[發(fā)明專利]一種串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201310459669.2 | 申請(qǐng)日: | 2013-09-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103499729A | 公開(公告)日: | 2014-01-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 唐金昆;朱堅(jiān);王奇;顧保全 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司檢修試驗(yàn)中心 |
| 主分類號(hào): | G01R19/10 | 分類號(hào): | G01R19/10 |
| 代理公司: | 廣州科粵專利商標(biāo)代理有限公司 44001 | 代理人: | 黃培智 |
| 地址: | 510663 廣東省廣州市蘿崗*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 串聯(lián) 電容 補(bǔ)償 裝置 火花 間隙 壓電 容分壓 測(cè)量方法 | ||
1.一種串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,所述串聯(lián)電容器補(bǔ)償裝置包括至少兩個(gè)火花間隙支路和至少兩個(gè)電容支路,每個(gè)火花間隙支路包括至少一個(gè)火花間隙,每個(gè)電容支路包括至少一個(gè)電容,其中第一火花間隙支路與第一電容支路并聯(lián)形成第一火花電容支路,第二火花間隙支路與第二電容支路并聯(lián)形成第二火花電容支路,第一火花電容支路的一端為低壓端,第一火花電容支路的另一端與第二火花電容支路的一端串聯(lián),第二火花電容支路的另一端為高壓端,其特征在于,所述測(cè)量方法包括:
斷開第一電容支路與低壓端的電氣連接和/或斷開第二電容支路與高壓端的電氣連接;
在第一電容支路與第二電容支路兩端,分別施加相同的測(cè)試電壓,且所述測(cè)試電壓的頻率大于或等于500赫茲;
測(cè)量第一電容支路的電流得到第一電容支路電流,測(cè)量第二電容支路的電流得到第二電容支路電流;
以第一電容支路電流與第二電容支路電流的電流比的反比作為第一電容支路與第二電容支路的分壓比。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述第一火花間隙支路包括第一密封火花間隙,所述第二火花間隙支路包括第二密封火花間隙,所述第一電容支路包括第一電容,所述第二電容支路包括第二電容。
3.根據(jù)權(quán)利要求1-2任一項(xiàng)所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,采用電流測(cè)試裝置測(cè)量所述第一電容支路電流和第二電容支路電流。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述電流測(cè)試裝置為電流測(cè)試儀表,所述測(cè)試電壓的頻率為大于或等于500赫茲且小于或等于1500赫茲。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述第一火花間隙支路包括第一主火花間隙,所述第二火花間隙支路包括第二主火花間隙,所述第一電容支路包括第一電容和第二電容,所述第二電容支路包括第三電容和第四電容。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述串聯(lián)電容器補(bǔ)償裝置還包括第一密封火花間隙支路和第二密封火花間隙支路,所述第一密封火花間隙支路包括第一密封火花間隙,所述第二密封火花間隙支路包括第二密封火花間隙,所述第一電容與所述第一密封火花間隙支路并聯(lián)形成第一電容密封火花間隙支路,且所述第二電容與所述第二密封火花間隙支路并聯(lián)形成第二電容密封火花間隙支路,第一電容密封火花間隙支路與第二電容密封火花間隙支路串聯(lián)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,還包括:
在第一電容與第二電容兩端,分別施加相同的測(cè)試電壓;
測(cè)量第一電容的電流得到第一電容電流,測(cè)量第二電容的電流得到第二電容電流;
以第一電容電流與第二電容電流的電流比的反比作為第一電容與第二電容的分壓比。
8.根據(jù)權(quán)利要求5-7任一項(xiàng)所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,采用電流測(cè)試裝置測(cè)量所述第一電容電流和第二電容電流。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述電流測(cè)試裝置為電流測(cè)試儀表,所述測(cè)試電壓的頻率為大于或等于500赫茲且小于或等于1500赫茲。
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的串聯(lián)電容補(bǔ)償裝置火花間隙用均壓電容分壓比的測(cè)量方法,其特征在于,所述測(cè)試電壓小于或等于50伏特。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于中國(guó)南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司檢修試驗(yàn)中心,未經(jīng)中國(guó)南方電網(wǎng)有限責(zé)任公司超高壓輸電公司檢修試驗(yàn)中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201310459669.2/1.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 掩模版彎曲補(bǔ)償裝置、檢測(cè)補(bǔ)償系統(tǒng)及補(bǔ)償方法
- 半主動(dòng)升沉補(bǔ)償裝置控制系統(tǒng)
- 像素補(bǔ)償方法、裝置及電視
- 顯示面板的補(bǔ)償方法、補(bǔ)償裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 光學(xué)補(bǔ)償方法、光學(xué)補(bǔ)償系統(tǒng)、顯示方法和顯示裝置
- 一種光瞳補(bǔ)償裝置和光刻機(jī)
- 改善低壓差線性穩(wěn)壓器全負(fù)載穩(wěn)定性的補(bǔ)償方法及其電路
- 一種油量傳感器油位補(bǔ)償裝置
- 適用于長(zhǎng)線傳輸?shù)母咝阅茈妷貉a(bǔ)償器
- 一種多抽頭補(bǔ)償電抗器智能投切控制裝置實(shí)現(xiàn)方法





