[發(fā)明專利]集成電路、用于存儲(chǔ)信息的系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310481300.1 | 申請(qǐng)日: | 2013-10-15 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103730169B | 公開(公告)日: | 2017-10-20 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | M-A.伊奧內(nèi)斯庫(kù);R-C.米亞爾圖;R.米赫斯庫(kù) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 英飛凌科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G11C29/44 | 分類號(hào): | G11C29/44;H03K19/00;G01D9/00 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司72001 | 代理人: | 王岳,胡莉莉 |
| 地址: | 德國(guó)瑙伊比*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 用于 存儲(chǔ) 信息 系統(tǒng) 方法 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明一般地涉及集成電路并且更具體地涉及通過(guò)集成電路傳感器裝置來(lái)存儲(chǔ)校準(zhǔn)和其它信息。
背景技術(shù)
傳感器裝置經(jīng)常需要在內(nèi)部存儲(chǔ)信息或數(shù)據(jù)以供傳感器在特定時(shí)間或在特定事件發(fā)生時(shí)使用。例如,磁場(chǎng)傳感器經(jīng)常生成并存儲(chǔ)校準(zhǔn)信息以在啟動(dòng)或一些其它時(shí)間使用。
然而,如果傳感器裝置經(jīng)歷重置事件或失電,可能丟失這個(gè)存儲(chǔ)的信息?;氐酱艌?chǎng)傳感器的示例,這些傳感器經(jīng)常用在機(jī)動(dòng)車應(yīng)用(諸如燃料噴射和其它引擎系統(tǒng))中,其中它們可能暴露于顯著的電磁干擾、與引擎啟動(dòng)和停止或其它源相關(guān)的電壓尖峰、或其它電力中斷。這些中斷可能引起供應(yīng)線電壓降到傳感器必要的最小值以下,即使達(dá)非常短的時(shí)間段,從而引起傳感器重置和電流校準(zhǔn)信息丟失。這是不期望的,因?yàn)閭鞲衅鞯睦鋯?dòng)需要校準(zhǔn)程序,校準(zhǔn)程序花費(fèi)額外的時(shí)間并且不能考慮到在實(shí)際操作條件期間獲得的校準(zhǔn)信息,實(shí)際操作條件能捕獲例如溫度和從啟動(dòng)起或通常隨著時(shí)間變化的其它實(shí)時(shí)特性。
相關(guān)的問(wèn)題是校準(zhǔn)信息的損壞。如果當(dāng)失電或重置發(fā)生時(shí)傳感器正在寫入到存儲(chǔ)器,則信息可能仍然被寫入到存儲(chǔ)器,但是那個(gè)信息可能是不完全的或損壞的。即使在電力中斷之后傳感器能夠保持信息(諸如通過(guò)使用外部電容器作為電力源),傳感器不能知道信息是不可靠的或未損壞的。使用那個(gè)信息可能在傳感器中導(dǎo)致降低的性能或錯(cuò)誤,出于明顯的原因這是不期望的。
發(fā)明內(nèi)容
實(shí)施例涉及用于在傳感器中可靠地存儲(chǔ)信息的系統(tǒng)和方法。
在實(shí)施例中,集成電路包括:第一存儲(chǔ)器部分,配置為存儲(chǔ)信息和有效性位;第二存儲(chǔ)器部分,配置為存儲(chǔ)信息和有效性位;以及電路,包括耦合到第一存儲(chǔ)器部分的第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路、耦合到第二存儲(chǔ)器部分的第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路、和耦合到第一和第二存儲(chǔ)器部分兩者的慢重置電路,其中如果第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第一存儲(chǔ)器部分被重置,如果第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第二存儲(chǔ)器部分被重置,并且如果慢重置電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第一和第二存儲(chǔ)器部分被重置。
