[發明專利]一種硅烷外給電子體生產除氨裝置無效
| 申請號: | 201310534041.4 | 申請日: | 2013-11-01 |
| 公開(公告)號: | CN104592279A | 公開(公告)日: | 2015-05-06 |
| 發明(設計)人: | 劉健;黃貴柱;屈連昆 | 申請(專利權)人: | 天津市武清區福林化工工貿有限公司 |
| 主分類號: | C07F7/02 | 分類號: | C07F7/02;B01D53/04 |
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| 地址: | 301700 天津市武清*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 硅烷 電子 生產 裝置 | ||
技術領域
本發明屬于硅烷外給電子體生產技術領域,具體涉及一種硅烷外給電子體生產除氨裝置。?
背景技術
在硅化鎂法生產硅烷外給電子體過程中,會產生微量的氨。而氨的存在會影響硅烷外給電子體產品的催化性能,為了提高硅烷外給電子體產品的質量,必須在精餾前將硅烷外給電子體粗品中的氨完全除掉,目前,尚沒有一種有效地裝置可以除去粗品中的氨,并使生產連續進行。?
發明內容
本發明的目的在于解決上述技術問題而提供一種硅烷外給電子體生產除氨裝置。?
為實現上述目的,本發明采用根據以下技術方案:?
一種硅烷外給電子體生產除氨裝置,包括管體,所述管體內設有無水氯化鎂吸附篩,所述管體的上端設有用于連接蒸發器以將硅烷外給電子體粗品送入所述管體內的進口管路單元,所述管體的底部設有用于連接精餾塔而將除氨后的硅烷外給電子體粗品送往精餾塔內進行精餾的出口管路單元。?
所述無水氯化鎂吸附篩的底部兩側設有用于檢測所述無水氯化鎂吸附篩的重量變化情況的計量傳感器。?
所述計量傳感器通過導線連接數顯式指示器。?
所述管體上設有溫度傳感器。?
本發明通過在所述管體內設有無水氯化鎂吸附篩,所述管體的上端設有用于連接蒸發器以將硅烷外給電子體粗品送入所述管體內的進口管路單元,所述管體的底部設有用于連接精餾塔而將除氨后的硅烷外給電子體粗品送往精餾塔內進行精餾的出口管路單元,從而可以通過所述無水氯化鎂吸附篩?內的無水氯化鎂將氨吸附掉,從而消除了影響硅烷外給電子體產品催化性能的因素,提高硅烷外給電子體產品的質量。?
附圖說明
圖1所示為本發明實施例提供的硅烷外給電子體生產除氨裝置的結構示意圖。?
具體實施方式
下面,結合實例對本發明的實質性特點和優勢作進一步的說明,但本發明并不局限于所列的實施例。?
參見圖1所示,該圖示出了本發明實施例提供的一種硅烷外給電子體生產除氨裝置的結構。為了便于說明,僅示出了與本發明實施例有關的部分。?
請參閱圖1,一種硅烷外給電子體生產除氨裝置,包括管體1,所述管體1內通過支架體5設有無水氯化鎂吸附篩2,所述管體1的上端設有用于連接蒸發器以將硅烷外給電子體粗品送入所述管體內的進口管路單元3,所述管體的底部設有用于連接精餾塔而將除氨后的硅烷外給電子體粗品送往精餾塔內進行精餾的出口管路單元4。?
無水氯化鎂吸附篩2為籠狀結構的網板,由規定重量的無水氯化鎂以適當松緊度裝入其中而形成,然后安裝在支架體5上?
進一步的,所述無水氯化鎂吸附篩2的底部兩側設有用于檢測所述無水氯化鎂吸附篩的重量變化情況的計量傳感器6。?
進一步的,所述計量傳感器6通過導線連接數顯式指示器(未示出)。?
所述無水氯化鎂吸附篩的重量預先設定,當所述無水氯化鎂吸附篩因吸附氨而增加重量時,通過所述計量傳感器實時進行檢測,計量值通過所述數顯式指示器顯示出來,當所述數顯式指示器顯示所述的無水氯化鎂吸附篩在重量增加90%時,即須要即時更換所述的無水氯化鎂吸附篩,吸氨后的無水氯化鎂經煅燒后循環使用。?
進一步的,所述的進口管路單元以及所述的出口管路單元上均設有相應?的控制閥(未示出)。?
進一步的,所述管體上設有溫度傳感器,通過設有溫度傳感器,再配備相應的在線降溫裝置,可以使本發明在常溫下運行,以發揮無水氯化鎂的最佳吸附性能。?
進一步的,所述的進口管路單元的管路長度采用蛇形彎曲結構,其長度視所述蒸發器的出口溫度不同而不同。當所述蒸發器的出口溫度高時,該管路應適當加長,否則應相應縮短,目的在于使所述無水氯化鎂吸附篩的篩板溫度不能過高,使無水氯化鎂處于可高效吸附的適宜溫度。?
本發明通過在所述管體內設有無水氯化鎂吸附篩,所述管體的上端設有用于連接蒸發器以將硅烷外給電子體粗品送入所述管體內的進口管路單元,所述管體的底部設有用于連接精餾塔而將除氨后的硅烷外給電子體粗品送往精餾塔內進行精餾的出口管路單元,從而可以通過所述無水氯化鎂吸附篩內的無水氯化鎂吸附掉氨,從而消除了影響硅烷外給電子體產品催化性能的因素,提高硅烷外給電子體產品的質量。?
以上所述僅是本發明的優選實施方式,應當指出,對于本技術領域的普通技術人員來說,在不脫離本發明原理的前提下,還可以做出若干改進和潤飾,這些改進和潤飾也應視為本發明的保護范圍。?
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