[發(fā)明專利]一種半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置無(wú)效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310699140.8 | 申請(qǐng)日: | 2013-12-19 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN103675549A | 公開(kāi)(公告)日: | 2014-03-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙丹;顏友鈞;鄭鈺 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇瑞新科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00 |
| 代理公司: | 蘇州華博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32232 | 代理人: | 何蔚 |
| 地址: | 215123 江蘇*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 半導(dǎo)體 類型 接觸 測(cè)試 裝置 | ||
1.?一種半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置,其特征在于,包括:紅外發(fā)射激勵(lì)脈沖驅(qū)動(dòng)電路,其輸出端與下述傳感器連接,用于給下述傳感器傳送激發(fā)脈沖;
傳感器,其輸出端與下述電荷放大器連接,用于激發(fā)半導(dǎo)體表面生成光生電荷并收集生成電荷信號(hào)傳送給電荷放大器;
電荷放大器,其輸出端與下述整形放大器連接,用于將接收的電荷信號(hào)進(jìn)行放大生成放大電荷信號(hào)傳送給整形放大器;
整形放大器,其輸出端與下述相位鉗位電路連接,用于將接收的放大電荷信號(hào)進(jìn)行整形生成電平信號(hào)傳送給相位鉗位電路;
相位鉗位電路,用于將接收的電平信號(hào)進(jìn)行鉗制以判斷半導(dǎo)體P、N類型。
2.?根據(jù)權(quán)利要求1所述的半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置,其特征在于,所述傳感器包括殼體、以及設(shè)置于所述殼體內(nèi)的紅外激發(fā)二極管和電荷感應(yīng)電極,所述紅外激發(fā)二極管輸入端與所述紅外發(fā)射激勵(lì)脈沖驅(qū)動(dòng)電路輸出端連接,所述電荷感應(yīng)電極輸出端與所述電荷放大器輸入端連接。
3.?根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置,其特征在于,還包括用于給所述紅外發(fā)射激勵(lì)脈沖驅(qū)動(dòng)電路提供矩形波的矩形波激勵(lì)信號(hào)電路,所述矩形波激勵(lì)信號(hào)電路輸出端與所述紅外發(fā)射激勵(lì)脈沖驅(qū)動(dòng)電路輸入端連接。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的半導(dǎo)體P、N類型非接觸測(cè)試裝置,其特征在于,還包括第一LED燈和第二LED燈,所述第一LED燈和第二LED燈分別與所述相位鉗位電路輸出端連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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