[發明專利]用于檢測液體折射率的傳感器有效
| 申請號： | 201310360490.1 | 申請日： | 2013-08-16 |
| 公開（公告）號： | CN103424377A | 公開（公告）日： | 2013-12-04 |
| 發明（設計）人： | 裴梓任;黃元申;王中飛;凌進中;王琦;張大偉;莊松林 | 申請（專利權）人： | 上海理工大學 |
| 主分類號： | G01N21/41 | 分類號： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 上海脫穎律師事務所 31259 | 代理人： | 脫穎 |
| 地址： | 200093 *** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 用于 檢測 液體 折射率 傳感器 | ||
1.一種傳感器，包括：
第一金屬光柵偏振器，包含透明平面基底以及在基底上形成的金屬光柵層；
第二金屬光柵偏振器，與第一金屬光柵偏振器結構完全相同，并布置成與第一金屬光柵偏振器平行隔開并成正對關系；
設置在第一金屬光柵偏振器外側的光源，光源發出的光線具有恒定入射光強且垂直透過第一金屬光柵偏振器并指向第二金屬光柵偏振器；以及
設置在第二金屬光柵偏振器外側的光電探測器，用于檢測透過第二金屬光柵偏振器的光線的出射光強。
2.權利要求1所述的傳感器，還包括覆蓋在第一金屬光柵偏振器的金屬光柵層上的第一透明蓋片以及覆蓋在第二金屬光柵偏振器的金屬光柵層上的第二透明蓋片，其中第一透明蓋片與第二透明蓋片相互面對。
3.權利要求1所述的傳感器，其中第一金屬光柵偏振器的基底與第二金屬光柵偏振器的基底直接相互面對。
4.權利要求1所述的傳感器，還包括覆蓋在第一金屬光柵偏振器的基底上的第一透明蓋片以及覆蓋在第二金屬光柵偏振器的基底上的第二透明蓋片，其中第一透明蓋片與第二透明蓋片相互面對。
5.權利要求1所述的傳感器，其中光源為波長600nm的單色激光二極管。
6.權利要求1所述的傳感器，其中基底厚度為1mm左右，金屬光柵為鋁光柵，光柵槽形為矩形，光柵周期為100nm，金屬光柵脊寬為50nm以及光柵槽深為50nm。
7.一種用于檢測液體折射率的方法，包括：
提供第一金屬光柵偏振器，第一金屬光柵偏振器包含透明平面基底以及在基底上形成的金屬光柵層；
提供與第一金屬光柵偏振器結構完全相同的第二金屬光柵偏振器，第二金屬光柵偏振器布置成與第一金屬光柵偏振器平行隔開并成正對關系；
使待測液體從第一金屬光柵偏振器和第二金屬光柵偏振器之間通過；
從第一金屬光柵偏振器外側施加垂直透過第一金屬光柵偏振器并指向第二金屬光柵偏振器的具有恒定入射光強的光線；
檢測透過第二金屬光柵偏振器的光線的出射光強；以及
根據光線透過第二金屬光柵偏振器之后的出射光強與光線未透過第一金屬光柵偏振器時的入射光強之比求得待測液體的折射率。
8.權利要求7所述的方法，還包括：
在第一金屬光柵偏振器的金屬光柵層上覆蓋第一透明蓋片以及在第二金屬光柵偏振器的金屬光柵層上覆蓋第二透明蓋片并使第一透明蓋片與第二透明蓋片相互面對。
9.權利要求7所述的方法，其中第一金屬光柵偏振器的基底與第二金屬光柵偏振器的基底直接相互面對。
10.權利要求7所述的方法，其中所施加的光線為波長600nm的單色光。
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