[發明專利]一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置

有效

• 申請號: 201310631291.X
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN103673857A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 王亞榆;譚永帥;林克軍
• 申請（專利權）人: 福建省石獅市通達電器有限公司
• 主分類號: G01B7/02
• 分類號: G01B7/02
• 代理公司: 泉州市文華專利代理有限公司 35205
• 代理人: 車世偉

1.一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：包括對工件進行校正定位的校正定位機構，和直接檢驗工件凸起的高度的檢驗機構；所述校正定位機構包括抵頂于工件上凸起所在的正面的基準板，壓緊于工件背面的壓緊板，和驅動壓緊板對工件進行壓緊的驅動裝置；所述檢驗機構包括檢驗觸動部，和電路及狀態標示部；所述檢驗觸動部包括檢驗端對應抵頂于工件凸起端部的運動芯子，上限導電觸頭，和下限導電觸頭；所述運動芯子的非檢驗端配設有抵頂彈簧；所述運動芯子具有與所述上限導電觸頭相對應的上限觸頭，和與所述下限導電觸頭相對應的下限觸頭；所述電路及狀態標示部包括由所述上限導電觸頭和上限觸頭觸發的上限導電回路，及由所述下限導電觸頭和下限觸頭觸發的下限導電回路；所述上限導電回路中串聯有標示工件凸起高度超出上限的上限狀態標示裝置，所述下限導電回路中串聯有標示工件凸起高度超出下限的下限狀態標示裝置。

2.根據權利要求1所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述運動芯子豎向設置，檢驗端朝上，非檢驗端朝下，兩端之間形成有凸塊，此凸塊的上邊緣作為上述下限觸頭，下邊緣作為上述上限觸頭；上述下限導電觸頭設于所述下限觸頭的上方，上述上限導電觸頭設于所述上限觸頭的下方；且所述凸塊的上邊緣至所述下限導電觸頭的距離與下邊緣至所述上限導電觸頭的距離之和為工件凸起高度的公差。

3.根據權利要求2所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述上限導電觸頭包括兩個相離的上限觸點導電塊，作為上述上限導電回路的開關觸點，上述上限觸頭對應兩所述上限觸點導電塊的間隙設置，作為兩所述上限觸點導電塊的觸發開關；上述下限導電觸頭包括兩個相離的下限觸點導電塊，作為上述下限導電回路的開關觸點，上述下限觸頭對應兩所述下限觸點導電塊的間隙設置，作為兩所述下限觸點導電塊的觸發開關。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：多個上述檢驗觸動部與工件的多個凸起一一對應設置。

5.根據權利要求4所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述驅動裝置的伸縮驅動桿的端部設有與上述壓緊板相平行的頂板，所述頂板與所述壓緊板之間平衡張設有多個壓緊彈簧。

6.根據權利要求5所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述頂板向下設有導向桿，上述壓緊板滑動套設于所述導向桿上。

7.根據權利要求6所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述導向桿為螺桿頭朝下，上端具有外螺紋并與上述頂板螺接的螺桿，多個所述螺桿均布于所述頂板上；上述壓緊板通過套孔匹配滑動套設于所述螺桿頭上方，且所述套孔的下端口形成有完全容置所述螺桿頭的凹槽。

8.根據權利要求7所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述運動芯子呈方柱狀，上述檢驗觸動部包括水平設置的導向板，所述導向板形成有供各上述運動芯子一一對應匹配穿過的導向孔。

9.根據權利要求8所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述基準板形成有多個一一匹配容置工件的多個凸起的透孔；上述運動芯子的檢驗端設有由所述透孔的下端向上伸入與工件的凸起的端部相抵頂接觸的端頭。

10.根據權利要求9所述的一種檢驗工件的凸起高度的新型檢驗裝置，其特征在于：上述驅動裝置配設有驅動支架；上述檢驗觸動部配設有殼體；所述驅動支架包括與上述基準板連接在一起的底板、分設于工件兩側并與底板連接在一起的豎向支板，和水平橫設于兩豎向支板上的橫板，所述底板形成有對應容置所述基準板的容置通口；所述驅動裝置設于所述橫板上方，上述伸縮驅動桿由上至下貫穿所述橫板與上述頂板連接，所述頂板向上設有多個驅動導向桿，所述橫板形成有供多個所述驅動導向桿一一匹配穿過的驅動導向孔；所述殼體包括上壁、底壁和側壁；所述上壁設于所述底板和上述導向板之間，并形成有供上述運動芯子穿過的通孔；所述底壁設于上述檢驗觸動部下方，上述抵頂彈簧的下端抵頂于所述底壁的上表面；所述側壁圍設于所述上壁和底壁之間；上述電路及狀態標示部配設有外殼，與所述側壁連接。