[發明專利]晶粒雙面篩盤有效
| 申請號: | 201310443910.2 | 申請日: | 2013-09-26 |
| 公開(公告)號: | CN103489816A | 公開(公告)日: | 2014-01-01 |
| 發明(設計)人: | 黃建山;陳建華;張練佳;梅余峰 | 申請(專利權)人: | 如皋市易達電子有限責任公司 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67;B07B1/28;B07B1/46 |
| 代理公司: | 北京匯信合知識產權代理有限公司 11335 | 代理人: | 孫民興;王維新 |
| 地址: | 226561 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 晶粒 雙面 | ||
技術領域
????本發明涉及微電子領域的一種半導體元器件的制造工具,具體地說是一種可以將GPP芯片按N端面和P端面交叉排列的晶粒雙面篩盤。
背景技術
在半導體元器件生產制造中,其生產中的半導體晶片分N端面和P端面,常規篩盤無法區分出GPP芯片的N端面和P端面,且無法按工藝要求使篩盤上GPP芯片按N端面和P端面交叉排列,傳統的操作工藝是通過從藍膜上剝離,手工進行排列,操作手續復雜,且無法保證一致性、效率低容易出錯。
發明內容
本發明的目的是克服現有技術的不足,提供一種能有效將GPP芯片的N端面和P端面交叉排列的晶粒雙面篩盤。
本發明是通過以下技術方案實現的:
一種晶粒雙面篩盤,由篩盤框和篩盤組成,篩盤位于篩盤框上面,其特征在于:晶粒雙面篩盤由正面篩盤和反面篩盤構成,正反篩盤通過轉軸相連接,反面篩盤通過轉軸旋轉180o與正面篩盤相復合,正面篩盤和反面篩盤呈軸對稱,篩盤有縱橫整齊排列的篩選孔,篩盤的篩選孔直徑與所篩晶片的N面相同,篩選孔底部有排氣孔,篩盤框為密閉空腔,排氣孔與篩盤框密閉空腔相通;篩盤上篩選孔可設置縱向覆蓋板可根據工藝需要覆蓋篩選孔;所述的篩盤框側面有吸氣孔,吸氣孔與真空泵相連。
本發明與現有技術相比具有以下有益效果:
1.區分極性成功率高;
2.可交叉極性排列;
3.操作方便,效率高。
附圖說明
圖1為晶粒雙面篩盤結構示意圖;
圖2為GPP晶片所示圖。
圖中:篩盤框1、篩選孔2、吸氣孔3、篩盤4、N面5、P面6、轉軸7和覆蓋板8。
具體實施方式
下面結合附圖和具體應用對本發明的內容做進一步的描述:
如圖所示為晶粒雙面篩盤結構示意圖,包括篩盤框1、篩選孔2、吸氣孔3、篩盤4、N面5、P面6、轉軸7和覆蓋板8。晶粒雙面篩盤由正面篩盤和反面篩盤構成,正反篩盤通過轉軸相連接,反面篩盤可通過轉軸旋轉180o與正面篩盤相復合,為達到篩盤上晶片的排列為N面和P面交叉排列的目的,在正面篩盤的2、4、6列用覆蓋板8覆蓋,反面篩盤的1、3、5列用覆蓋板8覆蓋,將晶片在篩盤上搖動,使晶片的N面落入篩選孔2內,然后移去正面篩盤的覆蓋板,將反面篩盤沿轉軸旋轉180o與正面篩盤相復合,釋放反面篩盤吸氣,使反面篩盤2、4、6列的晶片落入正面篩盤的對應篩盤孔內,晶片N面落入篩選孔2內是因GPP芯片P面要比N面要小得多,而且P面溝道刮玻璃粉后,平整度不及N面,人工搖芯片時,比重重的容易在下方,輕的在上方。為高效區分出芯片的極性P面?、N面。通過工程人員對GPP芯片的外觀形狀進行研究,芯片兩邊比重不一,在搖動篩板時,芯片撞擊后,重的一側容易被吸住,GPP芯片兩面的面積有大小之分,P面在吸孔位置容易漏氣,吸不住,吸住的一定是N面。區分極性成功率可達到99%。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





