[發(fā)明專利]一種面向OLED屏像素缺陷檢測的方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310532477.X | 申請日: | 2013-10-31 |
| 公開(公告)號: | CN103559857A | 公開(公告)日: | 2014-02-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 李文禮;周泰武;彭應(yīng)光;萬文華 | 申請(專利權(quán))人: | 桂林機床電器有限公司 |
| 主分類號: | G09G3/00 | 分類號: | G09G3/00 |
| 代理公司: | 北京輕創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11212 | 代理人: | 陳月福 |
| 地址: | 541002 廣*** | 國省代碼: | 廣西;45 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 面向 oled 像素 缺陷 檢測 方法 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及顯示屏檢測裝置,確切地說,是一種面向OLED屏像素缺陷檢測的方法及裝置。
背景技術(shù)
OLED(Organic?Light?Emitting?Display)有機電致發(fā)光顯示器,作為當(dāng)今顯示界的新寵兒迅速崛起。因其具有低功耗、寬視角、主動發(fā)光、易于實現(xiàn)柔性制造等優(yōu)點受到人們越來越多的關(guān)注。復(fù)雜的工藝使得產(chǎn)品不可避免的會出現(xiàn)微小的缺陷,這些細(xì)小的缺陷對OLED的顯示效果造成影響,為了提高產(chǎn)品的顯示質(zhì)量和成品率。必須在OLED的制造過程中增加一個缺陷檢測環(huán)節(jié)。
然而,由于OLED生產(chǎn)過程中復(fù)雜的工藝,因此無法推動OLED行業(yè)的發(fā)展,主要原因如下:
針對制造工藝過程中微小顆粒的污染,造成這些缺陷隱藏在OLED像素的內(nèi)部,尺寸小,通常為幾十微米,灰度與背景類似,對比度低且發(fā)光亮度不均勻。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明所要解決的技術(shù)問題是提供種一種面向OLED屏像素缺陷檢測的方法,旨在解決OLED在制造過程細(xì)小微顆粒的污染造成的點缺陷。
本發(fā)明的實例是這樣實現(xiàn)的,一種面向OLED屏像素缺陷檢測的方法,包括:
將OLED屏置于檢測平臺上,初始化檢測系統(tǒng),獲取被檢測OLED屏的信息,所述信息包含原始圖像;
當(dāng)接收到原始圖像時,對所述原始圖像進(jìn)行預(yù)處理;
當(dāng)接收到進(jìn)行預(yù)處理的原始圖像時,對所述預(yù)處理的原始圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)矯正;
當(dāng)接收到旋轉(zhuǎn)矯正的原始圖像時,對所述旋轉(zhuǎn)矯正的原始圖像進(jìn)行迭代處理;
當(dāng)接收到迭代處理的原始圖像時,對所述迭代處理的原始圖像開始圖像分割;
根據(jù)接收到所述分割圖像,對所述分割圖像與完整圖像開始對比是否存在缺陷,如果否,則繼續(xù)下一塊OLED屏的檢測;如果是,則報警并定位缺陷位置。
本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種面向OLED屏像素缺陷檢測的方法,包括:
所述原始圖像進(jìn)行預(yù)處理,包括對原始圖像進(jìn)行濾波與圖像增強,所述濾波是對原始圖像噪聲進(jìn)行過濾,并保持原始圖像邊緣輪廓的清晰與完整,所述圖像增強是對原始圖像中像素節(jié)點亮度與對比度的增強;
所述預(yù)處理的原始圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)矯正,是獲取整幅原始圖像邊界,根據(jù)所述圖像邊界線得到首尾坐標(biāo),根據(jù)坐標(biāo)運算得到整幅原始圖像偏轉(zhuǎn)的角度,對所述原始圖像進(jìn)行反偏轉(zhuǎn)角度調(diào)整原始圖像處于水平位置;
所述旋轉(zhuǎn)矯正的原始圖像進(jìn)行迭代處理,包括提取模板像素與迭代缺陷查找,所述模板提取根據(jù)旋轉(zhuǎn)矯正后的原始圖像進(jìn)行閾值范圍內(nèi)像素提取,所述迭代缺陷查找是利用差影法對提取后模板像素進(jìn)行迭代;
所述迭代處理的原始圖像開始圖像分割,是利用K—均值聚類對迭代處理后圖像進(jìn)行分割,最終獲取到圖像的缺陷聚類與背景聚類。
本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種面向OLED屏像素缺陷檢測的裝置,包括:
獲取單元,用于獲取被檢測OLED屏的信息,所述信息包含原始圖像;
預(yù)處理單元,用于根據(jù)接收到原始圖像進(jìn)行預(yù)處理,所述預(yù)處理包括對原始圖像進(jìn)行濾波與圖像增強;
旋轉(zhuǎn)矯正單元,用于根據(jù)接收到預(yù)處理原始圖像進(jìn)行旋轉(zhuǎn)矯正;
迭代單元,用于根據(jù)接收到旋轉(zhuǎn)矯正后的原始圖像進(jìn)行迭代,所述迭代包括提取模板像素與迭代缺陷查找;
分割單元,用于根據(jù)接收到迭代后的原始圖像進(jìn)行分割;
判決單元,用于根據(jù)接收到分割后的原始圖像與完整圖像開始對比是否存在缺陷,如果否,則繼續(xù)下一塊OLED屏的檢測;如果是,則報警并定位缺陷位置。
本發(fā)明實施例的另一目的在于提供一種面向OLED屏像素缺陷檢測的裝置,包括:
所述預(yù)處理單元還包括濾波子單元與圖像增強子單元,所述濾波子單元用于對原始圖像噪聲進(jìn)行過濾,并保持原始圖像邊緣輪廓的清晰與完整,所述圖像增強子單元用于對濾波后原始圖像中像素節(jié)點亮度與對比度的增強;
所述迭代單元還包括提取模板像素子單元與迭代缺陷查找子單元,所述提取模板像素子單元用于對矯正后原始圖像進(jìn)行閾值范圍內(nèi)像素提取,所述迭代缺陷查找子單元用于根據(jù)提取模板像素進(jìn)行跌代差影法查找出缺陷圖像。
本發(fā)明的有益效果是:減少了人為因素,自動、方便、快捷的檢測出OLED在制造過程細(xì)小微顆粒的污染造成的點缺陷,提高了產(chǎn)品質(zhì)量,減少后續(xù)加工的成本。
附圖說明
圖1為本發(fā)明實施例提供的一種面向OLED屏像素缺陷檢測方法的實現(xiàn)流程圖;
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于桂林機床電器有限公司,未經(jīng)桂林機床電器有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310532477.X/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。





