[發(fā)明專利]X射線成像設(shè)備和控制所述設(shè)備的方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310573610.6 | 申請日: | 2013-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN103908273A | 公開(公告)日: | 2014-07-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 金圣洙;吳炫和;姜東求;姜聲訓(xùn);成映勛;李剛儀;韓錫旼 | 申請(專利權(quán))人: | 三星電子株式會社 |
| 主分類號: | A61B6/00 | 分類號: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 北京銘碩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11286 | 代理人: | 王秀君;薛義丹 |
| 地址: | 韓國京畿*** | 國省代碼: | 韓國;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 射線 成像 設(shè)備 控制 方法 | ||
本申請要求于2012年12月28日在韓國知識產(chǎn)權(quán)局提交的第10-2012-0156718號韓國專利申請的利益,該申請的公開通過引用包含于此。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明的實施例涉及一種X射線成像設(shè)備和控制所述設(shè)備的方法,所述設(shè)備使多能帶X射線穿過目標(biāo)對象以產(chǎn)生X射線圖像。
背景技術(shù)
X射線成像設(shè)備將X射線放射到目標(biāo)對象,分析穿過了目標(biāo)對象的X射線以檢查對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。X射線透過性可根據(jù)組成目標(biāo)對象的組織而不同。因此,檢測穿過了目標(biāo)對象的X射線的強度以形成目標(biāo)對象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)的圖像。
具體地說,X射線產(chǎn)生器產(chǎn)生X射線并將X射線放射到目標(biāo)對象。然后,X射線檢測器檢測穿過了目標(biāo)對象的X射線,將檢測到的X射線轉(zhuǎn)換為電信號,并將電信號發(fā)送到控制器。
控制器使用從X射線檢測器發(fā)送的電信號產(chǎn)生目標(biāo)對象的X射線圖像,因此X射線圖像的圖像質(zhì)量、分辨率、精度等可根據(jù)X射線檢測器的響應(yīng)特性而不同。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明的一方面在于提供一種X射線成像設(shè)備和控制所述設(shè)備的方法,所述設(shè)備和方法估計X射線檢測器的能量響應(yīng)特性并基于估計的響應(yīng)特性校正X射線數(shù)據(jù)的失真。
將在下面的描述中部分闡述本發(fā)明的附加方面,并且本發(fā)明的附加方面將從描述中部分是清楚的,或可以通過本發(fā)明的實踐來學(xué)習(xí)。
根據(jù)本發(fā)明的一方面,一種X射線成像設(shè)備,包括:X射線產(chǎn)生器,產(chǎn)生和發(fā)射X射線;X射線檢測器,檢測發(fā)射的X射線并獲得X射線數(shù)據(jù);控制器,將通過X射線檢測器檢測X射線獲得的測量數(shù)據(jù)和通過仿真獲得的參考數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為作為預(yù)定空間上的坐標(biāo)的X射線特性坐標(biāo),并從參考數(shù)據(jù)和測量數(shù)據(jù)之間的關(guān)系估計X射線檢測器的響應(yīng)特性函數(shù),其中,所述測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換為X射線特性坐標(biāo)。
根據(jù)本發(fā)明的另一方面,一種控制X射線成像設(shè)備的方法,所述方法包括:在相同的響應(yīng)特性參數(shù)條件下獲得測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù);將測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)中的每一個轉(zhuǎn)換為作為預(yù)定空間上的坐標(biāo)的X射線特性坐標(biāo);從測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)之間的關(guān)系估計X射線檢測器的響應(yīng)特性函數(shù),其中,所述測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)被轉(zhuǎn)換為X射線特性坐標(biāo)。
獲得測量數(shù)據(jù)和參考數(shù)據(jù)的操作可包括:將響應(yīng)特性參數(shù)設(shè)置為特定值并將X射線放射到X射線模型;檢測穿過了X射線模型的X射線以獲得X射線數(shù)據(jù)。
附圖說明
從下面結(jié)合附圖對實施例的描述,本發(fā)明的這些和/或其他方面將變得清楚并更易于理解,其中:
圖1是X射線成像設(shè)備的控制框圖;
圖2是用于乳房X射線照相術(shù)的X射線成像設(shè)備的整體外觀的示圖;
圖3A是根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備的X射線檢測器的結(jié)構(gòu)的示意圖;
圖3B是根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備的X射線檢測器的單個像素區(qū)域的示意電路圖;
圖4A是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的由X射線產(chǎn)生器放射的X射線的能譜的曲線圖;
圖4B是示出根據(jù)本發(fā)明實施例的在圖4A的X射線檢測器根據(jù)能帶劃分X射線的情況下的理想光譜的曲線圖;
圖5是示出電荷共享現(xiàn)象的示意圖;
圖6A是示出針對X射線的全部能帶的失真光譜的曲線圖;
圖6B是示出當(dāng)根據(jù)能帶劃分X射線時獲得的失真光譜的曲線圖;
圖7是詳細示出根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備的控制器的控制框圖;
圖8A示出當(dāng)沒有發(fā)生失真時的轉(zhuǎn)換為坐標(biāo)的X射線數(shù)據(jù)的曲線圖;
圖8B示出當(dāng)發(fā)生失真時的轉(zhuǎn)換為坐標(biāo)的X射線數(shù)據(jù)的曲線圖;
圖9是示出由響應(yīng)特性估計單元估計的函數(shù)和由坐標(biāo)校正單元使用的函數(shù)之間的關(guān)系的示意圖;
圖10是更詳細地示出X射線成像設(shè)備的控制框圖;
圖11是示出根據(jù)組成人體的材料的X射線衰減系數(shù)的變化的示意曲線圖;
圖12是在控制根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備的方法中的估計X射線檢測器的響應(yīng)特性的方法的流程圖;
圖13是在控制根據(jù)本發(fā)明實施例的X射線成像設(shè)備的方法中的使用估計的響應(yīng)特性函數(shù)校正X射線數(shù)據(jù)的方法的流程圖。
具體實施方式
以下,將參照關(guān)于本發(fā)明實施例的附圖詳細描述X射線成像設(shè)備和控制所述設(shè)備的方法。
圖1是X射線成像設(shè)備100的控制框圖,圖2是用于乳房X射線照相術(shù)的X射線成像設(shè)備的整體外觀的示圖。
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