[發(fā)明專利]電致發(fā)光裝置及其制備方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310436180.3 | 申請日: | 2013-09-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN103474453A | 公開(公告)日: | 2013-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 程鴻飛;張玉欣 | 申請(專利權(quán))人: | 京東方科技集團(tuán)股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L27/32 | 分類號(hào): | H01L27/32;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京中博世達(dá)專利商標(biāo)代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 100015 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 電致發(fā)光 裝置 及其 制備 方法 | ||
1.一種電致發(fā)光裝置,包括:陣列基板;所述陣列基板包括:基板,依次設(shè)置于所述基板上的薄膜晶體管,覆蓋于所述薄膜晶體管之上的保護(hù)層,以及設(shè)置在所述保護(hù)層之上的連接電極;其特征在于,
所述連接電極下方的保護(hù)層向遠(yuǎn)離基板的一側(cè)凸起,形成凸臺(tái);
所述保護(hù)層在對應(yīng)薄膜晶體管漏極的位置設(shè)置有保護(hù)層過孔,所述連接電極通過所述保護(hù)層過孔與所述薄膜晶體管的漏極連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,
所述保護(hù)層過孔位于所述凸臺(tái)上。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,
所述保護(hù)層過孔位于所述凸臺(tái)的一側(cè),所述連接電極覆蓋所述凸臺(tái)及所述保護(hù)層過孔。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述連接電極的厚度為0.3~1微米。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述保護(hù)層的總厚度為2~4微米,所述凸臺(tái)的臺(tái)階高度為1.5~2.5微米。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述連接電極選用下述材料中一種或幾種制成:
銅、鉬、錫、鋁、銀。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的裝置,其特征在于,所述保護(hù)層選用下述材料中一種或幾種制成:
氮化硅,氧化硅,或者感光樹脂。
8.根據(jù)權(quán)利要求1-7任一項(xiàng)所述的裝置,其特征在于,還包括:彩膜基板;所述彩膜基板包括:第二基板,依次設(shè)置于所述第二基板上的彩色濾光層,平坦層,第一電極、有機(jī)發(fā)光層和第二電極;
所述第二電極與所述連接電極接觸且電連接。
9.一種電致發(fā)光裝置的制備方法,包括:彩膜基板制程,陣列基板制程,彩膜基板和陣列基板對盒制程,其特征在于,所述陣列基板制程,包括:
步驟1、在基板上形成薄膜晶體管;
步驟2、在形成有薄膜晶體管的基板上形成保護(hù)層,并通過構(gòu)圖工藝在后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置形成凸臺(tái),在對應(yīng)薄膜晶體管漏極的位置形成保護(hù)層過孔;
步驟3、在所述保護(hù)層之上形成連接電極,所述連接電極通過所述保護(hù)層過孔與所述薄膜晶體管的漏極相連。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的制備方法,其特征在于,步驟2中采用多階曝光工藝在后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置形成凸臺(tái),在對應(yīng)薄膜晶體管漏極的位置形成保護(hù)層過孔。
11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的制備方法,其特征在于,所述采用多階曝光工藝在后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置形成凸臺(tái),在對應(yīng)薄膜晶體管漏極的位置形成保護(hù)層過孔,具體包括:
形成保護(hù)層,并在所述保護(hù)層上涂覆光刻膠;
進(jìn)行多階曝光,經(jīng)過顯影后,在所述保護(hù)層上形成光刻膠圖案,使得所述光刻膠圖案中,
在后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置保留第一厚度的光刻膠,在薄膜晶體管漏極上方后續(xù)形成保護(hù)層過孔的預(yù)設(shè)位置不保留光刻膠,除所述連接電極的預(yù)設(shè)位置、所述保護(hù)層過孔的預(yù)設(shè)位置之外區(qū)域保留第二厚度的光刻膠,且所述第一厚度大于所述第二厚度;
進(jìn)行刻蝕,去除露出的保護(hù)層,形成所述保護(hù)層過孔;
進(jìn)行灰化處理,去除第二厚度對應(yīng)區(qū)域的光刻膠;
進(jìn)行刻蝕,去除第二厚度對應(yīng)區(qū)域露出的所述保護(hù)層,形成凸臺(tái);
剝離第一厚度對應(yīng)區(qū)域剩余的光刻膠。
12.根據(jù)權(quán)利要求9所述的制備方法,其特征在于,步驟2具體包括:
在形成有薄膜晶體管的基板上形成保護(hù)層;
在所述保護(hù)層上涂覆光刻膠,采用構(gòu)圖工藝在所述保護(hù)層上后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置形成凸臺(tái);
再次涂覆光刻膠,第二次采用構(gòu)圖工藝在薄膜晶體管漏極上方后續(xù)形成保護(hù)層過孔的預(yù)設(shè)位置形成保護(hù)層過孔。
13.根據(jù)權(quán)利要求9所述的制備方法,其特征在于,所述保護(hù)層選用感光樹脂制成時(shí),步驟2具體包括:
在形成有薄膜晶體管的基板上,涂敷感光樹脂形成保護(hù)層;
通過多階曝光顯影或者兩次曝光顯影,在所述保護(hù)層上后續(xù)形成連接電極的預(yù)設(shè)位置形成凸臺(tái),并在薄膜晶體管漏極上方后續(xù)形成保護(hù)層過孔的預(yù)設(shè)位置形成保護(hù)層過孔。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個(gè)共用襯底內(nèi)或其上形成的多個(gè)半導(dǎo)體或其他固態(tài)組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導(dǎo)體組件并且至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個(gè)躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導(dǎo)體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發(fā)射并且包括至少有一個(gè)電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導(dǎo)體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結(jié)點(diǎn)的熱電元件的;包括有熱磁組件的





