[發明專利]一種折線對比分析相似度的方法

有效

• 申請號: 201310420053.4
• 申請日: 2013-09-13
• 公開（公告）號: CN103473458B
• 公開（公告）日: 2017-02-08
• 發明（設計）人: 王錦龍;范淵;楊永清
• 申請（專利權）人: 杭州安恒信息技術有限公司
• 主分類號: G06F19/00
• 分類號: G06F19/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種折線對比分析相似度的方法，它包括初始A坐標存儲模塊、初始B坐標存儲模塊、合并坐標模塊、計算模塊，其特征在于，它包括如下步驟：

1）、在初始A坐標存儲模塊儲存有折線LineA坐標，在初始B坐標存儲模塊儲存有折線LineB的坐標，AXmin、?BXmin分別為LineA的X軸區間與LineB的X軸區間的最小值，AXmax、BXma?x分別為LineA的X軸區間與LineB的X軸區間的最大值，將LineA的X軸區間與LineB的X軸區間均輸入合并坐標模塊，獲得X軸合并區間[Xmin,Xmax]，其中Xmin為AXmin,?BXmin中的最小值，其中Xmax為AXmax,BXmax中的最大值；

2）、將LineA在合并區間上沒有采樣點的時間段上，為LineA生成新的采樣點，將LineB在合并區間上沒有采樣點的時間段（X軸單位）上，為LineB生成新的采樣點；

3）、在計算模塊內設有兩個區位用于保存偏離度，分別為直接偏離累計值區位AmpAcc、方差偏離累計值區位SqrAcc、并將AmpAcc和SqrAcc初始化為0，計算模塊內還設有兩個區位用于保存偏離基數，分別為直接偏離累計值基準區位AmpAccBase、方差偏離累計值基準區位SqrAccBase，將AmpAccBase和SqrAccBase也初始化為0；

4）、對合并區間[Xmin,Xmax]設于分段長度SegLen，SegLen的長度為1個X軸時間段的倍數,?將LineA，LineB的所有采樣點，按照SegLen進行匯總分段，若N為自然數，則第N個分段SegN對應X軸合并缺件的X軸時間段為[N,?N+SegLen]區間，包含從時間段編號1到N+SegLen的所有時間段，SegN的Y軸取值為相應時間段的采樣點的Y軸取值的累加和，最終得到兩條新的匯總折線LineSA，LineSB；

5）、按照分段，從第一個分段Seg1到最后一個分段，進行遍歷：

（1）對于當前分段SegC，將LineSA與LineSB在當前分段的Y軸取值進行相減然后取絕對值獲得直接偏離AmpC，對AmpC進行乘方獲得方差偏離AmpS；

（2）將AmpC加到AmpAcc上，實現AmpAcc對于所有分段的直接偏離的累計；

（3）將AmpS加到SqrAcc上，實現AmpSqr對于所有分段的方差偏離的累計；

（4）將LineSA的當前取值的絕對值累加到AmpAccBase上，將LineSA的當前取值的絕對值的乘方累加到SqrAccBase上，獲得兩個偏離指標基準；

遍歷結束后得到的AmpAcc代表了所有分段的直接偏離量的累計，而SqrAcc代表了所有分段的偏離乘方的累計；

6）、獲得兩個偏離度指標：

直接偏離百分比（AmpPer）：AmpPer?=?AmpAcc?/?AmpAccBase?*?100%；

方差偏離百分比（SqrPer）：SqrPer?=?SqrAcc?/?SqrAccBase?*?100%；

7）、獲得兩個耦合度指標：

直接耦合百分比（AmpFitPer）：AmpFitPer?=?100%?-?AmpPer；

方差耦合百分比（SqrFitPer）：SqrFitPer?=?100%?-?SqrPer。

2.根據權利要求1所述的一種折線對比分析相似度的方法，其特征在于所述的SegLen的長度可在1個X軸時間段到20%的X軸合并區間[Xmin,Xmax]的長度范圍內進行選擇。