[發(fā)明專利]一種高精度螺旋測微儀

無效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310417914.3
• 申請日: 2013-09-16
• 公開（公告）號(hào): CN104457475A
• 公開（公告）日: 2015-03-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 簡文秀
• 申請（專利權(quán)）人: 上海偉陽紙業(yè)有限公司
• 主分類號(hào): G01B3/18
• 分類號(hào): G01B3/18
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及機(jī)械設(shè)備領(lǐng)域，具體涉及一種高精度螺旋測微儀。

背景技術(shù)

隨著社會(huì)生產(chǎn)的發(fā)展，機(jī)械行業(yè)的快速發(fā)展，大量的工業(yè)工具被生產(chǎn)、使用，在生產(chǎn)中常會(huì)進(jìn)行測量作業(yè)，有長度、寬度、高度、直徑測量等等，對于測量來說，準(zhǔn)確度是生命，而千分尺無疑是測量小型工件尺寸中準(zhǔn)確度最高的一種儀器，申請?zhí)枮镃N201220154510.0公開了一種螺旋測微儀，涉及測量工具領(lǐng)域，千分尺的起點(diǎn)都是0，實(shí)際操作過程中，由于使用不當(dāng)，初始狀態(tài)多少和上述要求不符，即有一個(gè)不等于零的讀數(shù)，零差為負(fù)工人往往會(huì)犯錯(cuò)，導(dǎo)致測量結(jié)果錯(cuò)誤，為克服千分尺起點(diǎn)刻度為零帶來的讀數(shù)不便，本發(fā)明將千分尺的主尺刻度向左移動(dòng)一定的距離，將螺旋測微儀的主尺向左邊移動(dòng)1-3mm，本刻度方法回歸長度等于兩坐標(biāo)之差的本質(zhì)，可以不再使用零差的概念；可以避免負(fù)零差帶來的讀數(shù)不便，但是該千分尺，測量實(shí)物時(shí)，無法保證實(shí)物與測砧和測微螺桿在同一水平線上，不利于測量的進(jìn)行，測量精度低。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的是提供一種高精度螺旋測微儀，以解決現(xiàn)有技術(shù)中導(dǎo)致的上述多項(xiàng)缺陷。

本發(fā)明所解決的技術(shù)問題可以采用以下技術(shù)方案來實(shí)現(xiàn)：一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架和測微螺桿，所述固定支架上設(shè)有測砧，所述測微螺桿上設(shè)有螺母套筒、微分筒和棘輪，所述測微螺桿上設(shè)有可見光發(fā)射裝置，所述測砧上設(shè)有凹槽，所述可見光發(fā)射裝置與凹槽在同一水平線上，所述凹槽的寬度為8~10mm。

優(yōu)選的，所述固定支架上設(shè)有圓槽。

優(yōu)選的，所述固定支架上設(shè)有支撐底座。

優(yōu)選的，所述支撐底座與固定支架為卡接。

優(yōu)選的，所述圓槽直徑為8~10cm。

本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)在于：測量實(shí)物時(shí)，可在實(shí)物上劃一條線，測微螺桿發(fā)射可見光，移動(dòng)實(shí)物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結(jié)構(gòu)合理，適于推廣使用，凹槽可放置劃線筆，便于在實(shí)物上面劃線，制成底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實(shí)物，卡接保證了底座與支架的活動(dòng)連接，不使用底座時(shí)，可將底座從支架上拆卸下來，方便實(shí)用。

附圖說明

圖1是本發(fā)明所述的一種高精度螺旋測微儀的主視圖。

圖2是本發(fā)明所述的一種高精度螺旋測微儀固定支架的側(cè)視圖。

其中：1—固定支架，2—測微螺桿，3—測砧，4—螺母套筒，5—微分筒，6—棘輪，7—可見光發(fā)射裝置，8—凹槽，9—圓槽，10—支撐底座。

具體實(shí)施方式

為了使本發(fā)明實(shí)現(xiàn)的技術(shù)手段、創(chuàng)作特征、達(dá)成目的與功效易于明白了解，下面結(jié)合具體圖示，進(jìn)一步闡述本發(fā)明。

如圖1和圖2所示，本發(fā)明所述的一種高精度螺旋測微儀，包括固定支架1和測微螺桿2，所述固定支架1上設(shè)有測砧3，所述測微螺桿2上設(shè)有螺母套筒4、微分筒5和棘輪6，所述測微螺桿2上設(shè)有可見光發(fā)射裝置7，所述測砧3上設(shè)有凹槽8，所述可見光發(fā)射裝置7發(fā)出的可見光與凹槽8在同一水平線上，所述凹槽8的寬度為8~10mm，測量實(shí)物時(shí)，可在實(shí)物上劃一條線，測微螺桿發(fā)射可見光，移動(dòng)實(shí)物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結(jié)構(gòu)合理，適于推廣使用。

值得注意的是，所述固定支架1上設(shè)有圓槽9，凹槽可放置劃線筆，便于在實(shí)物上面劃線，所述固定支架1上設(shè)有支撐底座10，支撐底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實(shí)物，所述支撐底座10與固定支架1為卡接，卡接保證了底座與支架的活動(dòng)連接，不使用底座時(shí)，可將底座從支架上拆卸下來，所述圓槽9直徑為8~10cm，方便實(shí)用。

此外，所述測微螺桿2和測砧3應(yīng)定時(shí)清理污漬，以免影響測量精準(zhǔn)度。

基于上述，測量實(shí)物時(shí)，可在實(shí)物上劃一條線，測微螺桿發(fā)射可見光，移動(dòng)實(shí)物使其上線條與可見光以及凹槽在同一水平線上，提高所測尺寸的精度，結(jié)構(gòu)合理，適于推廣使用，凹槽可放置劃線筆，便于在實(shí)物上面劃線，支撐底座可將千分尺放置于桌面上測量，便于測量不同類型的實(shí)物，卡接保證了底座與支架的活動(dòng)連接，不使用底座時(shí)，可將底座從支架上拆卸下來，方便實(shí)用。

以上顯示和描述了發(fā)明的基本原理和主要特征和本發(fā)明的優(yōu)點(diǎn)。本行業(yè)的技術(shù)人員應(yīng)該了解，本發(fā)明不受上述實(shí)施例的限制，上述實(shí)施例和說明書中的描述只是說明本發(fā)明的原理，在不脫離本發(fā)明精神和范圍的前提下，本發(fā)明還會(huì)有各種變化和改進(jìn)，這些變化和改進(jìn)都在要求保護(hù)的本發(fā)明范圍內(nèi)，本發(fā)明要求保護(hù)范圍由所附的權(quán)利要求書及其等效物界定。