[發明專利]一種超輕元素碳的電子探針線分析定量檢驗方法無效
| 申請號： | 201310401157.0 | 申請日： | 2013-09-06 |
| 公開（公告）號： | CN103454300A | 公開（公告）日： | 2013-12-18 |
| 發明（設計）人： | 李文竹;嚴平沅;馬惠霞;鐘莉莉;黃磊 | 申請（專利權）人： | 鞍鋼股份有限公司 |
| 主分類號： | G01N23/225 | 分類號： | G01N23/225 |
| 代理公司： | 鞍山華惠專利事務所 21213 | 代理人： | 趙長芳 |
| 地址： | 114021 *** | 國省代碼： | 遼寧;21 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 輕元素 電子探針 分析 定量 檢驗 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種超輕元素碳的電子探針線分析定量檢驗方法，其特征在于，利用電子探針面掃描模式獲取碳校正曲線，對線掃描分析后的待測樣品進行碳含量定量分析；其具體方法為：
（1）、選取典型化學成分的光譜光譜分析用標準樣品標樣，制作成10×10mm電子探針碳標樣5-9個，其碳含量在0.003?wt%-0.12?wt%之間分散分布；
（2）、磨制電子探針標樣和待測樣品，并用不含碳的材料拋光；拋光后，再用超聲波清洗，去除制樣過程中在標樣和待測樣品表面殘留的污染物；
（3）、在200-500倍光學顯微鏡下觀察標樣和待測樣品表面，確認無污染及其他缺陷；?
（4）、將標樣和待測樣品一起放入電子探針樣品室；選擇加速電壓15-25kV，束流100-300nA，束斑尺寸20-50μm作為分析參數；
（5）、對標樣采用面掃描模式得到碳的校正曲線，面掃描區域為0.5-3mm；
（6）、采用與步驟（4）相同的試驗條件，對待測樣品進行線掃描分析；
（7）、應用碳的校正曲線對待測樣品線掃描分析結果進行碳含量定量比對分析。
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