[發(fā)明專利]一種硬盤檢驗(yàn)方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310650868.1 | 申請日： | 2013-12-08 |
| 公開（公告）號： | CN103631686A | 公開（公告）日： | 2014-03-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 侯豐花 | 申請（專利權(quán)）人： | 侯豐花 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 暫無信息 | 代理人： | 暫無信息 |
| 地址： | 110164 遼寧省沈陽*** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 硬盤 檢驗(yàn) 方法 | ||
【說明書】：
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明屬于計(jì)算機(jī)技術(shù)領(lǐng)域，特別涉及一種硬盤檢驗(yàn)方法。
背景技術(shù)：
目前，大多數(shù)檢測方法復(fù)雜，多停留在理論階段。
發(fā)明內(nèi)容：
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種硬盤檢測方法。
包括如下步驟：
步驟1、對硬盤所有扇面內(nèi)的存儲單元全部寫入“1”；
步驟2、將讀取值與預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較；
步驟3??如果不同，則對比是哪一位不同，得到磁盤壞道地址；
步驟4、判斷檢測結(jié)果。
本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)：簡單，方便，可操作性高，便于計(jì)算機(jī)編程。?
具體實(shí)施方式：
本發(fā)明針對現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種硬盤檢測方法。
包括如下步驟：
步驟1、對硬盤所有扇面內(nèi)的存儲單元全部寫入“1”；
步驟2、將讀取值與預(yù)設(shè)值進(jìn)行比較；
步驟3??如果不同，則對比是哪一位不同，得到磁盤壞道地址；
步驟4、判斷檢測結(jié)果。
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