[發(fā)明專利]用于運行被配置為測試器件的自動測試系統(tǒng)的方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201310356671.7
• 申請日: 2004-06-12
• 公開（公告）號: CN103454578A
• 公開（公告）日: 2013-12-18
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 斯蒂芬·J·霍特亞克;阿蘭·L·布利茨;蘭德爾·B·斯廷森
• 申請（專利權(quán)）人: 泰拉丁公司
• 主分類號: G01R31/319
• 分類號: G01R31/319
• 代理公司: 中原信達知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11219
• 代理人: 戚傳江;穆德駿

本申請是的申請日為2004年6月12日、國際申請?zhí)枮镻CT/US2004/018664、國際公開號為WO2005/003798、中國申請?zhí)枮?00480021044.7、發(fā)明名稱為“具有容易修改的軟件的自動測試系統(tǒng)”的分案申請。

相關(guān)申請

本申請要求2003年4月28日提交、名稱為“Automatic?Test?System?with?Easily?Modified?Software”的美國專利申請60/466,127的優(yōu)先權(quán)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明一般涉及軟件體系結(jié)構(gòu)，具體涉及自動測試系統(tǒng)的軟件。

背景技術(shù)

在半導(dǎo)體器件的制造中使用自動測試系統(tǒng)（一般稱為“測試機”）。通常，在半導(dǎo)體器件制造期間，在多于一個的階段對其進行測試，并且根據(jù)測試結(jié)果來確定該器件的進一步處理。在某些情況下，廢棄未通過測試的器件。在有些情況中，可以修復(fù)器件。例如，器件可構(gòu)造有冗余電路。如果經(jīng)測試找到了器件的故障部分，那么可以斷開故障電路并在它的位置連接冗余電路元件。在另外一些情況下，通過測試對部件進行分級。例如，一些器件只能在特定速度范圍內(nèi)運行，或之能在一定溫度范圍內(nèi)運行，這可能低于該器件預(yù)期的運行范圍。可以把這些器件與其他完全滿足設(shè)計要求的器件分開，然后作為較低等級的部件進行特定包裝或銷售。無論響應(yīng)該測試進行何種特定活動，測試都是制造過程中的一個重要部分。

非常希望自動測試系統(tǒng)盡可能易于使用。提供軟件是實現(xiàn)易于使用的一種方法。

Proskauer等的名稱為“Low?Cost,Easy?To?Use?Automatic?Test?System?Software”的美國專利5,910,895描述了一種用于自動測試系統(tǒng)的軟件系統(tǒng)，其基于使用商品化的spread?sheet程序，來定義測試程序所需的數(shù)據(jù)和程序流。Blitz的名稱為“System?For?Storing?And?Searching?Named?Device?For?Parameter?Data?In?A?Test?System?For?Testing?An?Integrated?Circuit”的美國專利6,047,293描述了一種便于測試系統(tǒng)編程的軟件。名稱為“Production?Interface?For?An?Integrated?Circuit?Test?System”美國專利5,828,674描述了一種軟件系統(tǒng)，也用于自動測試設(shè)備，它使得可方便地向自動測試系統(tǒng)提供用戶接口。Kittross等于1999年10月12日提交的名稱為“Easy?to?Program?Automatic?Test?Equipment”的美國專利申請09/417034描述了一種自動測試系統(tǒng)，其使用編程技術(shù)的組合來支持測試的便捷編程，同時允許編寫非常復(fù)雜的程序。前面所述的這些都通過引用結(jié)合于此作為參考。

上述各專利都轉(zhuǎn)讓給了美國馬薩諸塞州波士頓的Teradyne公司。Teradyne為它的測試系統(tǒng)提供一種稱為IG-XL的非常成功的編程環(huán)境，其采用了上述專利中所述的技術(shù)。

盡管該編程環(huán)境是成功的，但還是希望提供一種改進的軟件環(huán)境。我們已經(jīng)認(rèn)識到需要改進的一個原因，由于傳統(tǒng)的自動測試環(huán)境的軟件包含用于運行測試機硬件的驅(qū)動程序。傳統(tǒng)上，測試機包括特別適于特定測試功能的硬件儀器。例如，一些儀器產(chǎn)生或測量RF信號。其他有些儀器產(chǎn)生數(shù)字信號，而有些只執(zhí)行測試半導(dǎo)體存儲器的功能。用于測試系統(tǒng)的儀器常常在該測試系統(tǒng)發(fā)布之后開發(fā)，這是由于認(rèn)識到需要新儀器，或是由于在開發(fā)測試系統(tǒng)時不可能同時得到所有的儀器。

隨著新的儀器被開發(fā)出來，軟件環(huán)境必須修改，以便加入對新儀器的控制。傳統(tǒng)上，通過發(fā)布軟件的新版本來修改軟件。對于測試機，發(fā)布新軟件有時可能是不利的。半導(dǎo)體制造商常常要“驗證”他們編寫的用來測試所制造的半導(dǎo)體的程序。驗證步驟對于半導(dǎo)體制造商而言是重要的，這可以使他們在很高的程度上相信：通過了測試的器件實際上是好的器件，而沒有通過測試的器件實際上是有缺陷的器件。如果發(fā)布了軟件的新版本，半導(dǎo)體制造商可能必須重新驗證其全部測試程序。

由于在半導(dǎo)體工業(yè)中技術(shù)進展的快速步伐，我們還認(rèn)識到需要改進的另一個原因。被開發(fā)的新一代器件通常比其前一代更大更快，需要新的測試機。非常希望能夠?qū)π乱淮钠骷焖匍_發(fā)測試程序，即使它們是在新測試機上測試。

發(fā)明內(nèi)容

鑒于前面背景技術(shù)中的問題，本發(fā)明的一個目的是提供一種測試系統(tǒng)，可被容易地重新編程以控制新儀器而無需重新加載基本軟件。