在實(shí)施例中,方法包括:將第一存儲(chǔ)器部分的有效性位設(shè)置為第一值;將數(shù)據(jù)寫入到第一存儲(chǔ)器部分;將第一存儲(chǔ)器部分的有效性位設(shè)置為第二值;將第二存儲(chǔ)器部分的有效性位設(shè)置為第一值;將數(shù)據(jù)寫入到第二存儲(chǔ)器部分;以及將第二存儲(chǔ)器部分的有效性位設(shè)置為第二值。
在實(shí)施例中,裝置包括信息貯存器電路,信息貯存器電路包括:第一存儲(chǔ)器部分,配置為存儲(chǔ)信息和有效性位;第二存儲(chǔ)器部分,配置為存儲(chǔ)信息和有效性位;以及電路,包括耦合到第一存儲(chǔ)器部分的第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路、耦合到第二存儲(chǔ)器部分的第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路、和耦合到第一和第二存儲(chǔ)器部分兩者的慢重置電路,其中如果第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第一存儲(chǔ)器部分被重置,如果第二錯(cuò)誤檢測(cè)電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第二存儲(chǔ)器部分被重置,并且如果慢重置電路檢測(cè)到錯(cuò)誤,則第一和第二存儲(chǔ)器部分被重置;并且裝置還包括操作電路,操作電路配置為使用存儲(chǔ)在第一或第二存儲(chǔ)器部分中的至少一個(gè)中的信息。
附圖說(shuō)明
連同附圖考慮到后面的本發(fā)明各種實(shí)施例的詳細(xì)描述,可以更完全地理解本發(fā)明,其中:
圖1是根據(jù)實(shí)施例的包括信息貯存器電路的裝置的方框圖。
圖2是圖1的信息貯存器電路的電路方框圖。
圖3是根據(jù)實(shí)施例的貯存時(shí)間對(duì)溫度的曲線圖。
圖4是圖1和2的存儲(chǔ)器部分的方框圖。
圖5是根據(jù)實(shí)施例的寫入定時(shí)圖。
圖6是根據(jù)實(shí)施例的寫入過(guò)程的流程圖。
盡管本發(fā)明適用于各種修改和替代形式,但是其細(xì)節(jié)已通過(guò)示例的方式在附圖中示出并且將詳細(xì)地描述。然而,應(yīng)當(dāng)理解的是,意圖不將本發(fā)明限制于所描述的具體實(shí)施例。相反的,意圖是覆蓋落入如由所附權(quán)利要求限定的本發(fā)明精神和范圍內(nèi)的所有修改、等價(jià)物和替代方案。
具體實(shí)施方式
實(shí)施例涉及在傳感器或其它裝置中可靠地存儲(chǔ)信息。在一個(gè)實(shí)施例中,信息貯存器電路包括獨(dú)立的、冗余存儲(chǔ)器部分和錯(cuò)誤檢測(cè)電路。電路可以與存儲(chǔ)器寫入程序協(xié)作操作,存儲(chǔ)器寫入程序利用有效性位并且順序地寫入到冗余存儲(chǔ)器部分的一個(gè)或另一個(gè)以便存儲(chǔ)器部分中的至少一個(gè)具有有效的并且本身能被識(shí)別的數(shù)據(jù)。
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G11C 靜態(tài)存儲(chǔ)器
G11C29-00 存儲(chǔ)器正確運(yùn)行的校驗(yàn);備用或離線操作期間測(cè)試存儲(chǔ)器
G11C29-02 .損壞的備用電路的檢測(cè)或定位,例如,損壞的刷新計(jì)數(shù)器
G11C29-04 .損壞存儲(chǔ)元件的檢測(cè)或定位
G11C29-52 .存儲(chǔ)器內(nèi)量保護(hù);存儲(chǔ)器內(nèi)量中的錯(cuò)誤檢測(cè)
G11C29-54 .設(shè)計(jì)檢測(cè)電路的裝置,例如,可測(cè)試性設(shè)計(jì)
G11C29-56 .用于靜態(tài)存儲(chǔ)器的外部測(cè)試裝置,例如,自動(dòng)測(cè)試設(shè)備
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