[發(fā)明專利]一種橫向功率器件漂移區(qū)的制造方法無效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310525073.8 | 申請日: | 2013-10-30 |
| 公開(公告)號: | CN103545220A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設計)人: | 喬明;章文通;葉珂;祁嬌嬌;薛騰飛;張波 | 申請(專利權(quán))人: | 電子科技大學 |
| 主分類號: | H01L21/336 | 分類號: | H01L21/336;H01L29/06;H01L29/78 |
| 代理公司: | 成都宏順專利代理事務所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李順德;王睿 |
| 地址: | 611731 四川省成*** | 國省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 橫向 功率 器件 漂移 制造 方法 | ||
1.一種橫向功率器件漂移區(qū)的制造方法,其特征在于,包括以下步驟:
a.在漂移區(qū)(1)上生長一層外延層,進行N型雜質(zhì)和P型雜質(zhì)注入,重復步驟a多次后進入步驟b;
b.通過退火處理,形成N型摻雜條(22)和P型摻雜條(21);
c.在N型摻雜條(22)和P型摻雜條(21)之間刻蝕介質(zhì)槽(3);
d.對介質(zhì)槽(3)進行介質(zhì)填充;
e.平坦化去除多余的介質(zhì)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種橫向功率器件漂移區(qū)的制造方法,其特征在于,步驟a還包括:
a1.在漂移區(qū)(1)上生長一層外延層,所述外延層和漂移區(qū)(1)具有相同的摻雜類型和摻雜濃度,在外延層上依次覆蓋薄氧化層(31)和光刻膠(4),在漂移區(qū)(1)上表面形成P型雜質(zhì)注入窗口,進行高能離子注入形成P型摻雜區(qū)(21);
a2.去除步驟a1中剩下的光刻膠(4),重新光刻,在漂移區(qū)(1)上表面形成N型雜質(zhì)注入窗口,進行高能離子注入形成N型摻雜區(qū)(22);
a3.去除步驟a2中剩下的薄氧化層(31)和光刻膠(4),回到步驟a1。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





