[發明專利]一種金屬膜盒的有效面積測量系統

有效

• 申請號: 201310596448.X
• 申請日: 2013-11-22
• 公開（公告）號: CN103644868A
• 公開（公告）日: 2014-03-19
• 發明（設計）人: 張蘇力;余鋒;曹文利;張連萬;石峰;王道連;趙濤
• 申請（專利權）人: 北京宇航系統工程研究所;中國運載火箭技術研究院
• 主分類號: G01B13/20
• 分類號: G01B13/20
• 代理公司: 中國航天科技專利中心 11009
• 代理人: 安麗

1.一種金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，包括：氣源（1）、自動配氣臺（2）、壓強傳感器（5）、固定座、頂桿（9）和力傳感器（10）、數據采集裝置（11）、以及工控機（12），其中，

所述氣源（1）、自動配氣臺（2）、壓強傳感器（5）以及固定座通過連接管路順次連通，其中，連通所述壓強傳感器（5）與所述固定座的連接管路為第一管路（15）；

金屬膜盒（8）密封安裝在所述固定座上，并且所述金屬膜盒（8）的內腔通過所述固定座連通至所述第一管路（15）；

所述頂桿（9）設置在所述金屬膜盒（8）的頂面上，一端與所述金屬膜盒（8）的頂面形成面接觸，另一端連接至所述力傳感器（10）；

所述數據采集裝置（11）連接至所述壓強傳感器（5）和所述力傳感器（10），以分別采集來自所述壓強傳感器（5）的壓強反饋值和來自所述力傳感器（10）的壓力反饋值；

所述工控機（12）分別與所述數據采集裝置（11）和所述自動配氣臺（2）連接，以控制所述自動配氣臺（2）的配氣動作；并接收來自所述數據采集裝置（11）的壓強反饋值和壓力反饋值，根據所述壓強反饋值和壓力反饋值計算所述金屬膜盒（8）的有效面積，根據計算得到的有效面積生成數據曲線，并保存所述數據曲線。

2.根據權利要求1所述的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述固定座包括固定底座（6）和環形壓盤（7），其中，

所述固定底座（6）包括圓柱部（61）和位于所述圓柱部（61）一端的凸緣部（62），所述凸緣部（62）自所述圓柱部（61）的外圓周沿所述固定底座（6）的徑向向外突出、并與所述圓柱部（61）一體形成，所述金屬膜盒（8）安裝在所述圓柱部（61）的另一端上；所述圓柱部（61）的面向所述金屬膜盒（8）的頂面上形成有沿所述固定底座（6）的徑向自內向外布置且彼此間隔的第一凹入部（63）和環形凹槽（64），其中，所述第一凹入部（63）與所述金屬膜盒（8）的內腔連通，所述環形凹槽（64）中設置有O形密封圈（13），用來密封所述金屬膜盒（8）的底面與所述圓柱部（61）的頂面；所述凸緣部（62）的遠離所述圓柱部（61）的底面形成有第二凹入部（65），所述第二凹入部（65）內沿所述固定底座（6）的軸向向外突出一連接部（66），所述連接部（66）內部貫穿形成有連通所述第一凹入部（63）與所述第一管路（15）的連接腔（67）；并且

所述環形壓盤（7）套設于所述金屬膜盒（8）并壓設在所述金屬膜盒（8）的突出部（81）上，并通過螺釘（14）固定連接至所述圓柱部（61）的頂面，使得所述金屬膜盒（8）被固定地夾持在所述環形壓盤（7）與所述固定底座（6）之間。

3.根據權利要求2所述的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述圓柱部（61）的頂面上還形成有第三凹入部（68），所述環形凹槽（64）和所述第三凹入部（68）沿所述固定底座（6）的徑向自內向外順序布置，并且所述金屬膜盒（8）的突出部（81）安裝在所述第三凹入部（68）中。

4.根據權利要求1所述的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述頂桿（9）包括圓柱形的桿部（91）和接觸部（92），其中，所述接觸部（92）位于所述桿部（91）的一端，用于與所述金屬膜盒（8）的頂面形成面接觸，并且所述接觸部（92）的直徑比所述桿部（91）的大；所述桿部（91）的另一端連接至所述力傳感器（10）。

5.根據權利要求1所述的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述工控機（12）通過預先設定的供氣壓力值來控制所述自動配氣臺（2）的配氣動作；并且在所述工控機（12）接收到來自所述數據采集裝置（11）的壓強反饋值和壓力反饋值時，根據公式P=F/S來計算所述金屬膜盒（8）的有效面積，其中，P表示所述數據采集裝置（11）采集到的壓強反饋值，F表示所述數據采集裝置（11）采集到的壓力反饋值，S為所述金屬膜盒（8）的有效面積。

6.根據權利要求1的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述系統還包括設置在所述自動配氣臺（2）與所述壓強傳感器（5）之間的過濾器（3）。

7.根據權利要求1的金屬膜盒的有效面積測量系統，其特征在于，所述系統還包括設置在所述過濾器（3）與所述壓強傳感器（5）之間的截止閥（4）。