[發(fā)明專利]LED測(cè)試方法及系統(tǒng)在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310624312.5 | 申請(qǐng)日: | 2013-11-30 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN104678271A | 公開(kāi)(公告)日: | 2015-06-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 譚筆徽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 鴻富錦精密工業(yè)(深圳)有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26 |
| 代理公司: | 無(wú) | 代理人: | 無(wú) |
| 地址: | 518109 廣東省深圳市*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | led 測(cè)試 方法 系統(tǒng) | ||
1.一種LED測(cè)試方法,包括以下步驟:
連接一測(cè)試裝置與一待測(cè)LED;
連接一感應(yīng)器至所述測(cè)試裝置上;
吸附所述感應(yīng)器的一探測(cè)頭至所述待測(cè)LED上;
感應(yīng)所述待測(cè)LED的狀態(tài);
根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)來(lái)分析所述待測(cè)LED是否正常。
2.如權(quán)利要求1所述的LED測(cè)試方法,其特征在于:所述測(cè)試裝置與所述待測(cè)LED通過(guò)一連接器連接。
3.如權(quán)利要求1所述的LED測(cè)試方法,其特征在于:所述感應(yīng)器為一光敏感應(yīng)器。
4.如權(quán)利要求1所述的LED測(cè)試方法,其特征在于:在步驟根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)來(lái)分析所述待測(cè)LED是否正常之后,還包括步驟:根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)為閃爍時(shí)記錄待測(cè)LED閃爍的次數(shù),并在記錄到的待測(cè)LED閃爍的次數(shù)超過(guò)一預(yù)設(shè)閃爍次數(shù)值時(shí)分析出所述待測(cè)LED不正常。
5.如權(quán)利要求4所述的LED測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:步驟根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)來(lái)分析所述待測(cè)LED是否正常之后,還包括步驟:根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)為常亮?xí)r分析出所述待測(cè)LED正常,并在所述待測(cè)LED正常時(shí)記錄所述待測(cè)LED的波長(zhǎng)信息。
6.一種LED測(cè)試系統(tǒng),包括:
一測(cè)試裝置與一待測(cè)LED連接;
一感應(yīng)器與所述測(cè)試裝置連接;
所述感應(yīng)器的一探測(cè)頭吸附至所述待測(cè)LED上;所述感應(yīng)器感應(yīng)所述待測(cè)LED的狀態(tài);
所述測(cè)試裝置中的一分析模組根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)來(lái)分析所述待測(cè)LED是否正常。
7.如權(quán)利要求6所述的LED測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述測(cè)試裝置與所述待測(cè)LED通過(guò)一連接器連接。
8.如權(quán)利要求6所述的LED測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述感應(yīng)器為一光敏感應(yīng)器。
9.如權(quán)利要求6所述的LED測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述測(cè)試裝置中的一記錄模組根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)為閃爍時(shí)記錄待測(cè)LED閃爍的次數(shù),所述分析模組在所述記錄模組記錄到的待測(cè)LED閃爍的次數(shù)超過(guò)一預(yù)設(shè)閃爍次數(shù)值時(shí)分析出所述待測(cè)LED不正常。
10.如權(quán)利要求9所述的LED測(cè)試系統(tǒng),其特征在于:所述分析模組根據(jù)所述感應(yīng)器感應(yīng)到的待測(cè)LED的狀態(tài)為常亮?xí)r分析出所述待測(cè)LED正常,所述記錄模組在所述分析模組分析出所述待測(cè)LED正常時(shí)記錄所述待測(cè)LED的波長(zhǎng)信息。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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