[發明專利]內存測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201310465831.1
• 申請日: 2013-10-08
• 公開（公告）號: CN104517655A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 謝旻樺
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 李昕巍;趙根喜

技術領域

本發明是有關于一種測試方法及裝置，且特別是有關于一種內存測試方法及裝置。

背景技術

雙倍數據率（Double?Data?Rate，DDR）是一種基于同步動態隨機存取內存（Synchronous?Dynamic?Random?Access?Memory，SDRAM）的革命性內存技術，其提供一種高性能、低成本的內存解決方案。由于DDRSDRAM的數據傳送發生在時鐘脈沖訊號的兩個邊沿，而SDRAM僅在時鐘脈沖訊號的上升沿傳送數據，因此DDR?SDRAM的訪問速度可達到SDRAM的兩倍。與傳統的SDRAM相比，DDR還具有更低的功耗。

DDR?SDRAM主要用于個人計算機、服務器等產品，一般是設計成雙行內存模塊（Dual?In-Line?Memory?Module，DIMM）的形式，用來插在計算機主板的內存插槽上。而為了節省配置空間及成本，近來個人計算機的設計上，逐漸采用內建（On-board）的形式將內存直接燒在主板上。然而，當此內建內存發生損壞時，由于現行做法無法判別發生錯誤的內存顆粒，因此只能透過硬件的方式重新上過新的內存顆粒，結果往往導致整片主板作廢。

發明內容

本發明提供一種內存測試方法及裝置，可在內存初始化的過程中判斷內存是否損壞。

本發明提出一種內存測試方法，適于由電子裝置測試內存。此方法先掃描用以測試內存的時鐘脈沖訊號(DQS)的第一波形的左右邊界，以取得所述左右邊界的兩個交點之間的最大寬度。接著，取得內存輸出的數據訊號(DQ)的中央參考電壓，并取得此中央參考電壓與數據訊號的第二波形的左右邊界的兩個交點之間的數據寬度。最后，判斷數據寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，而當所述差值大于門檻值時，判斷內存損壞。

在本發明的一實施例中，上述的時鐘脈沖訊號包括兩個差分訊號，而上述掃描用以測試內存的時鐘脈沖訊號的第一波形的左右邊界，以取得左右邊界的兩個交點之間的最大寬度的步驟包括掃描兩個差分訊號的左右邊界的兩個交點，以取得左右邊界的兩個交點之間的最大寬度。

在本發明的一實施例中，上述判斷數據寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值的步驟更包括判斷數據寬度是否大于最大寬度，其中若數據寬度大于最大寬度，則直接以數據寬度與最大寬度的差值和門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值；若數據寬度小于最大寬度，則計算數據寬度與最大寬度的差值的絕對值，用以和門檻值比較，以判斷此差值的絕對值是否大于門檻值。

在本發明的一實施例中，上述的內存測試方法適于在電子裝置的基本輸入/輸出系統(BIOS)執行內存初始化時實施。

在本發明的一實施例中，上述取得中央參考電壓與數據訊號的第二波形的左右邊界的兩個交點之間的數據寬度，判斷數據寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，以判斷內存是否損壞的步驟包括針對內存中多個內存顆粒，依序取得中央參考電壓與各個內存顆粒輸出的數據訊號的第二波形的左右邊界的兩個交點之間的數據寬度，并判斷此數據寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，而當所述差值大于門檻值時，即可判斷內存顆粒損壞。

本發明提出一種內存測試裝置，其包括時鐘脈沖產生器、波形掃描器、數據分析器及比較器。其中，時鐘脈沖產生器耦接內存，產生用以測試內存的時鐘脈沖訊號，并輸出至內存。波形掃描器耦接時鐘脈沖產生器，用以掃描時鐘脈沖訊號的第一波形的左右邊界，以取得此左右邊界的兩個交點之間的最大寬度。數據分析器耦接內存，用以取得內存輸出的數據訊號的中央參考電壓，并取得此中央參考電壓與數據訊號的第二波形的左右邊界的兩個交點之間的數據寬度。比較器耦接波形產生器及數據分析器，用以判斷數據寬度與最大寬度的差值是否大于門檻值，并在判斷差值大于門檻值時，判斷內存損壞。

在本發明的一實施例中，上述的時鐘脈沖訊號包括兩個差分訊號，而上述的波形掃描器系掃描這兩個差分訊號的左右邊界的兩個交點，以取得左右邊界的兩個交點之間的最大寬度。

在本發明的一實施例中，上述的比較器更判斷數據寬度是否大于最大寬度，若數據寬度大于最大寬度，則直接以數據寬度與最大寬度的差值和門檻值比較，以判斷此差值是否大于門檻值，而若數據寬度小于最大寬度，則計算數據寬度與最大寬度的差值的絕對值，用以和門檻值比較，以判斷此差值的絕對值是否大于門檻值。

在本發明的一實施例中，上述的內存測試裝置是在配置所述內存的電子裝置的基本輸入/輸出系統執行內存初始化時實施內存測試。