[發明專利]一種超高速微粒速度測量系統及方法有效
| 申請號: | 201310533612.2 | 申請日: | 2013-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN104597279B | 公開(公告)日: | 2018-06-15 |
| 發明(設計)人: | 李宏偉;蔡明輝;吳逢時;韓建偉;張振龍;楊濤;汪金龍 | 申請(專利權)人: | 中國科學院空間科學與應用研究中心 |
| 主分類號: | G01P3/68 | 分類號: | G01P3/68;G01D21/02 |
| 代理公司: | 北京法思騰知識產權代理有限公司 11318 | 代理人: | 楊小蓉;楊青 |
| 地址: | 100190 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 超高速微粒 發出光信號 加速器 速度測量系統 收集單元 信號轉為電信號 距離測量單元 透鏡 超高速撞擊 采集單元 測量微粒 起始時刻 時間獲得 微粒運動 微粒撞擊 運行距離 終止時刻 光電管 發光 光纖 發射 飛行 記錄 | ||
1.一種超高速微粒速度測量系統,其特征在于,所述系統包含:
超高速微粒加速器,用于發射超高速微粒;
第一信號采集單元,用于記錄微粒在超高速微粒加速器中運動的起始時刻t1;
距離測量單元,用于測量微粒在超高速微粒加速器中的運行距離s;
撞擊靶,用于在超高速微粒加速器中距離超高速微粒起始運動位置的位移為s處設置撞擊靶,所述超高速微粒運行到位移s處時發生撞擊并瞬間發出光信號;
收集單元,用于收集發出的光信號,該單元設置在能夠收集發出光信號的光路上;其中,該收集單元為帶透鏡的光纖;
光電管,用于將收集單元收集的光信號轉化為電信號,并依據該電信號獲得超高速微粒運動的終止時刻t2;和
速度及質量獲取單元,用于依據如下公式同時獲得微粒的速度和質量:
其中,I為發光強度,t為發光信號上升時間,t=t2-t1;m為微粒質量,ν為微粒速度,λ1,λ2,β1,β2為與微粒材料及撞擊靶材料相關的系數;且通過實驗獲取λ1,λ2,β1,β2的取值;所述發光強度I與上述帶透鏡的光纖通過光電管和示波器獲取的信號的幅度相關,通過實驗標定獲取發光強度I的值;上升時間t通過測量直接獲得,根據公式(1)和(2)求解能夠獲取微粒的質量和速度。
2.根據權利要求1所述的超高速微粒速度測量系統,其特征在于,所述第一信號采集單元采用示波器。
3.根據權利要求1所述的超高速微粒速度測量系統,其特征在于,所述光纖與透鏡的軸線相同,且所述光纖的端面位于透鏡的焦點位置。
4.一種超高速微粒速度測量方法,所述方法包含:
步驟101)在時刻t1,將超高速微粒在超高速微粒加速器中開始運動;
步驟102)當超高速微粒在超高速微粒加速器中運動至距離初始位置的位移s處時,撞擊撞擊靶,并使撞擊靶瞬間發出光信號;
步驟103)在光信號的發散光路上設置由透鏡、光纖和光電管組成的吸收裝置,吸收光信號;即撞擊發光信號傳到透鏡,被透鏡匯聚到光纖,由光纖傳遞到光電管之后傳遞到示波器并記錄該信號;
步驟104)對吸收的光信號進行處理得到超高速微粒到達位移s時的時刻t2;
步驟105)依據如下兩個公式同時獲得微粒的速度與質量:
其中,I為發光強度,t為發光信號上升時間,t=t2-t1;m為微粒質量,ν為微粒速度,λ1,λ2,β1,β2為與微粒材料及撞擊靶材料相關的系數;且通過實驗獲取λ1,λ2,β1,β2的取值;所述發光強度I與上述帶透鏡的光纖通過光電管和示波器獲取的信號的幅度相關,通過實驗標定獲取發光強度I的值;上升時間t通過測量直接獲得。
5.根據權利要求4所述的超高速微粒速度測量方法,其特征在于,所述步驟104)進一步包含:
步驟104-1)光纖進一步把匯聚的光信號傳遞到光電管,光電管把光信號轉換成電信號;
步驟104-2)通過同軸電纜線將轉化的電信號傳遞到示波器,并通過示波器記錄該發光信號及其時刻t2的值。
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