[發明專利]一種玉米的根冠結構分析和種植方法

無效

• 申請號: 201310532514.7
• 申請日: 2013-10-29
• 公開（公告）號: CN103698243A
• 公開（公告）日: 2014-04-02
• 發明（設計）人: 李宗新;王慶成;劉開昌;張慧;趙海軍;劉霞;趙紅香;翟學旭
• 申請（專利權）人: 山東省農業科學院玉米研究所
• 主分類號: G01N5/04
• 分類號: G01N5/04;A01G1/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種玉米根冠結構的分析方法，其具體操作如下：?

A1：在當年生玉米大田隨機選擇株行距均勻、種植密度相異的各取樣點，在玉米生長的拔節期、大口期、開花期、乳熟期、成熟期中的一個或幾個時期分別對各取樣點的各高度玉米根、冠層進行取樣以及測定各高度玉米冠層的光照強度；?

將取得的各冠層樣品分別進行莖脫水處理，測定各冠層樣品的干重；?

將取得的各根層樣品分別進行根脫水處理，測定各根層經根脫水處理后的重量數值，將該重量數值運用正態分布密度函數累積計算出根層樣品干重；?

A2：將上述各取樣點測得的各根、冠層樣品的干重、各冠層的光照強度輸入數據處理設備進行分析處理繪制出玉米群體結構圖。?

2.如權利要求1所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：數據處理設備中利用Sigmaplot10.0軟件繪制群體結構圖。?

3.如權利要求1所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：冠層進行取樣的方法是用片刀分別按預定層厚割取各高度的玉米冠層，將所得的冠層樣品裝入網袋并作好標記。

4.如權利要求1所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：根層進行取樣的方法是用直徑為6～8cm的鉆頭進行垂直剖面采樣，采樣深度為80cm，在以取樣植株為中心且半徑為0～6cm、6～12cm、12～18cm的三個圓形或環形取樣區域分別均勻取7～8個樣，從上往下按每20cm進行分層取樣，將所得的根層樣品分別裝入塑料封口袋并做好標記。?

5.如權利要求1所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：莖脫水處理是將冠層樣品在100～105℃烘箱內殺青28～30min，然后再在80～82℃下烘干至恒重；?

根脫水處理是將各根層樣本經土壤篩分后用水進行沖洗，然后選出?根樣，將根樣在100～105℃烘箱內殺青28～30min，然后再在80～82℃下烘干至恒重。?

6.一種玉米的種植方法，其具體操作如下：?

A1：在當年生玉米大田隨機選擇株行距均勻、種植密度相異的各取樣點，在玉米生長的拔節期、大口期、開花期、乳熟期、成熟期中的一個或幾個時期分別對各取樣點的各高度玉米根、冠層進行取樣以及測定各高度玉米冠層的光照強度；?

將取得的各冠層樣品分別進行莖脫水處理，測定各冠層樣品的干重；?

將取得的各根層樣品分別進行根脫水處理，測定各根層經根脫水處理后的重量數值，將該重量數值運用正態分布密度函數累積計算出根層樣品干重；?

A2：將上述各取樣點測得的各根、冠層樣品的干重、各冠層的光照強度輸入數據處理設備進行分析處理繪制出玉米群體結構圖，得出玉米的最佳種植密度。?

A3：次年按照B2中得出的玉米最佳種植密度進行種植玉米。?

7.如權利要求6所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：數據處理設備中利用Sigmaplot10.0軟件繪制群體結構圖。?

8.如權利要求6所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：冠層進行取樣的方法是用片刀分別按預定層厚割取各高度的玉米冠層，將所得的冠層樣品裝入網袋并作好標記。

9.如權利要求6所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：根層進行取樣的方法是用直徑為6～8cm的鉆頭進行垂直剖面采樣，采樣深度為80cm，在以取樣植株為中心且半徑為0～6cm、6～12cm、12～18cm的三個圓形或環形取樣區域分別均勻取7～8個樣，從上往下按每20cm進行分層取樣，將所得的根層樣品分別裝入塑料封口袋并做好標記。?

10.如權利要求6所述的玉米根冠結構的分析方法，其特征在于：莖脫水處理是將冠層樣品在100～105℃烘箱內殺青28～30min，然后再在80～82℃下烘干至恒重；?

根脫水處理是將各根層樣本經土壤篩篩分后用水進行沖洗，然后選出根樣，將根樣在100～105℃烘箱內殺青28～30min，然后再在80～82℃下烘干至恒重。?