[發明專利]半導體裝置

有效

• 申請號: 201310628016.2
• 申請日: 2013-11-29
• 公開（公告）號: CN103852713B
• 公開（公告）日: 2017-11-17
• 發明（設計）人: 伊藤一幸;城田博史
• 申請（專利權）人: 瑞薩電子株式會社
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 中國國際貿易促進委員會專利商標事務所11038
• 代理人: 歐陽帆

相關申請的交叉引用

將2012年11月30日提交的日本專利申請No.2012-262826的公開內容（包括說明書、附圖以及摘要）通過引用全部并入在本申請中。

技術領域

本發明涉及半導體裝置，特別地，涉及具有檢測由例如由于溫度上升導致的信號延遲所引起的故障風險的功能的半導體裝置。

背景技術

有時候，在半導體裝置內的電路中可能出現任何故障，引起電源和地之間的低電阻的短路。結果，溫度上升，引起內部電路中的信號傳送的延遲。

為了檢測這種信號延遲，在例如專利文獻1（日本公開的未經審查的專利申請No.2008-256491）中描述的信號延遲檢測電路包括一個或更多個延遲檢測單元，每個延遲檢測單元具有至少一個信號傳播延遲電路（1）以及異或電路（exclusive OR circuit）（C），該異或電路接收從信號傳播延遲電路（1）輸出的信號（B）和經過從信號傳播延遲電路（1）的輸入段分岔出來的信號傳送路徑的信號C并且輸出信號。使用從異或電路（C）輸出的數字信號，確定信號傳播延遲電路（1）是否表現異常。

[現有技術文獻]

[專利文獻]

[專利文獻1]日本公開的未經審查的專利申請No.2008-256491

發明內容

然而，在專利文獻1中，存在如下的問題，即如果作為信號延遲檢測電路的組件的異或電路（C）本身未能正確地操作，則不能準確地檢測信號延遲。

此外，在專利文獻1中，沒有公開用于檢測兩個觸發器之間的信號延遲的配置。

根據在本說明書中的以下描述和附圖，其它問題和新穎的特征將變得清晰。

根據本發明的一個實施例，一種故障預先檢測電路包括：延遲元件，用于使與設置在第一觸發器的后續級中的第二觸發器的數據輸入端子并行輸入的輸入數據延遲；第三觸發器，用于接收延遲元件的輸出；以及比較器，用于將第二觸發器的輸出與第三觸發器的輸出進行比較。在用于測試所述故障預先檢測電路的操作的操作測試模式中，第一測試數據和第二測試數據被輸入到所述故障預先檢測電路，并且第二測試數據被輸入到延遲元件。在所述操作測試模式中比較器將第一測試數據和第三觸發器的輸出進行比較。

根據本發明的一個實施例，可以檢測用于檢測信號延遲的電路本身的失效，因此，可以準確地檢測由過熱等引起的信號延遲。

附圖說明

圖1是描繪第一實施例的微型計算機的一部分的配置的圖。

圖2是用于說明通常操作模式中的正常操作的圖。

圖3是用于說明在通常操作模式中預先檢測到故障時的操作的圖。

圖4是描繪第一實施例的微型計算機的配置的圖。

圖5是表示由微型計算機1執行的故障預先檢測過程的流程圖。

圖6是表示圖5中的步驟S202中的用于檢測故障預先檢測電路本身的失效的過程的流程圖。

圖7是用于說明在測試操作模式中確定故障預先檢測電路是否失效的方式的圖。

圖8是用于說明在測試操作模式中確定故障預先檢測電路是否失效的方式的圖。

圖9是用于說明在測試操作模式中確定故障預先檢測電路是否失效的方式的圖。

圖10是用于說明在測試操作模式中確定故障預先檢測電路是否失效的方式的圖。

圖11是描繪第二實施例的微型計算機的一部分的配置的圖。

圖12是用于說明通常操作模式中的正常操作的圖。

圖13是用于說明在通常操作模式中預先檢測到故障時的操作的示例的圖。

圖14是用于說明在通常操作模式中預先檢測到故障時的操作的另一個示例的圖。

圖15是用于說明在通常操作模式中預先檢測到故障時的操作的又一個示例的圖。

圖16是描繪第三實施例的微型計算機的配置的圖。

圖17是描繪第四實施例的微型計算機的配置的圖。

具體實施方式

在下文中，將通過附圖描述本發明的實施例。

第一實施例

圖1是描繪第一實施例的微型計算機的一部分的配置的圖。

參考圖1，微型計算機具有用作功能電路的觸發器FF0、邏輯電路11、觸發器FF1、以及觸發器FF2。