[發(fā)明專利]模體及多射線源X射線設(shè)備的對中校正方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310631305.8
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN104665853B
• 公開（公告）日: 2019-01-15
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 馮娟;崔凱;馬艷歌
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司
• 主分類號: A61B6/00
• 分類號: A61B6/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

模體及多射線源X射線設(shè)備對中校正方法。所述模體包括本體、一第一對中體和若干沿所述本體表面布置的第二對中體，所述第二對中體與所述第一對中體位于同一平面，所述第一對中體與每個所述第二對中體之間的距離相等。本發(fā)明技術(shù)方案的模體在本體的內(nèi)部設(shè)置一個第一對中體，在本體的表面設(shè)置多個對應(yīng)于射線源的第二對中體，在對多個射線源進(jìn)行對中校正時，觀察第一對中體和第二對中體在由探測器獲得的灰度圖像中的成像區(qū)域是否重合即可判斷上述多個射線源是否對中，滿足了多射線源X射線設(shè)備對中校正的目的。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及醫(yī)療設(shè)備領(lǐng)域，特別涉及一種模體及多射線源X射線設(shè)備的對中校正方法。

背景技術(shù)

數(shù)字化X射線攝影(Digital Radiography，DR)設(shè)備作為一種圖像分辨率高、成像速度快、后處理功能強大、輻射劑量低的醫(yī)療設(shè)備，廣泛應(yīng)用于醫(yī)學(xué)診斷和治療領(lǐng)域。在利用X射線穿透人體或受檢對象時，由于人體或受檢對象各組織，例如肌肉、骨骼等的密度不同，因此對X射線的吸收也不同。穿透人體或受檢對象的X射線照射在探測器后便形成反應(yīng)人體或受檢對象內(nèi)部組織結(jié)構(gòu)的圖像，醫(yī)生可以根據(jù)上述圖像診斷疾病的性質(zhì)。

目前醫(yī)院中應(yīng)用的典型X射線攝影設(shè)備的球管是采用一種“熱”真空管驅(qū)動的，在這種“熱”真空管內(nèi)，一個類似于白熾燈泡中的鎢金屬絲被加熱到1000攝氏度，并釋放出電子，加速的電子打倒陽極靶上，從而產(chǎn)生X射線。由于撞擊會產(chǎn)生大量熱，故陽極靶需要水冷。由于這種熱光源是單一光源，因此，對上述熱光源進(jìn)行對中校正的模體也是針對單一光源設(shè)計的。

隨著X射線源技術(shù)的發(fā)展，目前已經(jīng)開發(fā)出了一種冷光源。這種冷光源以碳納米管取代了鎢絲。當(dāng)有電壓時，碳納米管的尖端瞬時發(fā)出電子。碳納米管的特征之一是可瞬間開啟或關(guān)閉。應(yīng)用多個碳納米管序列組成的X射線源即為多射線源X射線球管。

現(xiàn)有的針對單一光源的對中校正設(shè)計的模體無法對上述多射線源的X射線球管進(jìn)行對中校正。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明所要解決的是現(xiàn)有針對單一光源對中校正設(shè)計的模體無法對多射線源的X射線球管進(jìn)行對中校正的問題。

為解決上述問題，本發(fā)明技術(shù)方案提供一種模體，包括本體、一第一對中體和若干沿所述本體表面布置的第二對中體，所述第二對中體與所述第一對中體位于同一平面，所述第一對中體與每個所述第二對中體之間的距離相等。

可選地，所述本體為半圓柱體，半圓柱體的側(cè)面設(shè)有若干用于固定所述第二對中體的卡位，所述第二對中體布置于第一側(cè)邊，所述第一側(cè)邊是指與半圓柱體底面平行的截面和半圓柱體側(cè)面相交的曲線，所述第一對中體位于所述卡位對應(yīng)半圓的圓心。

可選地，所述卡位在所述第一側(cè)邊上以所述第一對中體為圓心間隔一預(yù)設(shè)角度布置。

可選地，所述預(yù)設(shè)角度大于或等于1°且小于或等于5°。

可選地，所述本體的半徑大于或等于60mm且小于或等于150mm。

可選地，所述本體由均質(zhì)材料制成。

可選地，所述本體的材料為聚甲基丙烯酸甲酯。

可選地，對于波長相同的射線，所述第一對中體的衰減系數(shù)大于或等于鐵的衰減系數(shù)。

可選地，對于波長相同的射線，所述第二對中體的衰減系數(shù)大于或等于鐵的衰減系數(shù)。

可選地，所述第一對中體的衰減系數(shù)與所述第二對中體的衰減系數(shù)相同。

可選地，所述模體還包括一連接于所述本體的基座。

相應(yīng)地，本發(fā)明還提供一種多射線源X射線設(shè)備的對中校正方法，所述方法包括：將上述模體放置于所述多射線源X射線設(shè)備的X射線源與探測器之間；獲取所述模體的灰度圖像；評估所述灰度圖像以確定是否校正所述多射線源X射線設(shè)備的X射線源。