[發明專利]單面印刷電路板開路和短路測試裝置

無效

• 申請號: 201310408042.4
• 申請日: 2013-09-10
• 公開（公告）號: CN103675583A
• 公開（公告）日: 2014-03-26
• 發明（設計）人: 李軍
• 申請（專利權）人: 鎮江華印電路板有限公司
• 主分類號: G01R31/02
• 分類號: G01R31/02
• 代理公司: 南京蘇高專利商標事務所(普通合伙) 32204
• 代理人: 柏尚春

技術領域

該發明涉及一種電路板的測試裝置，特別涉及一種單面印刷電路板開路和短路測試裝置。

背景技術

傳統的印制電路板測試裝置采用多層的環氧板制作測試針板，由于測試探針為易損品，所以在測試裝置制作時通常采用在針板上固定套管，再在套管中放置測試探針，這樣無形中增加了探針與探針間的距離。而隨著電子產品的輕薄化，印制電路板的線路越來越密集，尤其是IC（半導體元件）腳寬度、間距基本為0.2mm，甚至更小，傳統的測試治具根本無法完成測試。產品不經過通斷測試，無法確保交付客戶使用的產品質量，市場風險巨大。而制作一幅高精度的測試裝置動輒好幾萬元，而且由于測試探針過細，容易折斷，后期的維修費用高昂，增加了生產成本。

發明內容

發明目的：本發明的目的是提供一種通過全開路測試和全短路測試來實現線路密集的半導體元件的開路和短路測試的單面印刷電路板開路和短路測試裝置。

技術方案：一種單面印刷電路板開路和短路測試裝置,包括全短路測試蓋板和全開路測試蓋板，所述全短路測試蓋板和全開路測試蓋板上分別設有與待測電路板上的連接腳數量相同、位置相同的測試腳，所述全短路測試蓋板上的測試腳相互導通，所述全開路測試蓋板上的測試腳相互斷開。

所述全短路測試蓋板測試表面加工有環形槽，所述環形槽連接全短路測試蓋板上的各測試腳，所述環形槽內固定安裝有導電膠。測試時通過導電膠連接各測試腳，實現全短路測試

為了更加有效地隔離待測電路板各連接腳，所述全開路測試蓋板上的測試腳為相互獨立的方形通孔。測試時將待測電路板的連接腳置于相應的通孔內。

測試方法：第一次測試時使用全開路測試蓋板進行測試，如果顯示全開路說明產品沒有發生短路，如測試顯示連接說明產品中有短路發生，產品為不良品；將第一次全開路測試合格的電路板進行第二次全短路測試，如果顯示全短路，說明線路沒有發生開路不良，如果測試線路開路說明產品中有開路發生，產品不良；兩次測試全部合格的產品最終判定OK，可以確保產品無開路、短路不良。

有益效果：通過全短路測試蓋板和全開路測試蓋板實現了線路密集的電路板的開路和短路的測試，成本低，制作簡單，避免了價格和維修成本高昂的治具費用投入。降低了生產成本，提高了出廠產品的可靠性。

附圖說明

圖1為本發明全短路測試蓋板的結構示意圖；

圖2為本發明全開路測試蓋板的結構示意圖。

具體實施方式

下面結合附圖對本發明作進一步說明。

如圖1所示，一種單面印刷電路板開路和短路測試裝置的全短路測試蓋板1，所述全短路測試蓋板1上設有與待測電路板上的連接腳數量相同、位置相同的測試腳3，所述全短路測試蓋板1上的測試腳3相互導通。所述全短路測試蓋板1測試表面加工有環形槽4，所述環形槽4連接全短路測試蓋板1上的各測試腳3，所述環形槽4內固定安裝有導電膠。

如圖2所示，一種單面印刷電路板開路和短路測試裝置的全開路測試蓋板2，所述全開路測試蓋板2分別設有與待測電路板上的連接腳數量相同、位置相同的測試腳3，所述全開路測試蓋板2上的測試腳3相互斷開。所述全開路測試蓋板2上的測試腳3為相互獨立的方形通孔。