[發(fā)明專利]端子壓接狀態(tài)的檢查方法及其檢查裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201310418674.9 | 申請日： | 2013-09-13 |
| 公開（公告）號： | CN103682936A | 公開（公告）日： | 2014-03-26 |
| 發(fā)明（設計）人： | 山口裕司 | 申請（專利權）人： | 矢崎總業(yè)株式會社 |
| 主分類號： | H01R43/00 | 分類號： | H01R43/00;H01R4/18;G01R31/02 |
| 代理公司： | 北京泛誠知識產權代理有限公司 11298 | 代理人： | 陳波;朱弋 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 端子 狀態(tài) 檢查 方法 及其 裝置 | ||
1.一種端子壓接狀態(tài)的檢查方法，其特征在于，包括：
基于合格品樣品的端子壓力波形和不合格品樣品的端子壓力波形計算公差，將所述公差設定為檢查條件的檢查條件設定步驟；
取得所述合格品樣品的端子壓力波形的平均值作為參考波形，計算所述參考波形的端子壓力值的參考波形取得步驟；
取得端子壓接時的端子壓力波形作為檢查對象的檢查波形，計算所述檢查波形的端子壓力值的檢查波形取得步驟；和
基于所述參考波形取得步驟中所取得的所述參考波形的所述端子壓力值、以及所述檢查波形取得步驟中所取得的所述檢查波形的所述端子壓力值，判定所述端子壓接是否合格的合格與否判定步驟。
2.根據權利要求1所述的端子壓接狀態(tài)的檢查方法，其特征在于，在所述合格與否判定步驟中，
計算所述參考波形取得步驟中所取得的所述參考波形的端子壓力值和所述檢查波形取得步驟中所取得的所述檢查波形的所述端子壓力值的差值，當所得到的所述端子壓力值的差值小于所述檢查條件設定步驟中作為所述檢查條件設定的所述公差時，判定為合格；當所得到的所述端子壓力值的差值大于所述公差時，判定為不合格。
3.根據權利要求1所述的端子壓接狀態(tài)的檢查方法，其特征在于，所述檢查條件設定步驟包括：
計算所述合格品樣品的所述端子壓力波形與所述不合格品樣品的所述端子壓力波形之差的端子壓力波形差計算步驟；
計算所述端子壓力波形差計算步驟中計算而得的所述端子壓力波形差為最大值時的時刻的最大值時刻計算步驟；和
計算所述最大值時刻計算步驟中計算而得的所述時刻時的所述合格品樣品的所述端子壓力波形的標準離差和平均值，基于所得到的所述標準離差和所述平均值計算所述公差的公差計算步驟。
4.根據權利要求2所述的端子壓接狀態(tài)的檢查方法，其特征在于，所述檢查條件設定步驟包括：
所述檢查條件設定步驟包括：
計算所述合格品樣品的所述端子壓力波形與所述不合格品樣品的所述端子壓力波形之差的端子壓力波形差計算步驟；
計算所述端子壓力波形差計算步驟中計算而得的所述端子壓力波形差為最大值時的時刻的最大值時刻計算步驟；和
計算所述最大值時刻計算步驟中計算而得的所述時刻時的所述合格品樣品的所述端子壓力波形的標準離差和平均值，基于所得到的所述標準離差和所述平均值計算所述公差的公差計算步驟。
5.一種端子壓接狀態(tài)的檢查裝置，其特征在于，包括：
基于合格品樣品的端子壓力波形和不合格品樣品的端子壓力波形計算公差，將所述公差設定為檢查條件的檢查條件設定部；
取得所述合格品樣品的端子壓力波形的平均值作為參考波形，計算所述參考波形的端子壓力值的參考波形取得部；
取得端子壓接時的端子壓力波形作為檢查對象的檢查波形，計算所述檢查波形的端子壓力值的檢查波形取得部；和
基于所述參考波形取得部所取得的所述參考波形的所述端子壓力值、以及所述檢查波形取得部所取得的所述檢查波形的所述端子壓力值，判定所述端子壓接是否合格的合格與否判定部。
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