[發明專利]內存測試方法及裝置

有效

• 申請號: 201310465831.1
• 申請日: 2013-10-08
• 公開（公告）號: CN104517655A
• 公開（公告）日: 2015-04-15
• 發明（設計）人: 謝旻樺
• 申請（專利權）人: 緯創資通股份有限公司
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 隆天知識產權代理有限公司 72003
• 代理人: 李昕巍;趙根喜

1.一種內存測試方法，適于由一電子裝置測試一內存，其特征在于，該方法包括下列步驟：

掃描用以測試該內存的一時鐘脈沖訊號的一第一波形的左右邊界，以取得該左右邊界的兩個交點之間的一最大寬度；

取得該內存輸出的一數據訊號的一中央參考電壓；

取得該中央參考電壓與該數據訊號的一第二波形的左右邊界的兩個交點之間的一數據寬度；

判斷該數據寬度與該最大寬度的一差值是否大于一門檻值；以及

當該差值大于該門檻值時，判斷該內存損壞。

2.根據權利要求1的內存測試方法，其中，該時鐘脈沖訊號包括兩個差分訊號，而掃描用以測試該內存的該時鐘脈沖訊號的該第一波形的該左右邊界，以取得該左右邊界的該兩個交點之間的該最大寬度的步驟包括：

掃描該兩個差分訊號的該左右邊界的該兩個交點，以取得該左右邊界的該兩個交點之間的該最大寬度。

3.根據權利要求1的內存測試方法，其中，判斷該數據寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值的步驟還包括：

判斷該數據寬度是否大于該最大寬度；

若該數據寬度大于該最大寬度，直接以該數據寬度與該最大寬度的該差值和該門檻值比較，以判斷該差值是否大于該門檻值；以及

若該數據寬度小于該最大寬度，計算該數據寬度與該最大寬度的該差值的一絕對值，用以和該門檻值比較，以判斷該差值的該絕對值是否大于該門檻值。

4.根據權利要求1的內存測試方法，其中，所述方法適于在該電子裝置的一基本輸入/輸出系統執行該內存初始化時實施。

5.根據權利要求1的內存測試方法，其中，取得該中央參考電壓與該數據訊號的該第二波形的該左右邊界的該兩個交點之間的該數據寬度，判斷該數據寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值，以判斷該內存是否損壞的步驟包括：

針對該內存中多個內存顆粒，依序取得該中央參考電壓與各所述內存顆粒輸出的該數據訊號的該第二波形的該左右邊界的該兩個交點之間的該數據寬度；

判斷該數據寬度與該最大寬度的該差值是否大于該門檻值；以及

當該差值大于該門檻值時，判斷該內存顆粒損壞。

6.根據權利要求1的內存測試方法，其中，該門檻值為該時鐘脈沖訊號與該數據訊號之間的一偏斜的正負值或是其倍數。

7.一種內存測試裝置，其特征在于，包括：

一時鐘脈沖產生器，耦接一內存，產生用以測試該內存的一時鐘脈沖訊號，并輸出至該內存；

一波形掃描器，耦接該時鐘脈沖產生器，掃描該時鐘脈沖訊號的一第一波形的左右邊界，以取得該左右邊界的兩個交點之間的一最大寬度；

一數據分析器，耦接該內存，取得該內存輸出的一數據訊號的一中央參考電壓，并取得該中央參考電壓與該數據訊號的一第二波形的左右邊界的兩個交點之間的一數據寬度；以及

一比較器，耦接該波形產生器及該數據分析器，判斷該數據寬度與該最大寬度的一差值是否大于一門檻值，并在判斷該差值大于該門檻值時，判斷該內存損壞。

8.根據權利要求7的內存測試裝置，其中，該時鐘脈沖訊號包括兩個差分訊號，而該波形掃描器掃描該兩個差分訊號的該左右邊界的該兩個交點，以取得該左右邊界的該兩個交點之間的該最大寬度。

9.根據權利要求7的內存測試裝置，其中，該比較器更判斷該數據寬度是否大于該最大寬度，若該數據寬度大于該最大寬度，直接以該數據寬度與該最大寬度的該差值和該門檻值比較，以判斷該差值是否大于該門檻值，而若該數據寬度小于該最大寬度，計算該數據寬度與該最大寬度的該差值的一絕對值，用以和該門檻值比較，以判斷該差值的該絕對值是否大于該門檻值。

10.根據權利要求7的內存測試裝置，其中，該內存測試裝置是在配置該內存的一電子裝置的一基本輸入/輸出系統執行該內存初始化時實施內存測試。