[發明專利]濾光片缺陷特征參數選擇的熵方法

有效

• 申請號: 201310449476.9
• 申請日: 2013-09-24
• 公開（公告）號: CN103500336A
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發明（設計）人: 吳俊芳;劉桂雄;付夢瑤
• 申請（專利權）人: 華南理工大學
• 主分類號: G06K9/46
• 分類號: G06K9/46
• 代理公司: 北京天奇智新知識產權代理有限公司 11340
• 代理人: 李振文

1.濾光片缺陷特征參數選擇的熵方法，其特征在于，所述方法包括：

分割缺陷濾光片圖像中包含缺陷的外接矩形，形成缺陷ROI；

設置候選特征集F的元素，設置已選特征集S為空集；

計算所述缺陷ROI的特征值，通過特征值構造樣本集合；

計算樣本集合中所有樣本的候選特征f_if_k與類C的歸一化互信息SU(f_if_k,C)；

根據歸一化互信息SU(f_if_k,C)最大值選出已選特征集S的第一個元素s₁；去除候選特征集F中已選入S的特征及歸一化互信息SU(f_if_k,C)小于閾值的候選特征；

計算候選特征集F中每個候選特征f_if_k的評價函數J(f_if_k,C,S)的值；根據評價函數J(f_if_k,C,S)最大值選出已選特征集S的下一個元素；去除候選特征集F中已選入S的特征及評價函數J(f_if_k,C,S)小于閾值的候選特征；重復該步驟，直至候選特征集F為空集；

已選特征集S的元素即為濾光片缺陷特征參數。

2.根據權利要求1所述的濾光片缺陷特征參數選擇的熵方法，其特征在于，所述候選特征集F中的元素稱為候選特征f_if_k，當i=k時f_if_k表示單一特征f_i，當i≠k時f_if_k表示f_i與f_k的組合特征。

3.根據權利要求1所述的濾光片缺陷特征參數選擇的熵方法，其特征在于，所述通過特征值構造樣本是對每個缺陷ROI計算指定的D個特征，由D個特征值及特征值的兩兩組合構成候選特征的一個樣本。

4.根據權利要求1所述的濾光片缺陷特征參數選擇的熵方法，其特征在于，所述歸一化互信息SU(f_if_k,C)與評價函數J(f_if_k,C,S)均轉化為熵值來計算，計算時先將候選特征的連續取值離散化，再按熵的公式計算。