[發(fā)明專利]用于測試尋址芯片的PCB工裝、尋址芯片測試系統(tǒng)

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310519681.8
• 申請日: 2013-10-29
• 公開（公告）號: CN103543398A
• 公開（公告）日: 2014-01-29
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 黃小寶;肖小平;舒?zhèn)?/a>;楊發(fā)明;何慶敏;桑振寧
• 申請（專利權(quán)）人: 四川虹歐顯示器件有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 51214
• 代理人: 韓雪

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及等離子顯示器件技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及用于測試尋址芯片的PCB工裝、尋址芯片測試系統(tǒng)。?

背景技術(shù)

等離子顯示器件（PDP）是目前主流的平板顯示器之一，它由前后兩塊玻璃基板對合而成，通過刻蝕、涂覆等工藝，在前板上形成橫向的Y電極、X電極，后板上形成縱向的A電極，在電極交錯的地方形成顯示單元陣列。Y電極（即掃描電極）決定顯示單元的橫向顯示；A電極（即尋址電極）決定顯示單元的縱向顯示。

尋址驅(qū)動芯片的輸出引腳通過Bonding工藝與后板上的A電極可靠的連接在一起，輸入引腳則通過插座與尋址電路板連接在一起。尋址驅(qū)動芯片屬靜電敏感器件，它最容易失效的是靜電防護(hù)電路，當(dāng)靜電高于防護(hù)電路的耐電壓，芯片就會失效。當(dāng)出現(xiàn)A電極損壞、連接點(diǎn)異物、插座松動、尋址驅(qū)動芯片失效等情況時，等離子顯示器件畫面上會出現(xiàn)豎線不良。在失效分析中，需要通過萬用表測試尋址驅(qū)動芯片引腳對地的電阻值大小來確定是否失效。由于輸出引腳與A電極Bonging在一起，因此只能對輸入引腳進(jìn)行測試。輸入引腳的數(shù)量為30個，寬度為350um，間距150um，使用萬用表直接測試引腳，由于引腳寬度過小，間距過小，操作極為不便，效率極低，且容易誤判。

如果能設(shè)計了一種測試尋址驅(qū)動芯片裝置來決上述問題，將是十分有意義的。?

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述問題，本發(fā)明提供了一種用于測試尋址芯片的PCB工裝、尋址芯片測試系統(tǒng)。

所述用于測試尋址芯片的PCB工裝包含一塊PCB板，所述PCB板設(shè)置尋址芯片輸入引腳插座、若干由尋址芯片輸入引腳引出的印制線、若干測試點(diǎn)、工裝接地點(diǎn)，其中，每個測試點(diǎn)1對應(yīng)一條印制線。

進(jìn)一步的，所述PCB板的尺寸為78?mm?*37mm。

進(jìn)一步的，尋址芯片輸入引腳插座3設(shè)置在PCB板的一側(cè)。

所述尋址芯片測試系統(tǒng)，包含上述的用于測試尋址芯片的PCB工裝、萬用表、尋址芯片；其中，所述尋址芯片插入測試尋址芯片的PCB工裝的尋址芯片輸入引腳插座，所述萬用表紅色探針連接測試尋址芯片的PCB工裝的工裝接地點(diǎn)，黑色探針連接測試尋址芯片的PCB工裝的任一測試點(diǎn)。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，通過將尋址芯片固定于PCB板上，并在固定的印刷線上設(shè)置測試點(diǎn)進(jìn)行測試，避免了傳統(tǒng)測試方法中，由于輸入引腳寬度過小，間距過小，操作極為不便，效率極低，容易誤判的情況，大大提高了對尋址芯片測試的準(zhǔn)確度和效率。

附圖說明

圖1為本發(fā)明所述用于測試尋址芯片的PCB工裝的布局示意圖

其中，1.測試點(diǎn)，2.印制線，3尋址芯片輸入引腳插座，4.工裝接地點(diǎn)。

具體實(shí)施方式

本發(fā)明所述用于測試尋址芯片的PCB工裝,包含一塊PCB板，如圖1所示，所述PCB板設(shè)置至少一個尋址芯片輸入引腳插座3、若干由尋址芯片輸入引腳引出的印制線2、測試點(diǎn)1、工裝接地點(diǎn)4，其中，所述每個測試點(diǎn)1對應(yīng)一條印制線2。

所述印制線2將地址驅(qū)動芯片的輸入引腳在?PCB板上引出，并在適當(dāng)?shù)奈恢迷O(shè)計出每個輸入引腳的測試點(diǎn)1，并標(biāo)記對應(yīng)引腳的名稱。

所述PCB板的尺寸為78*37mm.

為了方便使用，尋址驅(qū)動芯片輸入引腳插座一般位于PCB板一側(cè).

本發(fā)明所述尋址芯片測試系統(tǒng)，包括上述用于測試尋址芯片的PCB工裝、萬用表、尋址芯片；其中，所述尋址芯片插入測試尋址芯片的PCB工裝的尋址芯片輸入引腳插座3，所述萬用表紅色探針連接測試尋址芯片的PCB工裝的工裝接地點(diǎn)4，黑色探針連接測試尋址芯片的PCB工裝的任一測試點(diǎn)1，讀取電阻值，與正常芯片的電阻值（廠家提供）進(jìn)行對比，以此來判斷芯片是否失效。

本發(fā)明的有益效果是：本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡單，通過將尋址芯片固定于PCB板上，并在固定的印刷線上設(shè)置測試點(diǎn)1進(jìn)行測試，避免了傳統(tǒng)測試方法中，由于輸入引腳寬度過小，間距過小，操作極為不便，效率極低，容易誤判的情況，大大提高了尋址芯片測試的準(zhǔn)確度和效率。

本發(fā)明不僅適用于尋址芯片的測試，還可以適用于其他芯片。?