[發明專利]一種用于光學系統鏡片透過率和反射率檢測的新系統

有效

• 申請號: 201310498479.1
• 申請日: 2013-10-22
• 公開（公告）號: CN103528797A
• 公開（公告）日: 2014-01-22
• 發明（設計）人: 石利霞;王勁松
• 申請（專利權）人: 長春四葉之義科技有限公司
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02
• 代理公司: 長春市吉利專利事務所 22206
• 代理人: 李曉莉

技術領域

本發明屬于光學系統測試裝置領域，特別是涉及到測試透過率和反射率的新系統裝置。

背景技術

現有技術當中與光學系統測試裝置類的產品屬于同一類別的分光光度計在國內外均有研制，而生產并成規模投入市場的多是國外進口產品，相比之下國內品牌還沒有足夠的實力和進口產品抗衡。測量薄膜或光學元件的透射率和反射率,目前主要采用商用分光光度計,常用的有日本的日立公司和島津公司,美國的CAYR,P-E公司等。這些公司生產的分光光度計用于測量透射率是沒有問題的,其光度精度為±0.1%T-±0.3%T,但反射率測量就不容易了,通常是加上一個特殊的昂貴的附件,即使如此,其精度仍偏低,約為0.5一5%。更為甚者,這種分光光度計有很多局限。首先,它不能測量偏振光的光學特性;其次,只能測量小樣品,它不能實現角度掃描,通常只有一個固定的角度,如15度;最后,由于其測量光斑較大,樣品室很小,難以掃描而實現均勻性測量。國內這類分光光度計上海分析儀器三廠和北京瑞利分析儀器廠等也有生產,但其可靠性和精度都不及國外的同類型儀器。現今國內分光光度計仍以可見光分光光度計和紫外，增大測量范圍的分光光度儀器是現今的發展需求。

為了提高反射率的測量精度,Petur曾經提出雙次反射,即v-w測量方法,Arnon提出了兩塊球面鏡組成的折疊式離軸共振腔來構成多次反射或者采用三塊曲率相同的球面鏡構成共焦系統。這些系統雖然可以提高反射率的測量精度，但不適用于透過率的測量。

而現在我們研制的這臺設備，在測量反射率時不用附加昂貴的附件，這大大節約了成本，具有很大的商業價值，并且，透過率和反射率的測量精度都很高，而國外價格昂貴的商用光度計只是透過率精度很高，反射率的精度卻與之相差甚遠，所以，我們研制的設備具有很好的前景。并且測量的光譜范圍包含了紅外區，彌補了國內市場上光度計多事可見光和紫外分光光度計的缺陷。同時，可以實現不同角度入射，這是普通的商用光度計難以實現的。

綜上所述，現有技術當中亟需要一種新的檢測裝置來解決目前光學系統測試技術中所存在的不足之處。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是：提供一種新型光譜透過率和反射率一體的檢測儀器，該儀器可廣泛應用于瞄具、望遠鏡、照相物鏡、透鏡片和透鏡組等光學系統或鏡片的白光和光譜軸上點或軸外點的透過率和反射率測試。

一種用于光學系統鏡片透過率和反射率檢測的新系統，其特征是：包括單色儀、白光光源、聚光鏡、光纖、探測器、積分球、電機、鎖相放大器，計算機、移動式反射鏡，所述的白光光源發射出白光入射至單色儀中；所述的聚光鏡將經過旋轉反射鏡調制后的光束進行耦合，然后再將耦合后的光束導入光纖中；所述的光纖與聚光鏡連接；所述的探測器通過數據線與鎖相放大器連接；所述的積分球與光纖連接；所述的電機與旋轉反射鏡連接；所述的鎖相放大器通過數據線與計算機連接；所述的移動式反射鏡位于單色儀的外部，移動式反射鏡接受單色儀出射的單色光譜并將該單色光譜反射至球面反射鏡。

所述的積分球內部放有測試品。

所述的積分球通過連接桿與積分球下部的轉臺連接，且該轉臺通過電源線與電機連接。

所述的積分球內部安裝有卡具，且該卡具與積分球內的連接桿固定連接。

所述的積分球數量為兩個。

通過上述設計方案，本發明可以帶來如下有益效果：本發明的一種用于瞄具、望遠鏡、透鏡片和透鏡組等光學系統或鏡片透過率和反射率檢測的新系統。包括用于對入射光準直擴束的反射式平行光管，同時適用于復合光源和光譜光源的光路結構，用于提高精度的雙通道光路系統，同時進行分光調制的旋轉反射鏡系統，滿足300nm～1600nm寬光譜范圍的雙探測器結構，能夠提高信噪比檢測弱信號的鎖相放大器，以及基于虛擬儀器技術的控制及數據采集系統。

本發明系統中的白光光源和光譜光源通過一個可移動的平面反射鏡實現共用一套球面反射式準直擴束系統，使白光透過率測量和光譜透過率測量之間轉換不用更換光源，只需移動反射鏡即可實現光源的切換，節省操作時間，提高工作效率。

本發明在對被試品的透射率進行測量時，目前常用的方法是積分球法，但是都是選用一個積分球，此臺設備采用了雙積分球，可同時測出反射率。而且，測試樣品室放在積分球外面，這里將被測試品放在積分球內部。

附圖說明

以下結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步的說明：

圖1為本發明的一種用于光學系統鏡片透過率和反射率檢測的新系統結構示意圖。