[發明專利]觸控檢測裝置及觸控檢測方法

在審

• 申請號: 201310522408.0
• 申請日: 2013-10-29
• 公開（公告）號: CN104516599A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 張志遠
• 申請（專利權）人: 聯詠科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/044
• 分類號: G06F3/044
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 臧建明

技術領域

本發明涉及一種觸控檢測裝置及觸控檢測方法。

背景技術

在現有的技術中，提供多點觸碰檢測的觸控技術已成為觸控裝置的基本要求。并且，互容式觸控檢測在進行多點觸碰的檢測較自容式觸控檢測更為精準。然而，在針對觸控板的電容變化進行檢測的同時，可能會因為使用者的操作模式(手持或非手持)、觸控裝置是否進行充電以及自然界的噪聲干擾(水氣、溫度/濕度、電磁波等)，而造成觸控點位置信息的檢測上的困難。

在現有的技術領域中，上述關于造成觸控點位置信息的檢測困難，多利用設置額外的硬件，或特殊設置的固件來加以克服。或者，現有技術中，也有提出在對觸控面板進行互容式觸控檢測，額外進行自容式觸控檢測的作法。然而，這樣的作法顯然需要很長的觸控檢測時間，尤其應用在大尺寸的觸控面板上更為明顯。而較長的觸控檢測時間的需求，會造成觸控敏感度的降低。

發明內容

本發明提供一種觸控檢測裝置及觸控檢測方法，有效提升觸控檢測的效率。

本發明的觸控檢測方法適用于具有多條觸控行以及多條觸控列的觸控面板，觸控檢測方法包括：同時的針對該觸控面板執行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，以分別獲得互容式檢測結果以及自容式檢測結果，并針對互容式檢測結果以及自容式檢測結果進行運算以獲得觸控面板上的至少一觸控點的位置信息。

本發明的觸控檢測裝置，包括觸控面板以及觸控檢測控制器。觸控面板具有多條觸控行以及多條觸控列，觸控檢測控制器連接觸控行以及觸控列。觸控檢測控制器同時針對觸控面板執行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，以分別獲得互容式檢測結果以及自容式檢測結果，并針對互容式檢測結果以及自容式檢測結果進行運算以獲得觸控面板上的至少一觸控點的位置信息。

基于上述，本發明通過同步進行互容式觸控檢測以及自容式觸控檢測，有效降低檢測所需的時間。并且，本發明同時搭配互容式檢測結果以及自容式檢測結果下來獲得觸控點的位置信息，使觸控點的位置信息可以準確的被檢測出。如此一來，本發明提供的觸控檢測方法可以快速且準確的檢測出觸控點的位置信息，提升觸控檢測裝置的整體效益。

為讓本發明的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合附圖作詳細說明如下。

附圖說明

圖1示出本發明一實施例的觸控檢測方法的流程圖；

圖2A～圖2C分別示出本發明實施例的多個實施方式；

圖3A示出本發明一實施例的觸控檢測裝置的示意圖；

圖3B示出本發明觸控檢測裝置實施例的一實施方式；

圖4A示出本發明實施例的觸控檢測裝置的部分路示意圖；

圖4B示出本發明實施例的觸控檢測裝置的觸控檢測動作的波形圖。

附圖標記說明：

S110～S120、S211～S213、S221～S223、S231～S233：觸控檢測步驟；

300：觸控檢測裝置；

310：觸控面板；

X1～XM：觸控行；

Y1～YN：觸控列；

320：觸控檢測控制器；

3211～321N、3221～322M：觸控檢測控制電路；

410、420：模擬前端電路；

SP1、SP2：取樣點；

TA、TB：時間周期；

TXE：發射端點；

RXE：接收端點；

GND：接地端點；

CTX、CRX：自容電容；

CM：互容電容；

VRX、VTX：電壓；

VINT：觸控驅動信號；

VOUTs、VOUTm：檢測電壓。

具體實施方式

請參照圖1，圖1示出本發明一實施例的觸控檢測方法的流程圖。其中，觸控檢測方法適用于觸控面板上，且觸控面板具有多條觸控行以及多條觸控列。本實施例的觸控檢測方法的步驟包括：首先，在步驟S110中，同時針對觸控面板進行自容式觸控檢測以及互容式觸控檢測，并且，所進行的自容式觸控檢測可以獲得自容式檢測結果，而所進行的互容式觸控檢測則可以獲得互容式檢測結果。

接著，在步驟S120中，則針對在步驟S110中所獲得的自容式檢測結果以及互容式檢測結果來進行算術運算，并通過算術運算的結果來獲得一個或多個觸控點的位置信息。