[發(fā)明專利]一種測定取向硅鋼取向度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310576260.9 | 申請日： | 2013-11-18 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103558239A | 公開（公告）日： | 2014-02-05 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 李長一;石文敏;郭小龍;方澤民;黎世德;毛炯輝;楊佳欣 | 申請（專利權(quán)）人： | 武漢鋼鐵（集團(tuán)）公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N23/20 | 分類號(hào)： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 武漢開元知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 42104 | 代理人： | 王和平;陳懿 |
| 地址： | 430080 湖北省武*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 一種 測定 取向 硅鋼 方法 | ||
【權(quán)利要求書】：
1.一種測定取向硅鋼取向度的方法，其特征在于：包括如下步驟：
步驟一、將鋼板切成多個(gè)長方形窄條（1），將多個(gè)長方形窄條（1）疊摞成組合試樣（2），所述組合試樣（2）的待測面（2.1）由長方形窄條垂直于軋向的截面組成；
步驟二、通過X-射線衍射儀測量待測面（2.1）晶粒的<uvw>的晶軸密度；
步驟三、將測得的待測面（2.1）晶粒的<uvw>的晶軸密度帶入下述公式計(jì)算出組合試樣（2）的取向度：G=P001/∑Puvw，其中，G是組合試樣（2）的取向度，P001和PUVW分別是測得的<001>晶粒和其它<uvw>晶粒的晶軸密度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的測定取向硅鋼取向度的方法，其特征在于：所述步驟二中，X-射線衍射儀通過織構(gòu)分析反極圖法測量待測面（2.1）晶粒的<uvw>的晶軸密度。
3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的測定取向硅鋼取向度的方法，其特征在于：所述步驟一中，所述組合試樣（2）由30個(gè)長方形窄條（1）疊摞而成。
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