[發(fā)明專利]同軸度測量裝置

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310684240.3
• 申請日: 2013-12-13
• 公開（公告）號: CN103712595A
• 公開（公告）日: 2014-04-09
• 發(fā)明（設計）人: 陳雄鷹;楊志成
• 申請（專利權）人: 北京聯合大學生物化學工程學院
• 主分類號: G01B21/24
• 分類號: G01B21/24;G01B7/312
• 代理公司: 北京北新智誠知識產權代理有限公司 11100
• 代理人: 趙郁軍

技術領域

本發(fā)明涉及一種測量裝置，特別是涉及一種同軸度測量裝置。

背景技術

同軸度測量裝置用于臺階軸、軸套、襯套等有同軸度要求的元件測量，對于機械領域的裝配元件精度起著至關重要的作用，其不僅關系到運送裝配物的效率高低，甚者關系到裝配物的運行安全、使用壽命等?，F有的同軸度測量裝置，按照測量原理大致分為以下幾種：

第一種是移動接觸式測量裝置，測量時要么需要轉動被測元件或測量裝置，要么需要移動卡尺距離，此類裝置的缺點是轉動、移動時，接觸點可能會磨損被測元件，既影響被測元件的精度也影響測量結果的準確性；第二種是利用V型塊和千分表構成可變形的測量機構，由于測量時需要把被測元件放在裝置上，因而測量體積較大的元件時會受到限制；第三種是利用光學原理測量，測量過程中需要反復調整裝置的基準點，費時費力。上述測量裝置都對測量基準點有很高的要求，且只能測量形狀規(guī)則的元件，而實際使用的裝配元件因其裝配位置千差萬別，所以形狀各異，體積大小不同，可見，現有的同軸度測量裝置已經無法滿足實際的使用需要。

發(fā)明內容

鑒于上述原因，本發(fā)明的目的在于提供一種同軸度測量裝置，通過三軸加速度傳感器測量兩被測元件的相對位置而獲得兩軸的同軸度，不僅無需移動被測元件或是測量裝置，對基準點也沒有嚴格的要求，且裝置結構簡單、使用方便，可實時顯示測量結果。

為實現上述目的，本發(fā)明采用以下技術方案：

同軸度測量裝置，包括：

殼體、兩組測量機構，每組測量機構包括至少三個三軸加速度傳感器，每組測量機構的各個三軸加速度傳感器通過可縮放式的固定架相固定；且，該固定架上固定的各個三軸加速度傳感器位于同一個平面內；

殼體內設有主控芯片、放大電路，各個三軸加速度傳感器的數據輸出端通過放大電路與主控芯片的數據輸入端相連接

進一步的，

所述兩組測量機構的各三軸加速度傳感器采集的位置信息經所述放大電路放大后，由所述主控芯片處理得到兩被測元件的同軸度。

所述固定架由可彎曲的鋼片制成，該鋼片上設有若干凸起，鋼片端部設有鎖扣，該鎖扣內側具有凸起而可與鋼片上的凸起相抵頂。

所述殼體上還設有液晶顯示屏、調節(jié)按鍵、開關按鍵，該液晶顯示屏的數據輸入端與所述主控芯片的數據輸出端相連接；各按鍵的輸出端分別與所述主控芯片的控制信號輸入端相連接。

所述殼體內還設有電源單元，該電源單元與所述主控芯片的電源輸入端相連接。

本發(fā)明的優(yōu)點在于：

本發(fā)明的同軸度測量裝置通過三軸加速度傳感器測量兩被測元件的相對位置而獲得兩軸的同軸度，不僅無需移動被測元件或是測量裝置，對基準點也沒有嚴格的要求，且裝置結構簡單、使用方便，可實時顯示測量結果。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的整體結構圖。

圖2A至2C是本發(fā)明的固定架的結構示意圖。

圖3是本發(fā)明一具體實施例的測量原理圖。

圖4是本發(fā)明一具體實施例中主控芯片的部分電路接線圖。

具體實施方式

以下結合附圖和實施例對本發(fā)明作進一步詳細的說明。

圖1是本發(fā)明的整體結構圖。如圖所示，本發(fā)明公開的同軸度測量裝置包括殼體1、兩組測量機構，每組測量機構包括至少三個三軸加速度傳感器21，每組測量機構的各個三軸加速度傳感器通過可縮放式的固定架22相固定；

殼體1內部設有主控芯片、放大電路、電源單元，殼體1上設有液晶顯示屏3、調節(jié)按鍵4及開關按鍵5等，各個三軸加速度傳感器21的數據輸出端通過放大電路與主控芯片的數據輸入端相連接，液晶顯示屏3的數據輸入端與主控芯片的數據輸出端相連接；各按鍵的輸出端分別與主控芯片的控制信號輸入端相連接；電源單元與主控芯片的電源輸入端相連接。

圖2A至2C是本發(fā)明的固定架的結構示意圖，如圖所示，固定架22由可彎曲的鋼片221制成，鋼片221上設有若干凸起222，鋼片端部設有鎖扣223，鎖扣223內側具有凸起而可與鋼片221上的凸起222相抵頂，通過鎖扣223與鋼片上不同位置的凸起222相抵頂可以收縮或放大鋼片所圍構面積的大小，進而可測量不同大小的被測元件；鋼片221上穿設有三軸加速度傳感器21，由于鋼片的特性可保證各個三軸加速度傳感器21位于同一個平面內。