[發(fā)明專利]一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310614026.0
• 申請日: 2013-11-26
• 公開（公告）號: CN103630912A
• 公開（公告）日: 2014-03-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 翟昆朋;何文濤;藺曉龍;王浩;胡曉峰;殷明
• 申請（專利權(quán)）人: 中國科學(xué)院嘉興微電子與系統(tǒng)工程中心
• 主分類號: G01S19/23
• 分類號: G01S19/23
• 代理公司: 上海旭誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31220
• 代理人: 鄭立

1.一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟（101）計算TDCP預(yù)測殘差向量；

步驟（102）計算TDCP預(yù)測殘差的穩(wěn)健統(tǒng)計量：根據(jù)所述TDCP預(yù)測殘差向量，利用穩(wěn)健統(tǒng)計的方法，剔除奇異測量值，構(gòu)建TDCP靜止檢測穩(wěn)健統(tǒng)計量；

步驟（103），靜止狀態(tài)檢測：將所述TDCP靜止檢測穩(wěn)健統(tǒng)計量的幅度與預(yù)設(shè)的閾值進行對比來判斷所述衛(wèi)星接收機處于靜止狀態(tài)。

2.如權(quán)利要求1所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，所述步驟（101）計算TDCP預(yù)測殘差包括

首先，計算采樣時刻的所有有效衛(wèi)星的TDCP預(yù)測值其中，k是采樣時刻，i是衛(wèi)星的編號；

然后，計算每一個衛(wèi)星的TDCP的預(yù)測殘差

最后，將所有有效衛(wèi)星的所述TDCP預(yù)測殘差組成所述TDCP預(yù)測殘差向量measTDCP_k。

3.如權(quán)利要求2所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，采樣時刻k的第i個衛(wèi)星的所述TDCP的預(yù)測值為其中，df是晶振頻偏；c是光速，T_s是采樣間隔時間，是在k采樣時刻下第i個衛(wèi)星與所述衛(wèi)星接收機之間的距離。

4.如權(quán)利要求2所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，第i個衛(wèi)星的所述TDCP預(yù)測殘差是resiTDCPki=measTDCPki-predTDCPki;]]>其中，是第i個衛(wèi)星的TDCP的實際測量值。

5.如權(quán)利要求1所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，所述步驟（102）計算TDCP預(yù)測殘差的穩(wěn)健統(tǒng)計量包括：

首先，對所述TDCP預(yù)測殘差向量進行統(tǒng)計處理；

其次，初始化穩(wěn)健統(tǒng)計量robustindex和有效計數(shù)cnt為0；

然后，對統(tǒng)計處理后的所述TDCP預(yù)測殘差向量中的每一個值與臨時變量進行比較，剔除奇異測量值，獲得有效測量值，并將有效測量值存入所述穩(wěn)健統(tǒng)計量robustindex，有效測量值的數(shù)量存入所述有效計數(shù)cnt中；

最后，對所述穩(wěn)健統(tǒng)計量求均值：robustindex=robustindex/cnt，得到最終的所述TDCP預(yù)測殘差穩(wěn)健統(tǒng)計量。

6.如權(quán)利要求5所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，所述步驟（103）靜止狀態(tài)檢測包括：

首先，將所述TDCP預(yù)測殘差穩(wěn)健統(tǒng)計量中的每一個值與靜止判定閾值進行判定，小于靜止判定閾值則判定為靜止；

然后對通過靜止判定的數(shù)量進行靜止計數(shù)；

最后當靜止計數(shù)大于預(yù)先設(shè)置的靜止計數(shù)閾值時，判定所述接收機處于靜止狀態(tài)。

7.如權(quán)利要求6所述的一種衛(wèi)星接收機靜止的檢測方法，其中，所述靜止計數(shù)閾值設(shè)置為1～2。