[發明專利]一種用離子遷移譜對分子印跡材料性能評價的新方法

在審

• 申請號: 201310691090.9
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN104713943A
• 公開（公告）日: 2015-06-17
• 發明（設計）人: 李海洋;梁茜茜;王新;周慶華;陳創;王禎鑫;溫萌
• 申請（專利權）人: 中國科學院大連化學物理研究所
• 主分類號: G01N27/64
• 分類號: G01N27/64
• 代理公司: 沈陽科苑專利商標代理有限公司 21002
• 代理人: 劉陽

1.一種用離子遷移譜對TNT爆炸物分子印跡材料性能評價的方法，其特征在于：通過離子遷移譜對爆炸物的高靈敏響應(sub-ppm)評測分子印跡材料在合成和清洗過程中模板分子的殘余量，同時用來評估分子印跡材料對目標分子的吸附性能和吸附選擇性。

2.按照權利要求1所述用離子遷移譜對TNT爆炸物分子印跡材料性能評價的方法，其特征在于：合成和清洗過程中模板分子的殘余量的測試：合成的TNT爆炸物分子印跡聚合物用離心過濾法收集，用體積比為7：3的甲醇-乙酸溶液徹夜洗滌12～16小時，然后用乙醇清洗4～5次，每次40～50min，離心后取上層清液，每次用規格為2μl的移液槍取樣2μl滴在采樣布前端，溶劑揮發時間為50s，待溶劑揮干后直接插入離子遷移譜熱解析進樣器，直至溶液中的TNT峰消失或者低于檢出限，可視為該印跡材料清洗干凈。

3.按照權利要求1所述用離子遷移譜對TNT爆炸物分子印跡材料性能評價的方法，其特征在于：吸附性能的檢測：用吸附率E對MIP的吸附進行表征，

E=c0-cic0×100%]]>

式中：c₀和c_i分別為吸附前后溶液的體積濃度，ppm_v，將校正峰值帶入標準曲線，可計算出溶液中TNT的濃度，進而計算吸附率。

4.按照權利要求3所述用離子遷移譜對TNT爆炸物分子印跡材料性能評價的方法，其特征在于：

吸附前的體積濃度是已知的配置的標準溶液濃度；

吸附后的濃度數據獲得是通過液相動態吸附，即將合成的聚合物加入體積比為9：1的甲醇-水溶劑中配成10mg·mL的懸浮液，并使固體分散，取0.1mL的懸浮液加入離心管中，取不同量的TNT標準溶液，分別配制為1mL濃度為0.1ppm，0.2ppm，0.5ppm，1ppm，2ppm的測試溶液，以甲醇-水(9：1)為溶劑，動態混合吸附40min，離心分離，取上層清液用離子遷移譜分析，將測定的峰高值對應其原溶液的標準曲線，從而獲得其濃度值，通過濃度值獲得吸附率。

5.按照權利要求3所述用離子遷移譜對TNT爆炸物分子印跡材料性能評價的方法，其特征在于：特異性吸附性能：對比和TNT爆炸物結構相似的物質，如硝基苯和黑索金，將MIP加入體積比為9：1的甲醇-水溶劑中配成10mg·mL的懸浮液，并使固體分散，取0.1mL的懸浮液加入離心管中，分別加入TNT和結構相似化合物的標準溶液，配制成1ml濃度均為1ppm的混合溶液，動態混合吸附40min，離心分離，取上層清液用離子遷移譜分析，獲得特異性吸附率。