[發明專利]一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法無效
| 申請號: | 201310497567.X | 申請日: | 2013-10-21 |
| 公開(公告)號: | CN103626117A | 公開(公告)日: | 2014-03-12 |
| 發明(設計)人: | 胡明;馬雙云;崔珍珍;李明達;曾鵬;武雅喬;閆文君 | 申請(專利權)人: | 天津大學 |
| 主分類號: | B81C1/00 | 分類號: | B81C1/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限責任專利代理事務所 12201 | 代理人: | 張宏祥 |
| 地址: | 300072*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 低溫 制備 氧化鎢 納米 多孔 復合 結構 材料 方法 | ||
1.一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,具有如下步驟:?
(1)清洗硅基片襯底?
將p型、單面拋光、電阻率為10~15Ω·cm的單晶硅基片經過濃硫酸與過氧化氫混合溶液浸泡30~50分鐘,再經過氫氟酸水溶液浸泡20~40分鐘、丙酮溶劑超聲清洗5~15分鐘、無水乙醇超聲清洗5~15分鐘、去離子水中超聲清洗5~15分鐘,以除去表面油污、有機物雜質以及表面氧化層;?
(2)制備有序多孔硅?
采用雙槽電化學腐蝕法在清洗過的硅基片拋光表面制備多孔硅層,所用腐蝕電解液由質量分數40%的氫氟酸與質量分數40%的二甲基甲酰胺按照體積比為1:2組成,不添加表面活性劑和附加光照,施加的腐蝕電流密度為50~120mA/cm2,腐蝕時間為5~20min;?
(3)制備鎢薄膜與多孔硅復合結構材料?
將步驟(2)制得的多孔硅基底置于超高真空對靶磁控濺射設備的真空室。采用金屬鎢作為靶材,以氬氣作為工作氣體,氬氣氣體流量為30~50sccm,濺射工作壓強為2.0Pa,濺射功率80~100W,濺射時間15~30min,基片溫度為室溫,在多孔硅表面沉積金屬鎢薄膜,制備出鎢薄膜與多孔硅復合結構;?
(4)制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料?
將步驟(3)制備的鎢薄膜與多孔硅復合結構置于水平管式爐中,利用熱退火的方法,以氬氣作為工作氣體,氧氣作為反應氣體,氣體流量分別控制為30~40sccm和0.05~0.1sccm,退火溫度為600~750度,保溫時間為50~80min,本體真空度為1~5Pa,工作壓強為120~200Pa。?
2.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,所述步驟(1)的硅基片襯底的尺寸為2.4cm×0.9cm。?
3.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,所述步驟(2)制備的硅基微米尺寸孔道有序多孔硅平均孔徑1~2μm,厚度為8~15μm,孔隙率為35~45%。?
4.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,所述步驟(3)的制備條件為:采用的金屬鎢靶材為質量純度99.95%,以質量純度為99.999%的氬氣作為工作氣體,本底真空度4~6×10-4Pa,采用射頻磁控濺射法制備的鎢薄膜厚度100~200nm。?
5.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,所述步驟(3)的超高真空對靶磁控濺射設備的真空室為DPS-Ⅲ型超高真空對靶磁控濺射設備的真空室。?
6.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征?在于,所述步驟(4)的采用的水平管式爐為GSL-1400X管式爐。?
7.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,制備的氧化鎢納米線直徑為20~40nm,長度為1~2μm。?
8.根據權利要求1的一種低溫制備氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的方法,其特征在于,制備的氧化鎢納米線/多孔硅復合結構材料的一維與二維納米復合結構,氧化鎢納米線貫穿或分布在多孔硅基底的孔道內部或者表面。?
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