[發明專利]一種自動測量定日鏡表面清潔度的方法及系統有效
| 申請號： | 201310422288.7 | 申請日： | 2013-09-16 |
| 公開（公告）號： | CN103512903A | 公開（公告）日： | 2014-01-15 |
| 發明（設計）人： | 周慧;李曉波;付杰;沈煥波;徐能 | 申請（專利權）人： | 青海中控太陽能發電有限公司 |
| 主分類號： | G01N21/94 | 分類號： | G01N21/94 |
| 代理公司： | 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236 | 代理人： | 胡晶 |
| 地址： | 817000 青海省海西蒙古族*** | 國省代碼： | 青海;63 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 自動 測量 定日 表面 清潔 方法 系統 | ||
1.一種自動測量定日鏡表面清潔度的方法，其特征在于，?
建立待測定日鏡表面清潔度的數學模型；?
提取標準鏡投射到接收面上的光斑圖像，移走標準鏡后，提取此時接收面上的背景圖像；?
提取待測鏡投射到接收面上的光斑圖像，移走待測鏡后，提取此時接收面上的背景圖像；?
將得到的標準鏡的光斑圖像、背景圖像以及待測鏡的光斑圖像、背景圖像應用于所述數學模型，得到待測定日鏡表面清潔度。?
2.如權利要求1所述的自動測量定日鏡表面清潔度的方法，其特征在于，所述標準鏡的光斑圖像、背景圖像包括標準鏡投射到接收面上的光斑圖像的灰度和?以及移走標準鏡時接收面上的背景圖像的灰度和所述待測鏡的光斑圖像、背景圖像包括待測鏡投射到接收面上的光斑圖像的灰度和以及移走待測鏡時接收面上的背景圖像的灰度和
3.如權利要求2所述的自動測量定日鏡表面清潔度的方法，其特征在于，所述數學模型為?
其中，所述待測定日鏡表面清潔度；?
標準鏡的陰影遮擋效率；?
待測鏡的陰影遮擋效率；?
其中由標準鏡的光斑圖像、背景圖像以及待測?鏡的光斑圖像、背景圖像中提取，由理論計算或仿真測試獲得。?
4.如權利要求3所述的自動測量定日鏡表面清潔度的方法，其特征在于，所述測定日鏡表面清潔度的數學模型的建立過程為：?
建立定日鏡表面清潔度的數學模型?
標準定日鏡表面清潔度為
待測定日鏡表面清潔度為
綜合兩式得到
最后得到待測鏡表面清潔度的表達式為?
5.如權利要求1所述的自動測量定日鏡表面清潔度的方法，其特征在于，所述特定相機為CCD相機。?
6.一種自動測量定日鏡表面清潔度的系統，包括標準鏡與接收面，其特征在于，還包括?
圖像接收單元：用于提取標準鏡投射到接收面上的光斑圖像，移走標準鏡后，提取此時接收面上的背景圖像；提取待測鏡投射到接收面上的光斑圖像，?移走待測鏡后，提取此時接收面上的背景圖像；?
計算處理單元：接收將得到的標準鏡的光斑圖像、背景圖像以及待測鏡的光斑圖像、背景圖像，將所述標準鏡的光斑圖像、背景圖像以及待測鏡的光斑圖像、背景圖像應用于內置的待測定日鏡表面清潔度的數學模型得到待測定日鏡表面清潔度。?
7.如權利要求6所述的自動測量定日鏡表面清潔度的系統，其特征在于，所述標準鏡的光斑圖像、背景圖像包括標準鏡投射到接收面上的光斑圖像的灰度和?以及移走標準鏡時接收面上的背景圖像的灰度和所述待測鏡的光斑圖像、背景圖像包括待測鏡投射到接收面上的光斑圖像的灰度和以及移走待測鏡時接收面上的背景圖像的灰度和
8.如權利要求7所述的自動測量定日鏡表面清潔度的系統，其特征在于，所述數學模型為?
其中，所述ηclr2：待測定日鏡表面清潔度；?
ηsb1：標準鏡的陰影遮擋效率；?
ηsb2：待測鏡的陰影遮擋效率；?
其中由標準鏡的光斑圖像、背景圖像以及待測鏡的光斑圖像、背景圖像中提取，可由理論仿真亦可進行測試獲得。?
9.如權利要求8所述的自動測量定日鏡表面清潔度的系統，其特點在于，所述測定日鏡表面清潔度的數學模型的建立過程為：?
建立定日鏡表面清潔度的數學模型
標準定日鏡表面清潔度為
待測定日鏡表面清潔度為
綜合兩式得到
最后得到待測鏡表面清潔度的表達式為?
。
10.如權利要求1所述的自動測量定日鏡表面清潔度的系統，其特征在于，所述特定相機為CCD相機。?
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