[發明專利]線跡檢查方法

在審

• 申請號: 201310571756.7
• 申請日: 2013-11-13
• 公開（公告）號: CN104636527A
• 公開（公告）日: 2015-05-20
• 發明（設計）人: 鄭永健;蔡秋鳳;謝憶欣;張有權
• 申請（專利權）人: 英業達科技有限公司;英業達股份有限公司
• 主分類號: G06F17/50
• 分類號: G06F17/50
• 代理公司: 北京律誠同業知識產權代理有限公司 11006
• 代理人: 梁揮;常大軍

技術領域

本發明涉及一種線跡檢查方法，特別涉及一種適于印刷電路板的布局線跡檢查方法。

背景技術

一般來說，在印刷電路板（Printed?Circuit?Board,PCB）的布局圖（Layout）設計完成后，還需要進一步對布局圖上的線路進行檢查，以確認這些線路是否都符合布局所需的規范。以往，在對布局圖上的線路檢查時，都需要以人工的方式一一進行，如此將會花費更多人力及時間。

有鑒于此，已有許多廠商提出印刷電路板布局設計的軟件檢查功能，以改善上述以人工進行檢測的問題。但是，上述檢查功能多半針對檢查印刷電路板產生問題與信號設計錯誤方面。然而，對于目前越來越細的線路布局來說，有些線路的線長的計算是非常的麻煩，還是需要人工一小段一小段的加總，且人工逐一加總計算需要花費較長的時間，因而對于研發時間有限的研發人員而言，此工作費工費時，卻又占有相當作要的地位。因此，印刷電路板布局的線路檢查仍有改善的空間。

發明內容

本發明的目的在于提供一種布局線跡檢查方法，藉以提高線跡檢查的速度以及精確性。

本發明提供一種線跡檢查方法，適于一印刷電路板，此印刷電路板具有多條線跡，這些線跡耦接一電子元件。此線跡檢查方法包括下列步驟。取得待確認線跡，其中待確認線跡為線跡其中之一。以電子元件為一起點，沿待確認線跡至預設長度，以取得結束點，其中預設長度包括規范長度以及延伸長度。由結束點向電子元件檢查待確認線跡，判斷待確認線跡的寬度是否變小。若判斷出待確認線跡的寬度變小，產生檢查點，檢查點對應待確認線跡的寬度變小的位置。計算檢查點與起點之間的長度，以取得檢查長度。判斷檢查長度是否大于規范長度。若判斷檢查長度大于規范長度，標示待確認線跡。記錄待確認線跡。

在一實施例中，前述線跡檢查方法更包括下列步驟。若判斷檢查長度未大于規范長度，則待確認線跡合格，并記錄待確認線跡。

在一實施例中，前述線跡檢查方法更包括下列步驟。判斷待確認線跡的周圍是否有多余空間。若判斷待確認線跡的周圍未有多余空間，則不調整待確認線跡的寬度。若判斷待確認線跡的周圍有多余空間，則調整待確認線跡的寬度。

在一實施例中，前述以電子元件為起點，沿待確認線跡至預設長度，以取得結束點，其中預設長度包括規范長度以及延伸長度的步驟包括下列步驟。以電子元件為起點，沿待確認線跡至預設長度。判斷待確認線跡的線長是否大于預設長度。若判斷待確認線跡的線長大于預設長度，則調整延伸長度，并回到電子元件為起點，沿待確認線跡至預設長度的步驟。若判斷待確認線跡的線長未大于預設長度，則取得結束點。

在一實施例中，前述取得待確認線跡的步驟包括下列步驟。接收關鍵字。依據關鍵字，找尋與關鍵字相關的線跡，以產生待確認線跡群組。由待確認線跡群組，取得待確認線跡。

在一實施例中，前述在記錄待確認線跡的步驟之后更包括下列步驟。判斷待確認線跡群組中的所有線跡是否已檢查完畢。若判斷待確認線跡群組中的所有線跡未檢查完畢，則回到取得待確認線跡的步驟。

本發明所揭露的線跡檢查方法，藉由以電子元件為起點，沿待確認線跡至預設長度，以取得結束點，再由結束點向電子元件檢查待確認線跡，判斷待確認線跡是否產生阻抗變化，而據以產生檢查點。接著，計算檢查點與起點之間的長度，以取得檢查長度，并判斷檢查長度是否大于規范長度，而據以決定此待確認線跡是否符合規范。如此一來，可有效提高線跡檢查的速度以及精確性。

以下結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述，但不作為對本發明的限定。

附圖說明

圖1為本發明的印刷電路板的布局的部分示意圖；

圖2為本發明的線跡檢查方法的示意圖；

圖3為圖2的步驟S202的詳細流程圖；

圖4為圖2的步驟S204的詳細流程圖；

圖5為接續圖2及圖3的步驟S204之后的流程圖。

其中，附圖標記

100??印刷電路板

110??電子元件

120、130??線跡

121、122??線段

L1??預設長度

L2??檢查長度

P1??起點

P2??結束點

P3??檢查點

具體實施方式

下面結合附圖對本發明的結構原理和工作原理作具體的描述：