[發(fā)明專利]一種電子設(shè)備及其工作狀態(tài)的控制方法、控制單元有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310603565.4 | 申請日： | 2013-11-25 |
| 公開（公告）號： | CN104657971B | 公開（公告）日： | 2018-10-12 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 胡先偉 | 申請（專利權(quán)）人： | 聯(lián)想（北京）有限公司 |
| 主分類號： | G06T7/62 | 分類號： | G06T7/62;H04N5/74 |
| 代理公司： | 北京派特恩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11270 | 代理人： | 蔣雅潔;張振偉 |
| 地址： | 100085*** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 電子設(shè)備 及其 工作 狀態(tài) 控制 方法 單元 | ||
1.一種電子設(shè)備工作狀態(tài)的控制方法，應(yīng)用于電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括第一投影單元、第二投影單元和圖像采集單元，所述第一投影單元用于向投影平面投射第一圖像，且所述第一投影單元處于第一工作狀態(tài)，所述第二投影單元用于向所述投影平面投射第二圖像，所述圖像采集單元用于采集所述投影平面上的圖像；
所述方法包括：
獲取所述圖像采集單元從所述投影平面采集到的第一圖像和/或第二圖像；
對獲取的所述第一圖像和/或第二圖像進行特征分析，得到對應(yīng)所述第一圖像的第一特征描述信息和/或?qū)?yīng)所述第二圖像的第二特征描述信息；
根據(jù)所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查詢數(shù)據(jù)庫，將所述第一特征描述信息與所述數(shù)據(jù)庫中保存的對應(yīng)第一特征比對信息進行比較、和/或?qū)⑺龅诙卣髅枋鲂畔⑴c所述數(shù)據(jù)庫中保存的對應(yīng)第二特征比對信息進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果控制所述第一投影單元從所述第一工作狀態(tài)調(diào)整到第二工作狀態(tài)；
其中，所述第一特征描述信息為第一圖像的灰度值和/或第一圖像的光斑面積，所述第一特征比對信息為灰度和/或光斑面積的比對值；
所述第二特征描述信息為所述第二圖像的面積大小，所述第二特征比對信息為面積比對值。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述電子設(shè)備工作狀態(tài)的控制方法，其特征在于，所述根據(jù)比較結(jié)果控制所述第一投影單元從所述第一工作狀態(tài)調(diào)整到第二工作狀態(tài)，包括：
根據(jù)所述第一特征描述信息與所述第一特征比對信息之間的差值、和/或第二特征描述信息與所述第二特征比對信息之間的差值，查詢所述數(shù)據(jù)庫中預(yù)存的狀態(tài)調(diào)整策略得到相應(yīng)的狀態(tài)調(diào)整值，并根據(jù)所述狀態(tài)調(diào)整值控制所述第一投影單元從所述第一工作狀態(tài)調(diào)整到第二工作狀態(tài)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述電子設(shè)備工作狀態(tài)的控制方法，其特征在于，對獲取的所述第一圖像進行特征分析，得到對應(yīng)所述第一圖像的第一特征描述信息，包括：
提取所述第一圖像中的至少一個特征區(qū)域，并對所提取的特征區(qū)域進行特征分析得到相應(yīng)的區(qū)域特征描述信息；
將與所述至少一個特征區(qū)域相應(yīng)的所述區(qū)域特征描述信息進行匯總分析得到所述第一圖像的第一特征描述信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述工作狀態(tài)的控制方法，其特征在于，在所述第一投影單元處于第一工作狀態(tài)之前，所述方法還包括：
獲取所述電子設(shè)備在不同環(huán)境下分別處于所述第一投影單元和/或第二投影單元的最佳工作狀態(tài)時，所述圖像采集單元從所述投影平面采集到的第一圖像和/或第二圖像；對處于最佳工作狀態(tài)下采集到的第一圖像和/或第二圖像進行特征分析，得到相應(yīng)的第一特征比對信息和/或第二特征比對信息存入所述數(shù)據(jù)庫中；生成所述第一投影單元的狀態(tài)調(diào)整策略并存入所述數(shù)據(jù)庫中。
5.一種電子設(shè)備，其特征在于，所述電子設(shè)備包括第一投影單元、第二投影單元和圖像采集單元，所述第一投影單元用于向投影平面投射第一圖像，且所述第一投影單元處于第一工作狀態(tài)，所述第二投影單元用于向所述投影平面投射第二圖像，所述圖像采集單元用于采集所述投影平面上的圖像；
所述電子設(shè)備還包括：控制單元，用于獲取所述圖像采集單元從所述投影平面采集到的第一圖像和/或第二圖像；對獲取的所述第一圖像和/或第二圖像進行特征分析，得到對應(yīng)所述第一圖像的第一特征描述信息和/或?qū)?yīng)所述第二圖像的第二特征描述信息；根據(jù)所述第一特征描述信息和/或第二特征描述信息查詢數(shù)據(jù)庫，將所述第一特征描述信息與所述數(shù)據(jù)庫中保存的對應(yīng)第一特征比對信息進行比較、和/或?qū)⑺龅诙卣髅枋鲂畔⑴c所述數(shù)據(jù)庫中保存的對應(yīng)第二特征比對信息進行比較，并根據(jù)比較結(jié)果控制所述第一投影單元從所述第一工作狀態(tài)調(diào)整到第二工作狀態(tài)；
其中，所述第一特征描述信息為第一圖像的灰度值和/或第一圖像的光斑面積，所述第一特征比對信息為灰度和/或光斑面積的比對值；
所述第二特征描述信息為所述第二圖像的面積大小，所述第二特征比對信息為面積比對值。
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