[發(fā)明專利]一種低噪聲延遲電路有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310517915.5 | 申請日: | 2013-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN103546126A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹航;王釗 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫中星微電子有限公司 |
| 主分類號: | H03K5/14 | 分類號: | H03K5/14;H03K3/013 |
| 代理公司: | 北京億騰知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 11309 | 代理人: | 陳霽 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市無錫*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 噪聲 延遲 電路 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及電子領(lǐng)域,具體涉及一種低噪聲延遲電路。
背景技術(shù)
在芯片設(shè)計(jì)中經(jīng)常會(huì)用到延遲單元,有些延遲單元,使用電容電阻形成信號的延遲,該種延遲電路容易受到噪聲干擾導(dǎo)致延遲單元輸出異常。
圖1是為現(xiàn)有技術(shù)的延遲單元的電路原理圖,其中,IN為數(shù)字信號輸入端,OUT為延遲數(shù)字信號輸出端,當(dāng)輸入端IN的信號電平從高變低時(shí),NMOS管MN1截止,PMOS晶體管MP1開啟,電源VDD通過限流電阻R1向充電電容C1充電,其波形可參見圖2,當(dāng)節(jié)點(diǎn)node1電壓上升到超過由MN2,MP2組成的反相器翻轉(zhuǎn)電平時(shí),輸出端OUT電平翻轉(zhuǎn)從高變低,從而獲得IN信號下降沿到OUT信號下降沿之間的延遲。該種延遲電路的缺點(diǎn)在于如果node1在反相器翻轉(zhuǎn)電平附近受到干擾,例如,接地端出現(xiàn)較大噪聲,則會(huì)導(dǎo)致OUT信號出現(xiàn)多次翻轉(zhuǎn),很有可能造成后續(xù)電路工作異常,狀態(tài)可參見圖3.
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種低噪聲延遲電路,以避免接地端噪聲對輸出端輸出信號的噪聲影響。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明實(shí)施例提供了一種低噪聲延遲電路,其包括延遲電路和反饋控制電路,
所述延遲電路包括第一PMOS晶體管、第一NMOS晶體管、電阻、充電電容以及第二PMOS晶體管和第二NMOS晶體管組成的反相器,所述第一、第二PMOS管的源極連接電源、所述第一NMOS晶體管和第一PMOS管的柵極連接輸入端、所述第二NMOS晶體管的源極和第二PMOS晶體管的漏極的公共節(jié)點(diǎn)連接輸出端,所述電阻一端連接在所述第一PMOS晶體管的漏極、另一端連接在所述第一NMOS晶體管的源極、所述充電電容第一端接地,第二端連接在所述反相器和所述電阻和所述第一NMOS晶體管的公共節(jié)點(diǎn);
所述反饋控制電路包括第三MPOS晶體管和第四PMOS晶體管,所述第四PMOS晶體管的柵極連接所述輸出端,所述第四PMOS晶體管的源極連接在所述第三PMOS晶體管的漏極,所述第四PMOS晶體管的漏極連接在所述充電電容的第二端,所述第三PMOS晶體管的柵極連接所述輸入端,所述第三PMOS晶體管的源極連接所述電源。
依照本發(fā)明實(shí)施例提供的低噪聲延遲電路,所述輸入端的輸入信號從高變低時(shí),所述第一NMOS晶體管截止,所述第一PMOS晶體管導(dǎo)通,所述充電電容儲(chǔ)存電能,當(dāng)所述充電電容兩端的電壓達(dá)到所述反相器的翻轉(zhuǎn)電平時(shí),所述第二NMOS晶體管導(dǎo)通,以使得所述輸出端電壓降低,所述第四PMOS晶體管導(dǎo)通,所述第三PMOS晶體管導(dǎo)通,以提高所述充電電容的第二端的電壓。
采用本發(fā)明實(shí)施例提供的低噪聲延遲電路,將輸出端引出的信號接入反饋控制電路中,當(dāng)輸出端的電壓從高變低時(shí),使反饋控制電路中的晶體管導(dǎo)通,從而迅速拉高充電電容的電壓,以避免外部因素對電容電壓的影響,從而提高延遲電路的抗干擾能力。
附圖說明
為了更清楚地說明本發(fā)明實(shí)施例中的技術(shù)方案,下面將對實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本發(fā)明的一些實(shí)施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)性的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是現(xiàn)有技術(shù)延遲電路的原理圖;
圖2是圖1所示的延遲電路的理想狀態(tài)信號狀態(tài)圖;
圖3是圖1所示的延遲電路受干擾狀態(tài)的參考圖;
圖4是本發(fā)明實(shí)施例提供的延遲電路的原理圖;
圖5是圖4所示的延遲電路的信號狀態(tài)圖。
具體實(shí)施方式
下面通過附圖和實(shí)施例,對本發(fā)明的技術(shù)方案做進(jìn)一步的詳細(xì)描述。
如圖4所示,本發(fā)明實(shí)施例提供的一種低噪聲延遲電路,包括延遲電路和反饋控制電路,所述延遲電路包括第一PMOS晶體管MP3、第一NMOS晶體管MN1、電阻R1、充電電容C1以及第二PMOS晶體管MP2和第二NMOS晶體管MN2組成的反相器,所述MP1、MP2的源極連接電源VDD、所述第一NMOS晶體管MN1和第一PMOS管MP1的柵極連接輸入端IN、所述第二NMOS晶體管MN2的源極和第二PMOS晶體管MP2的漏極的公共節(jié)點(diǎn)連接輸出端OUT,所述電阻R1一端連接在所述第一PMOS晶體管MP1的漏極、另一端連接在所述第一NMOS晶體管MN1的源極、所述充電電容C1第一端接地,第二端連接在所述反相器和所述電阻R1和所述第一NMOS晶體管MN1的公共節(jié)點(diǎn)node1;
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