[發(fā)明專利]檢測鋼奧氏體粗化溫度的方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310552072.2 | 申請日： | 2013-11-07 |
| 公開（公告）號(hào)： | CN103592328A | 公開（公告）日： | 2014-02-19 |
| 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人： | 邵肖靜;季晨曦;崔陽;朱國森;李海波;潘宏偉;李飛;包春林;陳斌;劉柏松;陽代軍 | 申請（專利權(quán)）人： | 首鋼總公司 |
| 主分類號(hào)： | G01N25/12 | 分類號(hào)： | G01N25/12 |
| 代理公司： | 北京華沛德權(quán)律師事務(wù)所 11302 | 代理人： | 劉杰 |
| 地址： | 100041 *** | 國省代碼： | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 檢測 奧氏體 溫度 方法 | ||
1.一種檢測鋼奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于，包括如下步驟：
1）制備檢測試樣；
2）將所述檢測試樣放入坩堝一起置于金相加熱爐中，經(jīng)先抽真空后通入氬氣的三次重復(fù)操作，然后向所述金相加熱爐中持續(xù)通入純度大于99.999%的高純氬氣，作為所述檢測試樣加熱時(shí)的保護(hù)氣；
3）將所述檢測試樣先以150℃/min的速度連續(xù)加熱至800℃，并恒溫保持120秒，再以15℃/min的速度連續(xù)加熱至1350℃；
4）在加熱過程中，所述金相加熱爐上方的高溫激光成像系統(tǒng)以每0.1℃的溫度間隔連續(xù)獲得檢測試樣的奧氏體晶粒尺寸照片；
5）將奧氏體晶粒開始長大的溫度作為奧氏體粗化溫度。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述檢測試樣在所述金相加熱爐中的加熱是在真空狀態(tài)下進(jìn)行。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的檢測奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述真空狀態(tài)的真空度控制在10-3-10-4Torr。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述高溫激光成像系統(tǒng)為He-Ne激光源組成的高溫激光成像系統(tǒng)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測鋼奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述制備檢測試樣包括：
a.將需要檢測的鋼種制備成直徑為6-7.5mm，高度為2-3mm的圓柱體試樣；
b.對圓柱體試樣上表面打磨、拋光，然后對圓柱體試樣清洗得檢測試樣。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的檢測鋼奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述對圓柱體試樣清洗是將圓柱體試樣放入超聲波清洗機(jī)中清洗，清洗時(shí)間為8-12min。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的檢測鋼奧氏體粗化溫度的方法，其特征在于：所述清洗使用的清洗劑是80-90%的乙醇溶液。
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