[發明專利]晶圓級攝像模組WLC自動測試插座

無效

• 申請號: 201310393482.7
• 申請日: 2013-09-03
• 公開（公告）號: CN103439540A
• 公開（公告）日: 2013-12-11
• 發明（設計）人: 朱小剛;柳慧敏
• 申請（專利權）人: 蘇州創瑞機電科技有限公司
• 主分類號: G01R1/04
• 分類號: G01R1/04;G01R31/26
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

技術領域

本發明涉及一種芯片測試設備，特別是一種晶圓級攝像模組WLC自動測試插座。

背景技術

晶圓級攝像模組WLC系列是目前美國APTINAIMAGING公司和昆山西鈦QTECH研發的一種新型CMOS芯片成像集成系統，其用于CMOS圖像傳感器的封裝，是由硅通孔技術TSV(ThroughSilicon?Via)和晶圓級攝像鏡頭WLO(Wafer?Level?Optical)WLO組裝起來形成的攝像對模組。

目前由于大多數的CMOS成像模組是采用加載柔性線路板，進行SMT組裝，結構上比較復雜，由于元器件較多，所實現功能沒有WLC成像模組直接，可靠。相應所催生的現有模組測試插座是適用于現有攝像模組的結構，進行功能測試，一般采用ICT探針進行檢測，結構復雜，容易產生開路和短路現象；穩定性較差，同時測試壽命大大降低；對現有的機構，基本采用手動測試，自動測試系統由于其機構復雜，沒有完全實現；

此外，目前市場上少有的測試插座會采用SEMI-CONTACTOR探針(POGO?PIN)進行檢測，由于其測試點為柔性線路板，接觸點上定位比較困難，可靠性上存在很大的問題，測試效率不高。

發明內容

本發明的目的在于提供一種晶圓級攝像模組WLC自動測試插座，其能與不同測試機臺兼容，實現對WLC模組的自動、高效、準確的測試，且不致損傷模組和芯片，從而克服了現有技術中的不足。

為實現上述發明目的，本發明采用了如下技術方案：

一種晶圓級攝像模組WLC自動測試插座，包括底座、模組放置結構和光源單元，所述底座與PCB轉接板連接，所述底座包括安裝于插座保持框內的測試單元，所述測試單元包括復數根測試探針以及沿遠離PCB轉接板的方向依次分布的探針保持主體和探針保持板，所述模組放置結構包括放置保持框和浮動板，所述放置保持框上設有至少一模組放置槽，所述浮動板設置于模組放置槽和探針保持主體之間，所述光源單元包括置于暗箱內的LED燈板和標準圖版，所述模組放置槽、連接在放置保持框上的鏡頭、LED燈板和標準圖版沿遠離PCB轉接板的方向依次分布。

進一步的，所述測試探針采用半導體測試探針。

所述測試探針內設有彈簧。

本發明的工作原理在于，通過將被測試WLC模組(以下簡稱“測試模組”)置于該插座內，隨著暗室內光源的明暗變化，該模組中的CSP芯片通過WLO鏡頭(即，測試鏡頭)對圖像的采集，將光學信號輸入CSP芯片中的感光區，將光學信號轉成電流信號，并由測試探針將信號傳輸到PCB轉接板，并將電流信號輸入外設測試設備，在外設測試設備內將電流信號轉成數字信號，重新生成圖像信號；通過對適時生成的圖像參數和原有的標準圖像進行對比，判斷是否滿足設計要求。

前述測試探針采用的是半導體測試用探針(POGO?PIN)，可實現信號的微衰減，確保了測試的穩定性和可靠性；

通過設置前述探針保持架，可解決操作人員和機臺操作時放置測試模組精確定位問題，同時放置易操作，機臺操作方便性大大增強，通過和測試機臺的配合，滿足產品測試達到產能要求：小時測試量高于4KPCS芯片。

與現有技術相比，本發明至少具有如下優點：

(1)該測試插座操作簡單，使用方便，適用于WLC模組的測試和功能驗證：

(2)該測試插座中采用定位精確的浮板結構，能有效保護測試模組和芯片的結構不被測試損壞，延長探針的使用壽命：

(3)該測試插座中上蓋部分材料優選采用鋁合金，其能利用高精度的CNC加成，確保了各項使用功能要求，而底座部分材料優選采用符合環保要求的TORLON4203，其亦可通過高精度的CNC加成完成，確保了各項尺寸精度要求；

(4)該測試插座可以滿足10萬次的IC檢測壽命，且小時測試量達到3KPCS以上，并能滿足配合不同廠家的機臺測試要求。

附圖說明

圖1是本發明一較佳實施例的結構示意圖；

圖2是本發明一較佳實施例中底座的結構示意圖；

圖3是本發明一較佳實施例中模組放置結構示意圖；

圖4是本發明一較佳實施例中光源部分的結構示意圖；

圖5是本發明一較佳實施例于非測試狀態下的結構示意圖；

圖6是本發明一較佳實施例于測試狀態下的結構示意圖；