[發明專利]一種紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法無效
| 申請號: | 201310469892.5 | 申請日: | 2013-10-10 |
| 公開(公告)號: | CN103499430A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發明(設計)人: | 牛繼勇;李范鳴;岳振;朱承希 | 申請(專利權)人: | 中國科學院上海技術物理研究所 |
| 主分類號: | G01M11/00 | 分類號: | G01M11/00;G01N21/21 |
| 代理公司: | 上海新天專利代理有限公司 31213 | 代理人: | 郭英 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 紅外 自發輻射 偏振 特性 實驗 驗證 方法 | ||
技術領域:
本發明涉及目標樣板紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法,主要涉及在不引入額外的紅外偏振信息的前提下,如何減少目標樣板紅外輻射中的反射輻射,凸顯出紅外自發輻射,最終能夠通過紅外偏振探測系統實現目標樣板紅外自發輻射偏振數據的采集。
背景技術:
紅外偏振探測技術應用需求越來越大,其中對紅外自發輻射偏振特性的驗證分析現在顯得尤為關鍵,但是由于實驗條件的限制,對紅外自發輻射偏振特性的驗證與分析有一定的技術難度,很難屏蔽外界紅外輻射的影響。
目前科研工作者對紅外自發輻射的分析,僅僅是通過對目標樣板進行加熱,并沒有采取減少外界紅外輻射的措施,但是背景紅外輻射對目標樣板的影響比較大,并且紅外反射輻射的偏振特性異于自發輻射的偏振特性,因此在此實驗條件下將無法準確驗證和分析紅外自發輻射的偏振特性;對觀測角的控制也不夠精確,因此將無法得到某特定的目標樣板(材料、表面粗糙度)在特定觀測角度下的偏振信息,不能建立準確的數據庫。
因此本發明公開了一種紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法,采用該方法能夠大大降低外界紅外輻射對目標樣板的影響,最終可以有效地完成對目標紅外自發輻射偏振特性的驗證與分析。
發明內容:
本發明提供了一種目標樣板紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法,旨在解決在驗證與分析紅外自發輻射偏振特性實驗中,無法屏蔽外界紅外輻射影響的問題。
為解決上述問題,本發明的紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法的技術方案如下:
所述實驗方法包含組成部分有,制冷裝置、黑色腔體、數控轉臺、粘貼加熱片的樣板,偏振探測系統。各組成部分功能說明如下:
制冷裝置,營造一個低溫干燥的實驗條件;
黑色腔體,腔體內側涂有高吸收率的有機黑漆,有效的減少背景對目標樣板輻射的反射;
數控轉臺,精確調節目標樣板俯仰角度,以此來精確調節觀測角;
加熱裝置,采用硅橡膠加熱片對目標樣板加熱,提高目標樣板的紅外自發輻射能量;
偏振探測系統,為一分時紅外偏振探測系統,探測波段為3~5um,圖像象元數為256×256,完成紅外偏振數據的采集。
所述實驗方法包含以下步驟,第一步,在制冷裝置前端窗口放置偏振探測系統,并將黑色腔體放置在制冷裝置內;第二步,將加熱片粘貼于樣板背面,并固定在數控轉臺上,將數控轉臺放置于黑色腔體內并使樣板與探測系統在同一水平線上;第三步,采取密封措施,接通電源,制冷裝置到達指定溫度后,通過向數控轉臺發送指令不斷調節樣板俯仰角,利用偏振探測系統完成對樣板紅外自發輻射偏振信息的采集。
附圖說明:
圖1為本發明實施例的結構示意圖。
圖2為圖1中探測示意圖。
圖3為圖1中制冷裝置的結構示意圖。
圖4為圖1中黑色腔體的結構示意圖。
具體實施方式:
本發明的目標樣板紅外自發輻射偏振特性實驗驗證方法的實施例:如圖3和圖1所示,在制冷裝置前端窗口101處放置好偏振探測系統,用橡膠塞密封,并將黑色腔體2放置在制冷裝置1內;第二步,將加熱片粘貼于目標樣板4背面,并固定在數控轉臺3上,打開制冷裝置艙門102與黑色腔體艙門201將數控轉臺3放置于黑色腔體2內,并使目標樣板4與紅外偏振探測系統5處在同一水平線上,如圖2所示,觀測角6等于90°減去俯仰角7;第三步,通過小孔103和202引入電源插排,用橡膠塞密封,然后接通電源,制冷裝置2到達指定溫度后,通過向數控轉臺3發送指令來不斷調節樣板俯仰角7,利用紅外偏振探測系統5完成對目標樣板4的紅外自發輻射偏振信息的采集。
該實驗方法通過下述實驗裝置實現:該實驗裝置主要有制冷裝置1、黑色腔體2、數控轉臺3、粘貼加熱片的目標樣板4、紅外偏振探測系統5構成。制冷裝置1有除濕功能,制冷溫度可以穩定在1℃,制冷裝置101為一圓形窗口,放置探測器鏡頭,102是制冷裝置艙門,103是一小孔,方便引入電源線;黑色腔體表面涂覆高吸收率的有機黑漆,減少對目標樣板4的反射,201是腔體艙門,202是小孔,方便引入電源線;數控轉臺3,通過向轉臺發送指令調節俯仰角7;加熱片由合金電熱絲和硅橡膠高溫絕緣布組成,粘貼于目標樣板4背面,加熱均勻恒定。
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