[發(fā)明專利]采用氣體參考腔反饋補(bǔ)償?shù)陌雽?dǎo)體激光器氣體檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310479226.X | 申請(qǐng)日: | 2013-10-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103499545A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 駱飛;祝連慶;董明利;何巍;張蔭民 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京信息科技大學(xué) |
| 主分類號(hào): | G01N21/31 | 分類號(hào): | G01N21/31 |
| 代理公司: | 北京律恒立業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11416 | 代理人: | 顧珊;蔡艷園 |
| 地址: | 100085 北京市海淀區(qū)清*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 采用 氣體 參考 反饋 補(bǔ)償 半導(dǎo)體激光器 檢測(cè) 系統(tǒng) | ||
1.一種采用氣體參考腔補(bǔ)償?shù)陌雽?dǎo)體激光器氣體檢測(cè)系統(tǒng),所述系統(tǒng)包括發(fā)出作為檢測(cè)光束的第一波長光束的第一光源、發(fā)出作為參考光束的與所述第一波長不同的第二波長光束的第二光源,所述檢測(cè)光束的第一波長與待測(cè)氣體的特征吸收譜線相同;
與所述第一光源和第二光源連接的第一波分復(fù)用器,用于將載有不同波長的第一光束和第二光束的光信號(hào)合成一束進(jìn)行輸出;
與所述第一波分復(fù)用器連接的寬帶耦合器,所述寬帶耦合器用于將經(jīng)所述第一波分復(fù)用器合成后的激光按照一定的功率比例分配后分成兩路輸出;
參考?xì)馐遥ㄈ肱c待測(cè)氣體成分一致且濃度已知的參考?xì)怏w,并接收來自所述寬帶耦合器分配的第一路輸出光束并使其通過參考?xì)怏w;
檢測(cè)氣室,通入待測(cè)氣體,并接收來自所述寬帶耦合器分配的第二路輸出光束并使其通過待測(cè)氣體;
連接所述參考?xì)馐业牡诙ǚ謴?fù)用器,用于將經(jīng)過所述參考?xì)馐业墓馐凑账龅谝徊ㄩL和第二波長進(jìn)行分束;
連接所述檢測(cè)氣室的第三波分復(fù)用器,用于將經(jīng)過所述檢測(cè)氣室的光束按照所述第一波長和第二波長進(jìn)行分束;
第一光電檢測(cè)器,連接至所述第二波分復(fù)用器,接收經(jīng)過分束的第一波長的光束,生成第一光強(qiáng)度信號(hào);
第二光電檢測(cè)器,連接至所述第二波分復(fù)用器,接收經(jīng)過分束的第二波長的光束,生成第二光強(qiáng)度信號(hào);
第三光電檢測(cè)器,連接至所述第三波分復(fù)用器,接收經(jīng)過分束的第一波長的光束,生成第三光強(qiáng)度信號(hào);
第四光電檢測(cè)器,連接至所述第三波分復(fù)用器,接收經(jīng)過分束的第二波長的光束,生成第四光強(qiáng)度信號(hào);
反饋控制單元,接收所述第一光強(qiáng)度信號(hào)、第二光強(qiáng)度信號(hào)、第三光強(qiáng)度信號(hào)和第四光強(qiáng)度信號(hào)并進(jìn)行比較,并將比較結(jié)果轉(zhuǎn)換為反饋信號(hào)調(diào)節(jié)所述第一和第二光源。
2.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述寬帶耦合器按照1:1的功率比例分配兩路輸出。
3.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中反饋控制單元的反饋控制方法包括如下步驟:
a)判斷所述第一光源和第二光源的輸出是否穩(wěn)定,若不穩(wěn)定,輸出反饋控制信號(hào)調(diào)節(jié)所述光源的功率輸出直至穩(wěn)定;
b)判斷所述第一光源輸出的信號(hào)模式的波長范圍是否覆蓋待測(cè)氣體的特征譜線,若不覆蓋,則輸出反饋控制信號(hào)調(diào)節(jié)所述第一光源的輸出波長直至覆蓋;
c)判斷所述第二光強(qiáng)度信號(hào)和第四光強(qiáng)度信號(hào)的信號(hào)強(qiáng)度是否有差異,若有則將所述差異信號(hào)用于第一光強(qiáng)度信號(hào)和第三光強(qiáng)度信號(hào)的補(bǔ)償;
d)比較所述第一光強(qiáng)度信號(hào)和第三光強(qiáng)度信號(hào)的信號(hào)強(qiáng)度,得到待測(cè)氣體與參考?xì)怏w的濃度大小關(guān)系。
4.如權(quán)利要求3所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述步驟b)中通過比較所述第一或第三光強(qiáng)度信號(hào)的信號(hào)強(qiáng)度值是否顯著小于第二或第四光強(qiáng)度信號(hào)的信號(hào)強(qiáng)度來判斷是否覆蓋。
5.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),所述第一波分復(fù)用器、第二波分復(fù)用器和第三波分復(fù)用器是1×2的波分復(fù)用器。
6.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述第一光源和第二光源為分布反饋式半導(dǎo)體激光器。
7.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),還包括球面透鏡,用于分別將所述光束耦合進(jìn)入?yún)⒖細(xì)馐液蜋z測(cè)氣室并耦合出射。
8.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述檢測(cè)氣室包括用于在測(cè)量前通入待檢測(cè)氣體的氣體入口和排出氣體的氣體出口。
9.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述第二波長靠近被測(cè)氣體的吸收譜線,但其波長與所述第一波長相隔一段距離。
10.如權(quán)利要求1所述的氣體檢測(cè)系統(tǒng),其中所述寬帶耦合器為尾纖為1×2的寬帶耦合器。
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G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





