[發明專利]一種聚偏氟乙烯微米球管的制備方法

有效

• 申請號: 201310371134.X
• 申請日: 2013-08-23
• 公開（公告）號: CN103497459A
• 公開（公告）日: 2014-01-08
• 發明（設計）人: 王海軍;馮會平;趙庭山;王學川
• 申請（專利權）人: 陜西科技大學
• 主分類號: C08L27/16
• 分類號: C08L27/16;C08J3/12;C08J5/00;B82B3/00;B82Y40/00
• 代理公司: 西安西達專利代理有限責任公司 61202
• 代理人: 第五思軍

1.一種聚偏氟乙烯微米球管的制備方法，其特征在于，包括有以下步驟：

1）首先把聚偏氟乙烯與聚丙烯酸丁酯（質量百分比）30%～70%的混合物加熱到195～205℃，保溫10min消除熱歷史，隨后將混合熔體以50℃/min的速率迅速降溫到170℃；

2）利用聚甲基硅氧烷板施加10⁴～10⁵Pa壓力給熔體施加剪切應力，在170℃下靜置15天，使聚偏氟乙烯結晶；

3）將結晶完全的共混物浸泡在氯仿溶液中蝕刻掉聚丙烯酸酯成分，浸泡三天后，共混物只剩余聚偏氟乙烯晶體，將聚偏氟乙烯晶體取出后烘干，用掃描電鏡檢測可得到聚偏氟乙烯微米球管。

2.根據權利要求1所述的一種制備聚偏氟乙烯微米球管的方法，其特征在于，包括有以下步驟：

1）首先把聚偏氟乙烯（質量百分比）70%與聚丙烯酸丁酯（質量百分比）30%的混合物加熱到195℃保溫10min消除熱歷史，隨后將混合熔體以50?℃/min的速率迅速降溫到170℃；

2）利用聚甲基硅氧烷板施加10⁴Pa壓力給熔體施加剪切應力，在170℃下靜置15天，使聚偏氟乙烯結晶；

3）將結晶完全的共混物浸泡在氯仿溶液中蝕刻掉聚丙烯酸酯成分，浸泡三天后，共混物只剩余聚偏氟乙烯晶體，將聚偏氟乙烯晶體取出后烘干，用掃描電鏡檢測可得到聚偏氟乙烯微米球管。

3.根據權利要求1所述的一種聚偏氟乙烯微米球管的制備方法，其特征在于，包括有以下步驟：

1）首先把聚偏氟乙烯（質量百分比）50%與聚丙烯酸丁酯（質量百分比）50%的混合物加熱到200℃保溫10min消除熱歷史，隨后將混合熔體以50?℃/min的速率迅速降溫到170℃；

2）利用聚甲基硅氧烷板施加10⁵Pa壓力給熔體施加剪切應力，在170℃下靜置15天，使聚偏氟乙烯結晶；?

3）將結晶完全的共混物浸泡在氯仿溶液中蝕刻掉聚丙烯酸酯成分，浸泡三天后，共混物只剩余聚偏氟乙烯晶體，將聚偏氟乙烯晶體取出后烘干，用掃描電鏡檢測可得到聚偏氟乙烯微米管。

4.根據權利要求1所述的一種聚偏氟乙烯微米球管的制備方法，其特征在于，包括有以下步驟：

1）首先把聚偏氟乙烯（質量百分比）30%與聚丙烯酸丁酯（質量百分比）70%的混合物加熱到205℃保溫10min消除熱歷史，隨后將混合熔體以50?℃/min的速率迅速降溫到170℃；

2）利用聚甲基硅氧烷板施加10⁵Pa壓力給熔體施加剪切應力，在170℃下靜置15天，使聚偏氟乙烯結晶；

3）將結晶完全的共混物浸泡在氯仿溶液中蝕刻掉聚丙烯酸酯成分，浸泡三天后，共混物只剩余聚偏氟乙烯晶體，將聚偏氟乙烯晶體取出后烘干，用掃描電鏡檢測可得到聚偏氟乙烯微米球管。