[發明專利]一種離子雙向引入和傳輸的四極桿質量分析裝置有效
| 申請號： | 201310665181.5 | 申請日： | 2013-12-10 |
| 公開（公告）號： | CN103681208A | 公開（公告）日： | 2014-03-26 |
| 發明（設計）人： | 聶宗秀;侯劍;熊彩僑;張寧;何清 | 申請（專利權）人： | 中國科學院化學研究所 |
| 主分類號： | H01J49/42 | 分類號： | H01J49/42 |
| 代理公司： | 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245 | 代理人： | 關暢;王春霞 |
| 地址： | 100190 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 離子 雙向 引入 傳輸 四極桿 質量 分析 裝置 | ||
1.一種離子雙向引入和傳輸的四極桿質量分析裝置，其特征在于：
所述四極桿質量分析器包括2個離子偏轉裝置和一四極桿質量分析器；
所述離子偏轉裝置設于所述四級桿質量分析器軸向的兩端；且所述離子偏轉裝置設于與所述四極桿質量分析器的軸向相垂直的平面內；
所述離子偏轉裝置的兩端設有離子源真空接口。
2.根據權利要求1所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述離子偏轉裝置包括4根電極，4根所述電極呈矩形排列，且沿對角線設置的2個所述電極分別與同一直流電源相連接。
3.根據權利要求2所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述電極與所述四極桿質量分析器的軸向垂直設置。
4.根據權利要求1-3中任一項所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述離子源真空接口為設于一錐形體上的通孔。
5.根據權利要求1-4中任一項所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述離子源真空接口與所述離子偏轉裝置之間設有離子透鏡；
所述離子偏轉裝置與所述四級桿質量分析器之間設有離子透鏡。
6.根據權利要求1-5中任一項所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述四極桿質量器的電極為雙曲面電極或圓柱型電極。
7.根據權利要求1-6中任一項所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述離子偏轉裝置的出口端連接有檢測器；
所述檢測器為光電倍增管、微通道板或法拉第杯。
8.根據權利要求1-6中任一項所述的四極桿質量分析裝置，其特征在于：所述離子偏轉裝置的出口端連接有離子接收裝置；
所述離子接收裝置設于三維移動平臺上。
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