòng)所述傳感器、以及接收所述電平信號(hào)判斷半導(dǎo)體的P、N類型。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的新型半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置，其特征在于，所述傳感器包括殼體、以及設(shè)置于所述殼體內(nèi)的紅外激發(fā)二極管和電荷感應(yīng)電極，所述紅外激發(fā)二極管輸入端與所述控制器輸出端連接，所述電荷感應(yīng)電極輸出端與所述電荷放大器輸入端連接。
3.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的新型半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置，其特征在于，還包括第一LED燈和第二LED燈，所述第一LED燈和第二LED燈分別與所述控制器輸出端連接。
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G01R 測(cè)量電變量；測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置；電故障的探測(cè)裝置；以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試，例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試；測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
