[發明專利]一種數據校驗方法無效
| 申請號: | 201310429135.5 | 申請日: | 2013-09-22 |
| 公開(公告)號: | CN103544070A | 公開(公告)日: | 2014-01-29 |
| 發明(設計)人: | 侯豐花 | 申請(專利權)人: | 侯豐花 |
| 主分類號: | G06F11/00 | 分類號: | G06F11/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 110164 遼寧省沈陽*** | 國省代碼: | 遼寧;21 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 數據 校驗 方法 | ||
技術領域:
本發明屬于計算機技術領域,特別涉及一種數據校驗方法。
背景技術:
目前,大多數數據校驗方法復雜,函數過于復雜,程序編制困難,多停留在理論階段。
發明內容:
本發明針對現有技術的不足,提供一種數據校驗方法。
包括如下步驟:
步驟1、將數據按照時域或者頻域等方法繪制成曲線(可以是多維曲線);
步驟2、將步驟1的曲線近似模擬成線性函數,或者多段簡單函數或者低維函數;
步驟3、?將步驟2的函數編程;
步驟4、將步驟1的數據帶入函數校驗;
步驟5、校驗成功則結束,校驗不成功返回步驟1重新選擇繪制函數方法。
本發明的優點:簡單,方便,可操作性高。?
具體實施方式:
本發明通過以下實施例進行說明:
一種數據校驗方法,包括如下步驟:
步驟1、將數據按照時域或者頻域等方法繪制成曲線(可以是多維曲線);
步驟2、將步驟1的曲線近似模擬成線性函數,或者多段簡單函數或者低維函數;
步驟3、?將步驟2的函數編程;
步驟4、將步驟1的數據帶入函數校驗;
步驟5、校驗成功則結束,校驗不成功返回步驟1重新選擇繪制函數方法。
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