[發明專利]影像感測模塊有效
| 申請號: | 201310331849.2 | 申請日: | 2010-10-14 |
| 公開(公告)號: | CN103425356A | 公開(公告)日: | 2013-12-04 |
| 發明(設計)人: | 蔡政男;呂俊毅;陳暉暄;賴鴻慶;彭元昱;蘇宗敏;林志新;林育佳;許登偉;林傳清 | 申請(專利權)人: | 原相科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G06F3/042 | 分類號: | G06F3/042 |
| 代理公司: | 北京潤平知識產權代理有限公司 11283 | 代理人: | 陳瀟瀟;肖冰濱 |
| 地址: | 中國臺灣新竹科學*** | 國省代碼: | 中國臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 影像 模塊 | ||
本申請是申請日為2010年10月14日、申請號為201010509439.9、發明名稱為“影像感測模塊”的中國發明專利申請的分案申請。
技術領域
本發明涉及一種可補償光學元件形變的影像感測模塊,特別涉及一種可針對工作溫度的變化所造成光學元件的形變進行補償的影像感測模塊。
背景技術
影像獲取技術普遍用于各式產品,包括光學觸控系統、距離量測系統或其他可利用所獲取的影像進行相對應處理的光學應用產品。
一般而言,影像感測模塊除了影像感測器,另外通常包括至少一個光學元件(Lens),用于引導外部光線順利地進入影像感測器的感光面。然而,影像感測模塊在工作時會因為系統運作或環境變化導致工作溫度改變。例如在光學觸控系統中,觸控屏幕在工作時會因為背光模塊的作動而導致工作溫度上升,因此設置在屏幕表面的影像感測模塊的工作溫度也會隨之上升,致使該影像感測模塊內部的光學元件因溫度上升而產生形變。
請參考圖1所示,其顯示了溫度變化影響影像感測模塊的示意圖。當影像感測模塊100的工作溫度變化時,影像感測模塊100的光學元件(圖未示)會產生形變,并造成影像感測模塊100的影像感測器的視角(Field?of?View,FOV)產生變化。
例如圖1中,影像感測模塊100在工作溫度20℃時的視角例如顯示為大三角形F1而在工作溫度70℃時的視角例如顯示為小三角形F2。如果此時一個物體O存在于如圖所示的一個固定位置時,影像感測模塊100在工作溫度20℃時可獲取第一影像P1,其包括物體影像O1;而在工作溫度70℃時可獲取第二影像P2,其包括物體影像O2。如圖所示,物體O在影像感測模塊100所獲取的第一影像P1和第二影像P2中的位置之間具有偏移。因此,當影像感測模塊100根據所獲取的物體影像O1、O2計算物體的坐標時,不同的工作溫度下會得到不同的坐標。
有鑒于此,本發明提出一種可消除或至少降低上述現有技術中因溫度變化所導致的形變問題的影像感測模塊。
發明內容
本發明的目的在于提供一種影像感測模塊,其可補償因工作溫度變化而導致其所獲取影像的誤差。
本發明提供一種影像感測模塊,該模塊包括影像感測元件和運算元件。所述影像感測元件包括多個像素,用于獲取包括物體影像的操作影像。所述運算元件存儲有溫度相關參數與所述物體影像所位于的各像素的位置偏移量的對照表,并根據獲取所述操作影像時相對的溫度相關參數,從所述對照表選擇變形誤差,以校正所述操作影像中所述物體影像的位置。
一種實施例中,所述影像感測模塊還包括溫度感測元件,該溫度感測元件用于檢測獲取所述操作影像時的工作溫度。
一種實施例中,所述溫度相關參數為工作溫度或所述物體影像所位于的多個像素中至少一個像素位置在不同溫度時與基準位置的差距。
本發明提供一種影像感測模塊,該模塊包括影像感測元件和運算元件。所述影像感測元件在第一時間獲取包括位于固定位置的參考標示的參考標示影像的背景影像,在第二時間獲取包括所述參考標示影像和物體影像的操作影像。所述運算元件根據所述背景影像產生所述參考標示的背景位置,根據所述操作影像產生所述參考標示的參考位置以及所述物體影像的檢測位置,并根據所述參考位置與所述背景位置的差距來修正所述檢測位置。
本發明提一種影像感測模塊,該模塊包括光學元件、影像感測元件、溫度感測元件以及運算元件。所述光學元件用于引導光線至所述影像感測元件。所述影像感測元件根據接收的光線產生操作影像。所述溫度感測元件用于檢測所述影像感測模塊的工作溫度。所述運算元件根據所述工作溫度來補償因該工作溫度變化所造成物體影像在所述操作影像的位置偏移。
本發明的影像感測模塊一種實施例中,所述對照表包括所述物體影像所位于的各像素位置在不同工作溫度時與基準溫度時的位置偏移量,或包括根據不同工作溫度時所述物體影像所位于的各像素的位置偏移量所求得的至少一個補償函數的系數。
本發明的影像感測模塊另一實施例中,所述對照表包括不同差距時所述物體影像所位于的各像素位置與基準位置的位置偏移量,或包括根據不同差距時所述物體影像所位于的各像素的位置偏移量所求得的至少一個補償函數的系數。
附圖說明
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