[發明專利]一種折線對比分析相似度的方法有效

申請號：	201310420053.4	申請日：	2013-09-13
公開（公告）號：	CN103473458B	公開（公告）日：	2017-02-08
發明（設計）人：	王錦龍;范淵;楊永清	申請（專利權）人：	杭州安恒信息技術有限公司
主分類號：	G06F19/00	分類號：	G06F19/00
代理公司：	暫無信息	代理人：	暫無信息
地址：	310051 浙江省杭州***	國省代碼：	浙江;33
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種折線對比分析相似方法
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【說明書】：

技術領域

本發明涉及一種計算機軟件，尤其是涉及一種計算機軟件中關于兩條折線的相似程度的對比方法。

背景技術

一些對數據的挖掘、分析的過程中，需要將一些離散的數據構成的平面坐標點進行分析，從而得出這些平面坐標點之間的相互關系。若存在先后關系的兩組數據構成的平面坐標點構成兩條有先后關系的兩條折線，若要通過計算機分析這兩條折線的相似度，也是破解這兩組數據的關聯度的重要且有效的步驟。??但是現有的軟件中，對兩條折線的相似度的判斷非常粗略，其可靠性不高。

發明內容

本發明主要是解決現有技術所存在的判斷兩條折線的相似度非常粗略，可靠性不高的技術問題，提供一種能夠數據化，且精確、可靠的判斷兩條折線的精確度的折線對比分析相似度的方法。

1.??本發明的上述技術問題主要是通過下述技術方案得以解決的：一種折線對比分析相似度的方法，它包括初始A坐標存儲模塊、初始B坐標存儲模塊、合并坐標模塊、計算模塊，其特征在于，它包括如下步驟：

1、????在初始A坐標存儲模塊儲存有折線LineA坐標，在初始B坐標存儲模塊儲存有折線LineB的坐標，AXmin、?BXmin分別為LineA的X軸區間與LineB的X軸區間的最小值，AXmax、BXma?x分別為LineA的X軸區間與LineB的X軸區間的最大值，將LineA的X軸區間與LineB的X軸區間均輸入合并坐標模塊，獲得X軸合并區間[Xmin,Xmax]，其中Xmin為AXmin,?BXmin中的最小值，其中Xmax為AXmax,BXmax中的最大值；

2、????將LineA在合并區間上沒有采樣點的時間段上，為LineA生成新的采樣點，將LineB在合并區間上沒有采樣點的時間段（X軸單位）上，為LineB生成新的采樣點；

3、????在計算模塊內設有兩個區位用于保存偏離度，分別為直接偏離累計值區位AmpAcc、方差偏離累計值區位SqrAcc、并將AmpAcc和SqrAcc初始化為0，計算模塊內還設有兩個區位用于保存偏離基數，分別為直接偏離累計值基準區位AmpAccBase、方差偏離累計值基準區位SqrAccBase，將AmpAccBase和SqrAccBase也初始化為0；

4、????對合并區間[Xmin,Xmax]設于分段長度SegLen，SegLen的長度為1個X軸時間段的倍數,?將LineA，LineB的所有采樣點，按照SegLen進行匯總分段，若N為自然數，則第N個分段SegN對應X軸合并缺件的X軸時間段為[N,?N+SegLen]區間，包含從時間段編號1到N+SegLen的所有時間段，SegN的Y軸取值為相應時間段的采樣點的Y軸取值的累加和，最終得到兩條新的匯總折線LineSA，LineSB；

5、????按照分段，從第一個分段Seg1到最后一個分段，進行遍歷：

(1)對于當前分段SegC，將LineSA與LineSB在當前分段的Y軸取值進行相減然后取絕對值獲得直接偏離AmpC，對AmpC進行乘方獲得方差偏離AmpS；

(2)將AmpC加到AmpAcc上，實現AmpAcc對于所有分段的直接偏離的累計；

(3)將AmpS加到SqrAcc上，實現AmpSqr對于所有分段的方差偏離的累計；

(4)將LineSA的當前取值的絕對值累加到AmpAccBase上，將LineSA的當前取值的絕對值的乘方累加到SqrAccBase上，獲得兩個偏離指標基準；

遍歷結束后得到的AmpAcc代表了所有分段的直接偏離量的累計，而SqrAcc代表了所有分段的偏離乘方的累計；

6、????獲得兩個偏離度指標：

直接偏離百分比（AmpPer）：AmpPer?=?AmpAcc?/?AmpAccBase?*?100%；

方差偏離百分比（SqrPer）：SqrPer?=?SqrAcc?/?SqrAccBase?*?100%；

7、????獲得兩個耦合度指標：

直接耦合百分比（AmpFitPer）：AmpFitPer?=?100%?-?AmpPer；

方差耦合百分比（SqrFitPer）：SqrFitPer?=?100%?-?SqrPer。