[發明專利]光學測量設備和運載工具

有效

• 申請號: 201310338031.3
• 申請日: 2013-08-06
• 公開（公告）號: CN103576209A
• 公開（公告）日: 2014-02-12
• 發明（設計）人: 仲村忠司;今井重明
• 申請（專利權）人: 株式會社理光
• 主分類號: G01V8/10
• 分類號: G01V8/10;G01S17/08
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 吳俊

1.一種光學測量設備，包括：

第一光源；

光學元件，構造成聚集從所述第一光源發出的光束；

光照射器，構造成將所述光束照射到目標上；以及

光電檢測器，構造成檢測所述光束的從所述目標穿過成像系統的反射光或散射光，所述光束照射到所述目標上，

其中，從所述第一光源到通過所述光學元件形成的第一光源第一共軛象的第一光路長度與從所述光電檢測器到通過所述成像系統形成的光電檢測器第二共軛象的第二光路長度至少在第一方向上不同。

2.如權利要求1所述的光學測量設備，還包括：

偏轉器，構造成使穿過所述光學元件的所述光束偏轉和掃描，其中所述偏轉器布置在所述照射器的下游，

其中，當所述偏轉器偏轉和掃描的方向是主掃描方向時，并且當垂直于所述主掃描方向的方向是副掃描方向時，所述第一方向是所述主掃描方向和所述副掃描方向中的一個。

3.如權利要求1或2所述的光學測量設備，

其中，所述光學元件至少在所述第一方向上具有第一主點和第一焦距，所述第一主點布置在與所述第一光源以所述第一焦距間隔開的第一位置處，并且

所述成像系統包括至少在所述第一方向上具有第二主點和第二焦距的第一成像元件，所述第二主點布置在與所述光電檢測器以所述第二焦距間隔開的第二位置處。

4.如權利要求3所述的光學測量設備，

其中，所述第一光源包括多個第二光源，來自相應第二光源的第二光束照射所述目標的不同區域，

所述成像系統包括在第二方向上具有第三主點和第三焦距的第二成像元件，所述第二方向與所述第一方向不同，并且

所述第二焦距與所述第三焦距不同。

5.如權利要求4所述的光學測量設備，

其中，所述第二主點布置在與所述光電檢測器以大于所述第二焦距的距離間隔開的第三位置處，并且

所述第三主點布置在與所述光電檢測器以所述第三焦距間隔開的第四位置處。

6.如權利要求1-5任一項所述的光學測量設備，

其中，當所述光學測量設備的最近檢測距離是最小檢測距離時，所述光電檢測器的第二共軛象的第五位置是與所述光學測量設備以最小檢測距離間隔開的點。

7.一種包括如權利要求1-6任一項所述的光學測量設備的運載工具。

8.如權利要求7所述的運載工具，

其中，所述光學測量設備的照射器向所述運載工具的外部照射光，

所述光電檢測器檢測所述光的反射光或散射光，并且

所述光學測量設備構造成根據被所述光電檢測器檢測到的信號而獲得來自所述運載工具外部的目標的信息。